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[分享] 影像仪飞拍测量功能,大幅提升测量效率

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发表于 2023-8-21 13:29:39 | 显示全部楼层 |阅读模式 来自: 中国广东深圳

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目前BGA封装技术已广泛应用于半导体行业,相较于传统的TSOP封装,具有更小体积、更好的散热性能和电性能。
* ^* b: \. m* \" R7 l
4 ^3 R+ E3 Q1 c在BGA封装的植球工艺阶段,需要使用到特殊设计的模具,该模具的开窗口是基于所需的实际焊球大小和电路板焊盘尺寸考虑,模具的开窗口大小直接影响到锡球的尺寸,从而影响到最终的焊接效果:若孔径过小形成凹点,会使得芯片与连接它的其它部件之间的接触面积变小,导致信号传输不良、电气性能下降等问题;若孔径过大则会对焊盘产生压力,使锡浆不易流动形成缺陷。因此该模具在使用前需要经过高精度的检测,测量其开窗口大小是否合格,是否有脏污,每一个焊点的位置是否正确。
# i/ ~3 b& H6 j+ D. w  l- ]( j# i, Y8 ~" u3 [5 ?! C  q
传统的测量方式针对此类含有小特征多尺寸且无序排列的样品,在创建模板时需要逐个识别提取,消耗测量人员时间精力,整板自动测量时,测量移动次数多,测量过程耗时长,效率低下。
4 B; ~3 q0 I# H" H5 X中图仪器Novator系列全自动影像仪,针对此类大尺寸多特征的样品测量,有以下优势:9 @! x. J4 C/ p+ b& |7 ^
(1)单视场范围大,单视场内一次可完成约200个特征提取,无需多次移动;
7 l( G0 W* `5 }. \(2)自动取圆工具,针对无序排列特征,无需测量人员手动逐个特征提取,只需一键框选便可实现自动提取,并可自动标注直径,输出坐标位置;
7 |6 [6 y# ]7 i- o6 \! o$ L8 R(3)飞拍测量模式,在平台快速移动过程中就完成特征提取,使测量流程更流畅,测量时间更短。测量外形尺寸320mm×160mm,含有25920个圆的模具,仅需耗时5分钟,针对此类特征密集排布型工件,飞拍测量充分发挥其优势,对比传统影像测量仪,测2 c6 D7 Q/ ~$ i$ X9 p9 h
量时长由 1小时缩短至 5 分钟,测量效率提升 10 余倍,且测量精度无损失。2 C7 Z; T+ o1 K) ]
& p5 k/ M; B+ U8 w+ f, ^: j+ Q
Novator系列全自动影像仪,可有效提升模具测量效率,减少人力资源消耗,为半导体行业降本增效。Novator系列全自动影像仪创新推出的飞拍测量、图像拼接、环光独立升降、图像匹配、无接触3D扫描成像等功能,多方面满足客户测量需求,解决各行业尺寸测量难题。
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