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[分享] 提高含B钢奥氏体晶粒显示效果

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发表于 2006-12-18 12:15:27 | 显示全部楼层 |阅读模式 来自: 中国河北石家庄

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正文见压缩附件,是一个word文档, m# E# z4 s! z# V, N( T
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[ 本帖最后由 legend21 于 2006-12-18 12:19 编辑 ]
 楼主| 发表于 2006-12-18 12:17:24 | 显示全部楼层 来自: 中国河北石家庄
提高含B钢奥氏体晶粒显示效果
- ^- p# I/ K/ @0 y6 N# N3 y/ W6 p9 M7 }4 H. b
课题名称:提高含B钢奥氏体晶粒显示效果$ o5 I9 N9 c* t1 A7 g  G. }2 [$ Q
# ]  e( C# i* E6 Q
二、选题理由1 b! D; K, ]" T, S* n
通常奥氏体晶粒的显示方法有渗碳法、氧化法,这两种方法各有特点,但都有一个共同的缺陷,就是不能使检验面完全显示为奥氏体晶粒。如图1(渗碳法试样表层的奥氏体晶粒形貌),图2(氧化法试样表面含有氧化铁皮的奥氏体晶粒形貌)。对于没有混晶出现的情况,上述二法可满足检验要求,但对于观察奥氏体晶粒异常长大的情况,上述两种方法就有些难以满足要求了。为此我们需要找到一种制样过程尽量简单,腐蚀后样品表面可观测区域更大的方法——直接淬火法来显示含B钢的奥氏体晶粒。之所以选含B钢,是因为在以往的试验中发现含B钢多有晶粒长大情况,且腐蚀效果不理想。+ L4 q! \' H/ I+ s3 j6 l9 K
    * ^3 `1 _# a/ Q& D: \
图1                                      图2  E" U& K8 K9 |" F1 k# W1 L& y
三、现状调查
7 Q" j3 |* v2 K& u% v2 j/ C0 {(1)渗碳法显示奥氏体晶粒可观察区域小,纵向深度只能显示3~4层晶粒,且背景杂乱不利于观测晶粒,不能用来显示有晶粒长大的情况,且渗碳法工艺周期长(14h),占用资源大。氧化法显示奥氏体晶粒只限于表层极薄的一层,制样难度大,试样表面经常伴有没有磨掉的表面氧化层,使有效显示面积减少,经测定有效显示面积最多为50%。
4 \8 T( ]: g5 g(2)以16CrMnBH为例尝试采用新方法共检验奥氏体晶粒度炉数13炉,晶粒度试验样共65支。制样合格达到可观测程度试样22支,试验成功率约为33%。 % a4 P. h) T% ^7 p$ n
四、活动目标
, W8 U6 k" p, U熟练应用新的显示奥氏体晶粒的办法,使奥氏体晶界清晰显示区域比率达到90%以上,使制样成功率达100%。
! w( u, v. S# A# b9 ?
$ R1 q! U! J+ d& D4 C: P
7 y& f. f: k- Z8 e" x! N& U, g9 r" r
, O2 B$ q- s& e* ]( u* W( _" Q3 x
五、原因分析:
8 f, P; }1 G: J) s根据最初应用直接淬火法制备16CrMnBH的失败例子,小组成员从人、法、环、物四个方面进行失败分析,共分出末端原因6条。见下图:
; Q- s, f7 K: P. e5 B% p! {6 p, a& r2 @2 z( {% Y" J, i, h+ u( S
: X' {* ^1 Z9 l+ V( _7 k% A8 y1 e

. r. c; W: u" d+ q: B9 d2 K; T; u5 x& s/ {$ P6 E( m3 j
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$ r6 o# e5 K5 k/ w) }6 }
六、要因确认* n$ ^6 x, L# z0 f' n$ ]
对影响奥氏体晶粒显示原因进行要因确认(见表2)( p+ E" s( ~( P* |
表2  要因确认表/ y* m3 O( ^$ K/ O) h
序号        原因        分析确认        结论
; g3 f6 Q$ _! y* @* O2 J1        B在钢中的作用        同等热处理条件下对刚才组织起主要作用的是碳元素,B起增大淬透性作用。        否: _/ s) z% W% @. K% w! B: P$ P( O" H
2        缺乏合适腐蚀剂        腐蚀剂的选择腐蚀作用很关键        是2 a# L, `+ I# z& b
3        试样热处理温度低        组织中出现铁素体,不能完全展示奥氏体晶粒形貌        是" R0 A. v2 b9 c* C$ D( j
4        淬火冷速不够快        淬火组织中混有较多的贝氏体        是. x' n; k6 Z' S, Q. ?6 s; l* u* C0 Z
5        环境温度低        降低腐蚀剂的浓度和活度        否1 ~5 b0 [1 ]& k6 ]5 l7 r" j
6        人员对各个环节的熟练掌握不同        腐蚀程度的深浅直接影响晶粒大小的评定        是1 k: M; ^! }- M6 k

8 o0 D1 H8 B; `( q4 i7 w七、制定对策: V  h; c* m9 g+ ]$ H
表2中共有4条原因是影响奥氏体晶粒显示的主要原因,小组通过分析、讨论,制定了相应对策(见表3)
; K, d& ?5 t" c5 K) e表3 对策措施表1 q0 n9 |, q1 Y5 k; U" u
序号        主要原因        对策        措施        目标
1 G2 g. f+ h4 t6 S8 k1        试样热处理温度低        提高淬火温度        提高温度于观测组织结合        使淬火组织完全奥氏体化
! k2 k4 s, G5 |5 C2        淬火冷速不够快        配制淬火烈度大的介质        配置淬火介质盐溶液        使淬火更充分
: D8 M# r9 C0 v2 r* a: H. I# g3        缺乏合适的腐蚀剂        配置合适腐蚀剂        饱和苦味酸配以抑止剂        腐蚀后内部组织不显现,晶界清晰显示
7 k( s  c: `" H: A: q, |/ n/ S4        人员对腐蚀程度把握不准        多练习,多总结        人人参与,互相交流        准确把握腐蚀火候" M1 d, r; X# f; V# c1 S
7 p* B% s& a* D! G' Q
八、对策实施:
+ K2 x" X0 {* m" |7 h8 J  l/ V实施1:提高淬火温度$ a0 f1 o$ p; H6 T) p9 |4 \
从以往所做的奥氏体晶粒试样中我们注意到,有些样子腐蚀后组织显得的很混乱,经硝酸酒精腐蚀后发现试样中还存有大量的未溶铁素体,如图3。这就说明试样在热处理时没有完全奥氏体化。为此我们将几个炉次的钢(16CrMnBH)热处理温度每次提高10度做了几批实验,结果表明当淬火温度在原基础上提高30度,便可将所有的试样完全奥氏体化。# ?9 G" p2 ]4 B- Z, X! N8 _
实施2:配置淬火烈度大的介质
8 o! ?$ [- Q+ h- I7 u直接淬火法要求组织全部淬成马氏体,当淬火能力不足时,便容易出现一些非马氏体组织,会造成晶粒细化的假相,严重干扰晶粒的评。16CrMnBH中由于B元素的影响淬火冷速不够会容易生成一部分贝氏体,见图4。为增大冷速我们特配置10%的盐水溶液,经多次实验采用盐水溶液做冷却介质后,试样都能淬成马氏体。为直接淬火法提供了合乎要求样子。$ }; n3 k3 V0 ?; a- Z- P* X
实施3:配置合适的腐蚀剂
2 p. m" G5 Q; |+ T直接淬火法采用饱和苦味酸溶液加适量抑止剂为腐蚀剂,如果抑止剂加入量不当则会把晶粒内部的组织也会腐蚀出来。首先配置饱和苦味酸溶液,将粉末状苦味酸直接放入水中,用酒精灯对其加热,当溶液上方出现水雾并且仍有少量的粉末苦味酸不能溶解时,此时溶液达到饱和。这时可以按照苦味酸饱和液溶液与抑止剂体积比约为10:3的比例加入抑止剂,腐蚀液便配置成功。我们采用白猫牌洗涤剂做抑止剂。- e- a" Y8 ~$ _( C( n, E7 @

7 R- ~: Q/ w6 I; r6 q      
: J9 R! M6 `  W) F图3                         图4) b1 G, z& \1 S+ e. }
实施4:多练习,多总结$ P0 h2 S. K: y4 n
直接淬火法腐蚀试样时采用热蚀法,就是将腐蚀液加热,既能保证腐蚀液的饱和度,又能提高溶液的活度,可使腐蚀时间大大缩短。使试样一直保持受侵蚀状态,直到受腐蚀面上面均匀覆盖一层类似浅灰色覆盖物时,试样腐蚀达到理想状态。我们在大量的实践中不断积累经验,互相交流心得,现在我组人员已能全部独立操作。: X! Q; \' T9 Y) W; U" n- o, Y
九、效果检查+ a( @) @+ x+ N) L* r
自成功应用直接淬火法显示奥氏体晶粒以来,我们陆续又运用这种方法检验了8炉16CrMnBH的奥氏体晶粒度试样。每只试样的腐蚀面均完全清晰显露出奥氏体晶界,从而制样成功率达到100%
 楼主| 发表于 2006-12-18 12:25:08 | 显示全部楼层 来自: 中国河北石家庄
我暂时不会上传附件,等我会弄了给大家补上
发表于 2006-12-18 12:38:40 | 显示全部楼层 来自: 新加坡
文件上传规定、奖励标准及上传教程3 a! c* P+ y) B, t! n
# R$ h9 F, P3 n9 [4 d
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