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发表于 2008-3-30 16:47:32
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来自: 中国山西太原
没有定量的公式因为晶粒度是很难测量的,只能是说晶粒度越大(晶粒直径越小)衰减越小.
# Y. i9 M. y% l2 E! o$ {介质中的声强衰减与超声波的频率及介质的密度,晶粒粗细等因素有关.晶粒越粗或密度越小,衰减越快;频率越高;衰减也越快& a( M4 z8 } d; h, T+ r1 ?3 g
即0~1级(平均晶粒直径为0.35mm
{6 A: a& m q" X~0.25mm),2级(平均晶粒度直径为0.177mm),3~5级(平均晶粒直径为
7 s; `5 G, q: d. ~0.125mm~0.062mm),6~7级(平均晶粒度直径为0.044mm~0.031mm),8
! G" m; x& k2 a级(平均晶粒度直径为0.022mm).分别对0.5MHZ,1MHZ,2MHZ,4MHZ,
+ [8 `( ^8 w, Z# E) o: e. F* D1.25MHZ,2.5MHZ,5MHZ等7种频率进行了不检波超声底面反射波一次反射9 Y$ \) c0 G- K0 g+ M
B1,二次反射B2(相当于常规灵敏度下的测试结果记录),如图所示. + y6 S, t$ ~3 y' r# m
通过长期生产检验验证,我们可以观察到晶粒度与选用频率有直接关系.0~
: y& ?! |# K, U4 T7 j. W% G1级晶粒度只宜选用0.5MHZ频率,如使用1MHZ频率时,会产生一些探测清晰( q( X% R* n* w, A. a8 {
度的影响.2级晶粒度时宜选用1MHZ~1.25MHZ探测,使用2~2.5MHZ频率! H& X1 _; s1 d
时就会有明显影响.3~5级晶粒度时宜选用2~2.5MHZ频率探测,用4~5MHZ3 T3 z& Y. D0 w* k( Y8 N& b
时就有明显影响.6~8级晶粒度时方可选用4~5MHZ高频率进行探测.这就是
7 A S3 ^, n" `说,当产品探测灵敏度要求高时,就必须使用高频率探头,而使用高频探头,又
) B/ w. T% a- j+ o必须要求被检件晶粒度很细,才能达到检测目的.# {" Q8 z, I0 ]1 B; t
5 m6 i3 D! ?5 S[ 本帖最后由 tabu 于 2008-3-30 16:49 编辑 ] |
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