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发表于 2008-3-30 16:47:32
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来自: 中国山西太原
没有定量的公式因为晶粒度是很难测量的,只能是说晶粒度越大(晶粒直径越小)衰减越小.
1 k+ e$ H0 J8 J' V, c介质中的声强衰减与超声波的频率及介质的密度,晶粒粗细等因素有关.晶粒越粗或密度越小,衰减越快;频率越高;衰减也越快
% n# Q( @9 p* n- ~( d即0~1级(平均晶粒直径为0.35mm # J- B, `7 V2 n; S& f" t" z5 R
~0.25mm),2级(平均晶粒度直径为0.177mm),3~5级(平均晶粒直径为* }( U8 C2 M; C7 `& L/ x
0.125mm~0.062mm),6~7级(平均晶粒度直径为0.044mm~0.031mm),8
! A8 w: {# _% }0 d8 f+ `4 d1 Q# K级(平均晶粒度直径为0.022mm).分别对0.5MHZ,1MHZ,2MHZ,4MHZ,
. n8 J8 O5 h0 q4 g6 L1.25MHZ,2.5MHZ,5MHZ等7种频率进行了不检波超声底面反射波一次反射
* `- @9 [+ f) Z0 ~1 oB1,二次反射B2(相当于常规灵敏度下的测试结果记录),如图所示.
! h9 V$ R3 m( m6 Q( {通过长期生产检验验证,我们可以观察到晶粒度与选用频率有直接关系.0~" T# [" F( E! U' N6 X3 x9 E
1级晶粒度只宜选用0.5MHZ频率,如使用1MHZ频率时,会产生一些探测清晰 e! Y8 B% B- v8 u7 p, C9 e" l) ?/ h
度的影响.2级晶粒度时宜选用1MHZ~1.25MHZ探测,使用2~2.5MHZ频率1 C4 _9 Z. g9 r
时就会有明显影响.3~5级晶粒度时宜选用2~2.5MHZ频率探测,用4~5MHZ) f; l S3 ^' h( R3 p/ m. `- D
时就有明显影响.6~8级晶粒度时方可选用4~5MHZ高频率进行探测.这就是3 H9 z: E! v& N1 D9 q1 R8 b) n
说,当产品探测灵敏度要求高时,就必须使用高频率探头,而使用高频探头,又
/ S3 S- |! s- X* I) N2 s( k0 G4 h, h必须要求被检件晶粒度很细,才能达到检测目的.+ _+ l o+ d: d6 p9 }
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[ 本帖最后由 tabu 于 2008-3-30 16:49 编辑 ] |
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