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发表于 2011-11-14 16:03:18
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来自： 中国黑龙江哈尔滨
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衣晓红，樊占国，张景垒，李凤华 |: @9 B( a' m5 S5 C$ e# n. t
(东北大学。辽宁沈阳ll0004) M0 H; r& {! D, I; @3 ?
摘要：采用固体粉末渗硼法对TC4钛合金基体表面进行渗硼试验。通过扫描电镜(SEM)、能谱(EDS)与X射线衍射4 ]% y/ r, q) T8 }
(xRD)研究TC4钛合金渗硼后的物相组成和组织形貌，讨论渗硼过程中元素的扩散行为。结果表明：在lOOO，1050和1 l9 T# ^1 J# e* M
lloo℃分别保温5，20 h后，渗层由外表层的TiB2和内表层的TiB晶须组成，渗层厚度范围为0．8～15岬。XRD分析
1 Y+ w! }& M! u/ |9 H( o表明：TC4钛合金渗硼后形成TiB2与TiB双相硼钛化合物层，随着温度的升高，TiB2与TiB的峰位增多；EDS分析得
2 H. j+ g5 v" ~8 \) }出表层B原子被TC4钛合金吸附后与基体的Ti化合导致过渡区域内的Ti含量减少，同时Al和v元素开始向基体扩散, {1 J' \6 c5 b7 w/ X) e: F
并在近界面处富集。渗层的显微硬度呈梯度分布，TiB2到TiB晶须维氏硬度值的变化范围为22 000～11 000 MPa，过渡
$ \4 c( M0 P5 T, @4 K区的硬度值要高于基体的硬度值。
i. @+ x" L1 x# t关键词：固体渗硼；TC4钛合金；显微硬度；组成；硼钛化合物： |
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