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X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知
" s3 ^' [/ F# [! k$ f讲座时间:2009年3月5日9:30-11:30;
6 J# U6 P: t7 k6 L% h4 k讲座地点:首都师范大学国际文化交流大厦第9会议室,北京市西三环北路83号(西三环路西,紫竹桥与花园桥之间); , _# E2 u, d% o! J0 W
主 讲 人:Joseph N. Gray博士,美国Iowa 州立大学无损检测中心研究员,Iowa 州立大学机械学院教授;
8 a8 E# P+ ^" X7 j" H( H主要内容:XRSIM射线无损检测模拟软件的技术原理及应用,以及美国Iowa州立大学无损检测中心研制其他无损检测技术模拟软件介绍; . L' A! |+ ]- N: M0 z! R
主办单位:首都师范大学、全国无损检测学会新技术委员会、北京维泰凯信新技术有限公司;
, L c8 O2 K- v# _% ^* @* O' g附件:XRSIM介绍及Joseph N. Gray简历8 \0 p: B p/ D; y' A* Q
(讲座不收费,食宿交通费用自理)
M. p |3 _4 \3 l. H请于2009年3月3日下午5点前反馈回执或电话报名。 / A" ?. Y) ^& B
联 系 人:李晓丽
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联系电话:010-68902940,010-82317426,13240794567 . R% S8 G! @0 S+ t
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+ G' m' K2 @* Y( t" b4 p4 ^真:010-68980976/ [( R. w8 i: ~$ M$ ?' y
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会 议 回 执 & p) I, N: Q+ {: D( ^4 ~
单位名称:
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联系人:李晓丽
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传真:68980976 ) _+ Z B+ @, |: R
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