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20090305 X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知

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发表于 2009-2-16 19:18:50 | 显示全部楼层 |阅读模式 来自: 中国北京

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X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知

" s3 ^' [/ F# [! k$ f
讲座时间:2009年3月5日9:30-11:30;

6 J# U6 P: t7 k6 L% h4 k
讲座地点:首都师范大学国际文化交流大厦第9会议室,北京市西三环北路83号(西三环路西,紫竹桥与花园桥之间);
, _# E2 u, d% o! J0 W
主 讲 人:Joseph N. Gray博士,美国Iowa 州立大学无损检测中心研究员,Iowa 州立大学机械学院教授;

8 a8 E# P+ ^" X7 j" H( H
主要内容:XRSIM射线无损检测模拟软件的技术原理及应用,以及美国Iowa州立大学无损检测中心研制其他无损检测技术模拟软件介绍;
. L' A! |+ ]- N: M0 z! R
主办单位:首都师范大学、全国无损检测学会新技术委员会、北京维泰凯信新技术有限公司;

, L  c8 O2 K- v# _% ^* @* O' g附件:XRSIM介绍及Joseph N. Gray简历8 \0 p: B  p/ D; y' A* Q
(讲座不收费,食宿交通费用自理)
  M. p  |3 _4 \3 l. H
请于2009年3月3日下午5点前反馈回执或电话报名。
/ A" ?. Y) ^& B
联 系 人:李晓丽
- x) W- i4 _0 ]/ N! }* W4 H段玉霞
' Z6 M) e, Y1 R7 L" F- {赵石彬
8 k0 L  T& o. x5 W+ i2 D
联系电话:010-68902940,010-82317426,13240794567
. R% S8 G! @0 S+ t

+ G' m' K2 @* Y( t" b4 p4 ^真:010-68980976/ [( R. w8 i: ~$ M$ ?' y

* d% f$ T7 J1 ~3 T0 l: Q
邮箱地址:lixiaoli.127@163.com

0 @5 c: f% u! P: D7 [7 a
/ N+ d! K( v2 S+ u( _' v! D) \
会 议 回 执
& p) I, N: Q+ {: D( ^4 ~
单位名称:

# o. e+ q" J) o, X0 r+ o! B
姓名

$ d8 K, H2 S  n8 w
职务

' B) b% Q) F! d; B) b
联系电话(手机)

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( q( s- w& ]2 z* I
  i; w9 H$ y) f* E# _0 O. s

  j. {1 E! n7 P/ J; _! c
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# g$ n/ B) V/ i1 z
  p8 r3 l# ^6 a6 ^) v
* ~8 ?: F; _0 d1 M* l- R4 q
请回复至:
4 x. {1 _& q6 K# n$ [$ u! a- J$ P2 j' ilixiaoli.127@163.com
1 ~/ C/ J/ \# N$ a6 \# c$ }9 ^+ h
联系人:李晓丽
/ B: g: G. ]: v2 ]& X& l- ]电话:689029401 \) S& Z. X' T' B
传真:68980976
) _+ Z  B+ @, |: R

X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知.pdf

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 楼主| 发表于 2009-2-17 10:06:35 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

通知附件:X射线检测模拟软件(XRSIM)介绍

X射线检测模拟软件(XRSIM)介绍
  k" }: ]% M* [" a; {6 t6 oXRSIM是由美国Iowa州立大学无损检测中心开发的X射线无损检测模拟软件。软件从研制到应用、再逐步改进,已前后经历时23年。其用户包括美国Los Alamos国家实验室、Sandia国家实验室、NASA、美国国家科学基金会、美国诺尔原子能实验室,美国陆军、空军及其它国防工业部门;跨国大公司有如美国铝业,达信航空航天,劳斯莱斯,普拉特惠特尼、波音、Cessna、ATK公司等,以及荷兰、韩国、印度、比利时等国家的实验室、科研院所、无损检测教学单位及相关企业。
$ A4 R7 K. ?7 d0 Q' KXRSIM模拟软件是基于X射线传输和衰减的物理规律,通过读取CAD文件获取工件的三维信息,在不需要真实工件的情况下模拟出X射线检测结果,得到X射线模拟图像。XRSIM软件从射线源到探测器的每个部分的图像链都可以调整,可以设置的参数有:+ m# [9 d4 R: U# w
1、工件相关的参数。例如,材料、形状、大小和放置位置及角度。: k$ T4 M7 E# u. {, q4 I# o9 e
2、缺陷相关的参数。例如,类型、形状、大小和在工件中的位置。
/ x, f' s6 f! y, n# L  m3、设备相关的参数。例如,射线机的类型、探测器(或胶片)类型等。
1 X" q9 {* i5 h4、设备设置参数。例如,电压、电流,曝光时间、散射角度等。& ^( @) N! M  R( b
5、        环境因素。例如噪声。% `5 B, f, ]6 t" T% q0 K: [! V
参数的选择和设定直接影响到X射线的成像质量和检测结果。在实际X射线检测中,从准备实验到获得结果一般需要较长的时间,当研究某一参数对成像质量的影响时,需反复调整参数,导致耗时、耗力、耗能、耗材。特别是对复杂、笨重的试制产品这些问题尤为突出。使用XRSIM模拟软件可以模拟真实检测过程,轻松调整并获取最佳的实验参数,从而得到优化的检测方案,大大缩短研发周期,降低设备、耗材、人员、时间等成本。
' k' K* }$ i8 X6 Z* \* m. uXRSIM软件能使无损检测教学和培训更加生动、贴近工程实际,帮助学生理解原理,提高解决实际问题的能力。应用XRSIM软件进行教学实验模拟演示,能减少实验室在建设、安全防护以及设备维护等相关费用,提高教学质量、改善教学效果,降低办学成本。' `4 X; i3 ]/ Y

3 n; i. |8 Z& a2 g/ ?0 L; w) Y# m  B
Joseph N. Gray
0 z) |; o! f2 R. ]
3 A: O7 g( Z* i2 f9 _: }' ^0 T2 n
+ h: t0 _) L& ~0 Z4 u: bJoseph N. Gray,美国Iowa 州立大学无损检测中心研究员,机械学院兼职副教授。自1986年在无损检测中心工作。Gray先生1985年获得Michigan大学的物理学博士学位,1980年获得Pennsylvania州立大学硕士学位,1977年获得Colorado大学物理学和数学双学士学位。主要研究方向是X射线技术。主要从事计算机模拟X射线探测、XRSIM软件和CTSIM软件的能量大小的敏感性测量、实时探测方法、新X射线探测器和图像处理技术的研究。Gray博士在X射线和中子无损检测方面发表了七十多篇技术著作。另外在高分辨三维层析和三维可视化工具、材料表征的高等X射线衍射和折射技术有一定的研究。
 楼主| 发表于 2009-2-18 14:35:27 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

相关背景:美国Iowa州立大学无损检测中心

相关背景:美国Iowa州立大学无损检测中心# W' r0 A5 Q$ t) y! f
美国Iowa州立大学无损检测中心/ p7 |. O* Y: Q+ `8 m. |8 M
http://www.ndt-ed.org/index_flash.htm
 楼主| 发表于 2009-2-24 11:12:27 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

背景知识:软件介绍

背景知识:软件介绍
% v; U4 q$ |- t8 T软件介绍:
4 M. f; ?- s- |6 f http://www.ndetechnologies.com/index.html
 楼主| 发表于 2009-2-27 20:40:11 | 显示全部楼层 来自: 中国北京
用户手册目录

页面提取自- XRSIM_Manual499用户手册.pdf

121.11 KB, 下载次数: 5

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