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20090305 X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知

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发表于 2009-2-16 19:18:50 | 显示全部楼层 |阅读模式 来自: 中国北京

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X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知
4 D; H  A2 O2 b3 S; }' q4 Z
讲座时间:2009年3月5日9:30-11:30;

$ L: I! m* ?8 u/ w( x
讲座地点:首都师范大学国际文化交流大厦第9会议室,北京市西三环北路83号(西三环路西,紫竹桥与花园桥之间);

9 m# z# E- n* z- D4 [
主 讲 人:Joseph N. Gray博士,美国Iowa 州立大学无损检测中心研究员,Iowa 州立大学机械学院教授;
1 f1 ^8 A. x6 J" S, E
主要内容:XRSIM射线无损检测模拟软件的技术原理及应用,以及美国Iowa州立大学无损检测中心研制其他无损检测技术模拟软件介绍;

4 N' Y4 y0 o% N/ t/ f* u
主办单位:首都师范大学、全国无损检测学会新技术委员会、北京维泰凯信新技术有限公司;

6 ~5 `- W- \' K$ z( f" P8 {附件:XRSIM介绍及Joseph N. Gray简历- w6 c* r, e1 ]% l. k
(讲座不收费,食宿交通费用自理)0 x& _- ]# t* R/ c" ]% M4 r/ L8 ]
请于2009年3月3日下午5点前反馈回执或电话报名。

5 Y3 [) B3 q& d) s
联 系 人:李晓丽0 @) @) o3 l+ Q" x
段玉霞6 Q) \# ]/ [. ]3 K# o
赵石彬
3 W0 p8 Q; q# Z7 e# L8 e
联系电话:010-68902940,010-82317426,13240794567

4 V& A( y& \; M0 X# m! O

4 Z5 n" n- z( R2 I$ d真:010-68980976+ r) Z6 n4 ~, T! M5 ~) K4 C# m
6 t5 N8 A4 e. \1 J0 v5 |; F
邮箱地址:lixiaoli.127@163.com
4 l' U, o* _& \; K( T, c, [
- K3 d1 ^: p& W  M. q
会 议 回 执

; ]8 Y0 d$ F$ J! K# S: ^  Q* T
单位名称:

$ t( S0 }0 Y  E( B6 F1 f2 T4 E
姓名
' R: s" R! T$ C/ `$ j" X, G
职务
6 k+ J+ P, R: R$ y' s* K) z
联系电话(手机)

9 U3 C( K' X+ i: q1 {$ B
  a+ \9 B6 M: d# Z) m
3 P6 `% B! `6 r. Y0 z1 w
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0 D) a. w; q" C8 n! V* c0 t! W8 b" i

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  Z* F" Y6 }) E7 E. e0 l

" {+ a: k$ W7 p+ l' A1 \% F
1 B2 j( ^" w0 R7 I  A
请回复至:
0 ?/ z. ?6 R  X  Z+ E* ?lixiaoli.127@163.com
( \; ^8 r+ U( U/ P, ^% C# q' P+ ]
联系人:李晓丽
$ L8 I* j" @. R& K电话:68902940
- c: v2 c1 I6 l! _% T; ~; D! J传真:68980976

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X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知.pdf

13.27 KB, 下载次数: 4

 楼主| 发表于 2009-2-17 10:06:35 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

通知附件:X射线检测模拟软件(XRSIM)介绍

X射线检测模拟软件(XRSIM)介绍$ T" B( Q% P9 [7 x. o8 Z
XRSIM是由美国Iowa州立大学无损检测中心开发的X射线无损检测模拟软件。软件从研制到应用、再逐步改进,已前后经历时23年。其用户包括美国Los Alamos国家实验室、Sandia国家实验室、NASA、美国国家科学基金会、美国诺尔原子能实验室,美国陆军、空军及其它国防工业部门;跨国大公司有如美国铝业,达信航空航天,劳斯莱斯,普拉特惠特尼、波音、Cessna、ATK公司等,以及荷兰、韩国、印度、比利时等国家的实验室、科研院所、无损检测教学单位及相关企业。5 r0 q0 D+ q% A$ [! o" B9 A
XRSIM模拟软件是基于X射线传输和衰减的物理规律,通过读取CAD文件获取工件的三维信息,在不需要真实工件的情况下模拟出X射线检测结果,得到X射线模拟图像。XRSIM软件从射线源到探测器的每个部分的图像链都可以调整,可以设置的参数有:
( R/ I, `: i; ]% Y) C  @9 ^4 G1、工件相关的参数。例如,材料、形状、大小和放置位置及角度。. J  v4 S8 e: k! k; o/ I) p
2、缺陷相关的参数。例如,类型、形状、大小和在工件中的位置。
  `% b! W, {9 e- A- x- s$ W5 w* a3、设备相关的参数。例如,射线机的类型、探测器(或胶片)类型等。
( F# [. C6 K5 a/ ?% M6 r4、设备设置参数。例如,电压、电流,曝光时间、散射角度等。& |8 A% e0 w9 r- |( B0 O
5、        环境因素。例如噪声。
$ j% a3 I, z+ g, |) S9 N( Y; b参数的选择和设定直接影响到X射线的成像质量和检测结果。在实际X射线检测中,从准备实验到获得结果一般需要较长的时间,当研究某一参数对成像质量的影响时,需反复调整参数,导致耗时、耗力、耗能、耗材。特别是对复杂、笨重的试制产品这些问题尤为突出。使用XRSIM模拟软件可以模拟真实检测过程,轻松调整并获取最佳的实验参数,从而得到优化的检测方案,大大缩短研发周期,降低设备、耗材、人员、时间等成本。
+ f! E9 y+ L6 b5 g" wXRSIM软件能使无损检测教学和培训更加生动、贴近工程实际,帮助学生理解原理,提高解决实际问题的能力。应用XRSIM软件进行教学实验模拟演示,能减少实验室在建设、安全防护以及设备维护等相关费用,提高教学质量、改善教学效果,降低办学成本。
0 D% }! v; O- H/ Y! b& [9 ] , l( ?, y9 A! U& Z% Q6 f
0 C; f. g. {" n9 k( Z! F% h
Joseph N. Gray
8 B2 C+ e9 V; O3 _- o0 N' E  L' e6 q 1 L2 q, e: p5 x/ r! @% ^2 p  e

2 _. p8 b0 y. u; p  x7 nJoseph N. Gray,美国Iowa 州立大学无损检测中心研究员,机械学院兼职副教授。自1986年在无损检测中心工作。Gray先生1985年获得Michigan大学的物理学博士学位,1980年获得Pennsylvania州立大学硕士学位,1977年获得Colorado大学物理学和数学双学士学位。主要研究方向是X射线技术。主要从事计算机模拟X射线探测、XRSIM软件和CTSIM软件的能量大小的敏感性测量、实时探测方法、新X射线探测器和图像处理技术的研究。Gray博士在X射线和中子无损检测方面发表了七十多篇技术著作。另外在高分辨三维层析和三维可视化工具、材料表征的高等X射线衍射和折射技术有一定的研究。
 楼主| 发表于 2009-2-18 14:35:27 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

相关背景:美国Iowa州立大学无损检测中心

相关背景:美国Iowa州立大学无损检测中心' @5 v3 R) B2 @5 a5 ^& F1 t
美国Iowa州立大学无损检测中心% O+ P3 I$ T! b! J3 |0 L
http://www.ndt-ed.org/index_flash.htm
 楼主| 发表于 2009-2-24 11:12:27 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

背景知识:软件介绍

背景知识:软件介绍5 Q* [7 ^4 i# z/ g
软件介绍:. x5 j0 i8 ~" Q& z0 V( c
http://www.ndetechnologies.com/index.html
 楼主| 发表于 2009-2-27 20:40:11 | 显示全部楼层 来自: 中国北京
用户手册目录

页面提取自- XRSIM_Manual499用户手册.pdf

121.11 KB, 下载次数: 5

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