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单模光纤弯曲损耗的测量与分析2 K3 v3 \; A0 I3 y: M: P7 T8 E$ Y' t
郝素君, 游善红, 李晓东, 陈志勋4 k2 S; ~' c3 e
(上海交通大学光纤技术研究所“区域光纤通信网与新型光通信系统”国家重点实验室, 上海200030)+ H- T8 }. g$ t
[摘 要] 提供了弯曲半径从1. 7mm 到5. 8mm , 波长从1520nm 到1565nm 范围内单模光纤弯曲损耗的测试结, E+ t% p& _' Q: Y: }) D
果。观察到了弯曲损耗呈震荡变化, 随着弯曲半径的增加损耗减小, 振幅减小, 随着波长的增加损耗增加、振幅增大* M* b7 K* e. r8 T
的现象, 并利用光纤的耦合模理论对单模光纤弯曲损耗震荡进行了解释。
F& ^" ?) G/ X6 N [关键词] 光纤损耗; 耦合模理论; 测量 |
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