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20090305 X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知

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发表于 2009-2-16 19:18:50 | 显示全部楼层 |阅读模式 来自: 中国北京

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X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知

3 R7 _: I0 B+ W/ o  X, [0 p: W$ g5 F
讲座时间:2009年3月5日9:30-11:30;
1 J3 n" \5 A0 f1 ?1 V: q
讲座地点:首都师范大学国际文化交流大厦第9会议室,北京市西三环北路83号(西三环路西,紫竹桥与花园桥之间);
% e0 i: Z0 N; g  P1 U
主 讲 人:Joseph N. Gray博士,美国Iowa 州立大学无损检测中心研究员,Iowa 州立大学机械学院教授;
0 r, N6 n+ P2 ^! t1 T& W
主要内容:XRSIM射线无损检测模拟软件的技术原理及应用,以及美国Iowa州立大学无损检测中心研制其他无损检测技术模拟软件介绍;

: e$ b  ^3 p6 ?5 r
主办单位:首都师范大学、全国无损检测学会新技术委员会、北京维泰凯信新技术有限公司;
+ Q0 k& b/ H2 {) J, S, V' h
附件:XRSIM介绍及Joseph N. Gray简历
9 b1 U0 c& u& @(讲座不收费,食宿交通费用自理)
; O6 Q9 X/ i* K. A7 [  c
请于2009年3月3日下午5点前反馈回执或电话报名。

: h2 s7 ]+ U$ z
联 系 人:李晓丽
8 q& W2 z6 Y: [" n8 f& u' t9 O段玉霞
% x6 H9 ~& W& I$ F8 L/ p赵石彬
8 t# }: ?/ f3 A6 q; i
联系电话:010-68902940,010-82317426,13240794567

4 N" W8 @4 E6 y6 o, P

4 D& N4 R" O% C+ \  H& o, C真:010-68980976% a3 ?% Z% \: @4 ~7 H

9 D8 J- Z0 |( K( X5 z; X* h& j  Q
邮箱地址:lixiaoli.127@163.com
! J) O5 Q" P, R  B3 v2 P

5 _0 N( z" k. Q2 v8 j6 C
会 议 回 执

6 {9 I' W0 ]" @( ?9 S
单位名称:
% \2 C- a: ^  d" _1 O! ?# ~9 L. ^5 X% K
姓名

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职务

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联系电话(手机)
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7 g- r" H  A: F0 j, T4 X& r6 Z# b
请回复至:4 @5 [( S% E1 J- K3 l0 @) A
lixiaoli.127@163.com
* N% [2 k4 O6 c# h& `1 Y8 K
联系人:李晓丽9 Y3 f$ w8 x1 G7 I8 m) W
电话:68902940! k0 P$ t8 `, d
传真:68980976

8 O6 H. U2 F/ c6 c3 O

X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知.pdf

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 楼主| 发表于 2009-2-17 10:06:35 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

通知附件:X射线检测模拟软件(XRSIM)介绍

X射线检测模拟软件(XRSIM)介绍
, m; x+ E6 I; bXRSIM是由美国Iowa州立大学无损检测中心开发的X射线无损检测模拟软件。软件从研制到应用、再逐步改进,已前后经历时23年。其用户包括美国Los Alamos国家实验室、Sandia国家实验室、NASA、美国国家科学基金会、美国诺尔原子能实验室,美国陆军、空军及其它国防工业部门;跨国大公司有如美国铝业,达信航空航天,劳斯莱斯,普拉特惠特尼、波音、Cessna、ATK公司等,以及荷兰、韩国、印度、比利时等国家的实验室、科研院所、无损检测教学单位及相关企业。# X* d' s# m0 S
XRSIM模拟软件是基于X射线传输和衰减的物理规律,通过读取CAD文件获取工件的三维信息,在不需要真实工件的情况下模拟出X射线检测结果,得到X射线模拟图像。XRSIM软件从射线源到探测器的每个部分的图像链都可以调整,可以设置的参数有:3 q$ ~2 H* [6 Q4 P
1、工件相关的参数。例如,材料、形状、大小和放置位置及角度。6 ?  ?$ m6 H* m. g, s
2、缺陷相关的参数。例如,类型、形状、大小和在工件中的位置。) V0 l4 h6 `+ V% Y9 e
3、设备相关的参数。例如,射线机的类型、探测器(或胶片)类型等。
( P4 ?: n" j, J- q! y0 b. E4 U8 @4、设备设置参数。例如,电压、电流,曝光时间、散射角度等。
3 P" A2 \0 I2 \3 k5、        环境因素。例如噪声。
( ~/ w/ w% P3 M* v参数的选择和设定直接影响到X射线的成像质量和检测结果。在实际X射线检测中,从准备实验到获得结果一般需要较长的时间,当研究某一参数对成像质量的影响时,需反复调整参数,导致耗时、耗力、耗能、耗材。特别是对复杂、笨重的试制产品这些问题尤为突出。使用XRSIM模拟软件可以模拟真实检测过程,轻松调整并获取最佳的实验参数,从而得到优化的检测方案,大大缩短研发周期,降低设备、耗材、人员、时间等成本。( F! \/ C* p7 }' s
XRSIM软件能使无损检测教学和培训更加生动、贴近工程实际,帮助学生理解原理,提高解决实际问题的能力。应用XRSIM软件进行教学实验模拟演示,能减少实验室在建设、安全防护以及设备维护等相关费用,提高教学质量、改善教学效果,降低办学成本。2 K, \, h! q# l% p5 Z+ A) C* V+ T
( m# X; G/ p' N5 n+ p3 Y! s, Z* t9 A

/ _' j, e# x# v5 c& y3 }1 dJoseph N. Gray
& U$ m, }" D8 l# D% X
: F0 ]2 b) F0 p5 @0 }/ N
* d2 E1 K( S0 Z3 w( j; k3 rJoseph N. Gray,美国Iowa 州立大学无损检测中心研究员,机械学院兼职副教授。自1986年在无损检测中心工作。Gray先生1985年获得Michigan大学的物理学博士学位,1980年获得Pennsylvania州立大学硕士学位,1977年获得Colorado大学物理学和数学双学士学位。主要研究方向是X射线技术。主要从事计算机模拟X射线探测、XRSIM软件和CTSIM软件的能量大小的敏感性测量、实时探测方法、新X射线探测器和图像处理技术的研究。Gray博士在X射线和中子无损检测方面发表了七十多篇技术著作。另外在高分辨三维层析和三维可视化工具、材料表征的高等X射线衍射和折射技术有一定的研究。
 楼主| 发表于 2009-2-18 14:35:27 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

相关背景:美国Iowa州立大学无损检测中心

相关背景:美国Iowa州立大学无损检测中心; S. ]9 D3 l5 K$ P) s
美国Iowa州立大学无损检测中心2 \: B( Z0 Z8 E. J& E. g. `& K
http://www.ndt-ed.org/index_flash.htm
 楼主| 发表于 2009-2-24 11:12:27 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

背景知识:软件介绍

背景知识:软件介绍# G* w  @/ }, f' X5 t
软件介绍:
% S! j0 i" R, X3 r$ {: f http://www.ndetechnologies.com/index.html
 楼主| 发表于 2009-2-27 20:40:11 | 显示全部楼层 来自: 中国北京
用户手册目录

页面提取自- XRSIM_Manual499用户手册.pdf

121.11 KB, 下载次数: 5

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