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X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知
3 R7 _: I0 B+ W/ o X, [0 p: W$ g5 F讲座时间:2009年3月5日9:30-11:30; 1 J3 n" \5 A0 f1 ?1 V: q
讲座地点:首都师范大学国际文化交流大厦第9会议室,北京市西三环北路83号(西三环路西,紫竹桥与花园桥之间); % e0 i: Z0 N; g P1 U
主 讲 人:Joseph N. Gray博士,美国Iowa 州立大学无损检测中心研究员,Iowa 州立大学机械学院教授; 0 r, N6 n+ P2 ^! t1 T& W
主要内容:XRSIM射线无损检测模拟软件的技术原理及应用,以及美国Iowa州立大学无损检测中心研制其他无损检测技术模拟软件介绍;
: e$ b ^3 p6 ?5 r主办单位:首都师范大学、全国无损检测学会新技术委员会、北京维泰凯信新技术有限公司; + Q0 k& b/ H2 {) J, S, V' h
附件:XRSIM介绍及Joseph N. Gray简历
9 b1 U0 c& u& @(讲座不收费,食宿交通费用自理)
; O6 Q9 X/ i* K. A7 [ c请于2009年3月3日下午5点前反馈回执或电话报名。
: h2 s7 ]+ U$ z联 系 人:李晓丽
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% x6 H9 ~& W& I$ F8 L/ p赵石彬 8 t# }: ?/ f3 A6 q; i
联系电话:010-68902940,010-82317426,13240794567
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4 D& N4 R" O% C+ \ H& o, C真:010-68980976% a3 ?% Z% \: @4 ~7 H
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联系人:李晓丽9 Y3 f$ w8 x1 G7 I8 m) W
电话:68902940! k0 P$ t8 `, d
传真:68980976
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