|
|
发表于 2009-8-20 09:35:05
|
显示全部楼层
来自： 中国台湾
何时应用Cmk指数
# P E" a6 ~6 r3 h6 s( b" { 新机器验收时
% q" |8 z/ K. W2 K8 e# y& l 机器大修后
( ~: H% V' s+ o# Y" f1 ^# k3 l$ c. q 新产品试制时
. J- X- }4 K, o5 w5 A2 o: Z 产品不合格追查原因时
! [( F9 O5 |4 t: \" ~7 M' l 在机械厂应和模具结合在一起考虑5 d: o5 R# b6 @& f8 e
Case study$ t) Q9 v& j+ u: O, m
WHAT IS MOTOROLA’S 6σ
/ y* c4 I/ Z6 |0 h Normal Distribution-Gaussian Curve- W/ T( g( ?, U3 S: O* G
A收集数据：在计算各个子组的平均数和标准差其公式分别如下：
& T& H! S1 v# G& g" \/ f Case study) n) V2 s1 h- B9 K: u. @
Case study
0 I! F2 W0 s6 [* l 请计算出上表的X-s控制图的控制限？
& V9 X. L: k. @3 q$ r) P6 X$ i 请判定过程是否稳定？
G0 T/ O3 g" B, A7 d 如果是不稳定该如何处理？
/ {+ @, N# f) @3 g 如果制程假设已稳定，但想将抽样数自n=4调为n=5时，那么其新控制限为何？" z( X& f, k# N1 Y% d" L0 @: S
B计算控制限) r5 B# L. k8 L4 J6 ~1 P
Case study
" a! f0 J; b @% F Case study% `, Y0 k" @( \6 Q2 i- L! U- T
不良和缺陷的说明5 _6 N) ^8 P8 D4 b
P控制图的制做流程
- B7 a* f3 i' {% J A1子组容量、频率、数量- U: ]/ t- \3 t6 Y7 y
子组容量：用于计数型数据的控制图一般要求较大的子组容量（例如50~200）以便检验出性能的变化，一般希望每组内能包括几个不合格品，但样本数如果太利也会有不利之处。% k, }# D- U' Z' @* r; j* ^: p
分组频率：应根据产品的周期确定分组的频率以便帮助分析和纠正发现的问题。时间隔短则反馈快，但也许与大的子组容量的要求矛盾 4 W# C) g. m- P
aliqq
+ F$ I% R- d6 G; M6 w
; A" U S- p% l 子组数量：要大于等于25组以上，才能判定其稳定性。6 C: V' l* c- t& p+ E
A2计算每个子组内的不合格品率$ f% d3 I/ H$ W( t/ }9 P7 n
记录每个子组内的下列值
/ @& K: k9 Y% u: r0 ~ Z: e 被检项目的数量─n/ Y, r; e% m/ w9 U5 r
发现的不合格项目的数量─np
3 C# i1 {; u7 J# G7 E' y# ? 通过这些数据计算不合格品率; i, z4 c, `; m' w3 g' t
A3选择控制图的坐标刻度
0 n5 _. o0 V9 f+ P o" U 描绘数据点用的图应将不合格品率作为纵坐标，子组识别作为横坐标。纵坐标刻度应从0到初步研究数据读数中最大的不合格率值的1。5到2倍。
9 f5 d D7 Z- J1 `! O9 ]: n A4将不合格品率描绘在控制图上
; J; @* I# y8 J% k7 M$ K6 o 描绘每个子组的p值，将这些点联成线通常有助于发现异常图形和趋势。
& Z9 t4 i, f6 m! @ 当点描完后，粗览一遍看看它们是否合理，如果任意一点比别的高出或低出许多，检查计算是否正确。4 C$ Q: t2 z; z0 E: U
记录过程的变化或者可能影响过程的异常状况，当这些情况被发现时，将它们记录在控制图的“备注”部份。" x, n$ D+ I: d' M" ?4 d
计算平均不合格率及控制限
2 z% o$ e4 _( U# @ 画线并标注4 @! H2 F: _6 j" f, E
均值用水平实线线：一般为黑色或蓝色实线。+ r O% Q6 M5 B/ y
控制限用水平虚线：一般为红色虚线。
& c6 m% Y1 d- `# ]! |# \ 尽量让样本数一致，如果样本数一直在变化则会如下图：
1 c' J% l4 }* n# @& l 分析数据点，找出不稳定的证据
S7 w: y1 j# \# d0 ], H2 a 点
/ {! ] l' z( J( J6 g0 A# U- a7 g 线. B: }0 p( a( G1 A( ?2 ~
面2 P$ E4 F# l+ n, F
以上三种方式做判定。 aliqq ; i& G9 K6 ~( d8 ]1 d
寻找并纠正特殊原因
- V& U5 m6 s9 D* L 当从数据中已发现了失控的情况时，则必须研究操作过程以便确定其原因。然纠正该原因并尽可能防止其再发生。由于特殊原因是通过控制图发现的，要求对操作进行分析，并且希望操作者或现场检验员有能力发现变差原因并纠正。可利用诸如排列图和因果分析图等解决定问题数据。' {0 c1 ~/ k9 E% V2 a$ _
控制图的实时性- a! s. t* t: S( Q
重新计算控制限
( c3 s- Y( c: l; B9 y- X$ Z0 \ 当进行初始过程研究或对过程能力重新评价时，应重新计算试验控制限，以更排除某些控制时期的影响，这些时期中控制状态受到特殊原因的影响，但已被纠正。
* U1 w8 I5 l5 e4 V 一旦历史数据表明一致性均在试验的控制限内，则可将控制限延伸到将来的时期。它们便变成了操作控制限，当将来的数据收集记录了后，就对照它来评价。7 b3 j' Z" O' ^( c* x$ Y7 {! D
控制限运用说明8 H* k3 z- D* `) E8 y
过程能力解释# Q7 q# ~4 j3 e' y& \$ m
计算过程能力0 U' B1 `- `6 d, {' {
对于p图，过程能是通过过程平均不合率来表，当所有点都受控后才计算该值。如需要，还可以用符合规范的比例（1-p）来表示。 F* l0 Z: l, v
对于过程能力的初步估计值，应使用历史数据，但应剔除与特殊原因有关的数据点。
# W, ~' D+ t2 f( V. Z* w1 } 当正式研究过程能力时，应使用新的数据，最好是25个或更多时期子组，且所有的点都受统计控制。这些连续的受控的时期子组的p值是该过程当前能的更好的估计值。 aliqq.cn 9 b, t. k/ P# R$ _! m, I
评价过程能力
3 w& o+ [) L! O/ v ` 改善过程能力
4 e% L( }& L& ^" s- f4 V+ q$ r 过程一旦表现出处于统计控制状态，该过程所保持的不合格平均水平即反应了该系统的变差原因─过程能力。在操作上诊断特殊原因（控制）变差问题的分析方法 不适于诊断影响系统的普通原因变差。必须对系统本身直接采取管理措施，否则过程能力不可能得到改进。 |
|
[复制链接]
楼主
:ang: :ang: