过程能力指数问题求助!

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在计算过程能力指数时,无非就是有偏移和无偏移两种情况,有偏移就计算Cpk,无偏移就计算Cp,为何却有的两者都计算?
0 J" {% t( B, i& t4 S. p" k% ~$ {谢谢!

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CP: 不考虑偏移(均值是规格中心值)时的短期过程能力指数
CPK:考虑偏移(均值不是规格中心值)时的短期过程能力指数
应该这样讲：
1）Cp和Cpk都要计算，不管过程有没有偏移
2）Cp反映的是能够达到的过程能力的最高水平，除非进行剔除普通原因的系统措施
3）Cpk反映实际的过程能力，提高的途径是减少偏移，往往是采取一些剔除特殊原因的局部措施即可提高Cpk值
4）当分布中心与公差中心重合时，Cp=Cpk,而不是说工序能力指数记为Cp,
, `2 y' `' `" N' @" U5）所以两者都要计算，都有各自用途，要结合着进行分析。说计算Cp没用的也说法是不对的

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意思是Cpk愈接近Cp愈好，剔除的普通原因到包含哪些方面

gxmhy

普通原因：指的是造成随着时间推移具有稳定的且可重复的分布过程中的许多变差的原因，我们称之为：“处于统计控制状态”、“受统计控制”，或有时简称“受控”，只有变差的普通原因存在且不改变时，过程的输出才可以预测。
特殊原因：指的是造成不是始终作用于过程的变差的原因，即当它们出现时将造成整个过程的分布改变。除非所有的特殊原因都被查找出来并且采取了措施，否则它们将继续用不可预测的方式来影响过程的输出。如果系统内存在变差的特殊原因，随时间的推移，过程的输出将不稳定。
. a6 @0 D4 r- Z6 X如果过程仅存在变差的普通原因，随着时间的推移，过程的输出形成一个稳定的分布并可预测．
如果过程存在变差的特殊原因，随着时间的推移，过程的输出不稳定