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[讨论] 各种溅射镀膜方法

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发表于 2010-4-22 09:47:08 | 显示全部楼层 |阅读模式 来自: 中国广东深圳

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各种溅射成膜方法
溅射和真空镀气是利用物理现象的成膜方式。利用化学反应的代表性成膜方式为化学气相成膜法(CVD)。
1 \+ i2 f* ~1 H& o/ {) h. I溅射成膜法的特征
6 ~9 e+ J$ Y" p% X+ O- u: ^
1:成膜原材料粒子能量大、在基板上粘附力强、成膜牢固。 % n5 n# ]' v" h3 R
2:对于合金或化合物的靶材、保持原材料组成不变也可以成膜。
+ s5 F0 [- v. [3 {
3:高熔点材料也可以成膜。

' O3 r' \/ b- W& p4:成膜厚度容易控制。
7 p3 p5 ?2 t( ^2 `
5:如果在成膜过程中导入反应性气体、则能合成氧化膜或氮化膜等。
3 A: z( G4 X  }3 s2 o/ D
6:可以大面积均匀成膜。

1 f. |* o' g4 p7:如果把基板放到靶的位置上、则可以切削基板表面。

( D( G$ I5 I' v1 V, ~
1 F) [3 f4 C; I溅射成膜方式
# o" h' S7 g. Y  a

% E: i9 }+ ~! I7 Z% Y! W6 U' A! B( t
一、 DC溅射成膜

4 a3 E& R+ S/ g3 `. K! S  原理 : B' ]1 z* I( p0 S1 a

; }2 \6 [6 d  a. ?( j2 `: H0 I$ n1:成膜基板和膜靶材近距离配置。

: G# w  f- @6 l3 x- U+ L2:到达真空状态之后,在靶和基板之间加高电压。

# O! S+ v/ v- d- H5 n3:电子和离子在高电压下高速运动,离子撞击靶材,高速运动的电子和离子与气体分子碰撞,产生更多的离子。
: U) P' P! N" y" o( w
4:离子撞击靶后,把靶材的粒子溅射出去。

2 v, [/ [. A9 r- |  i: C% [5:被溅射出来的靶材的粒子到达成膜基板上成膜。
. u3 V, M  O$ |8 n3 J7 p7 _3 j
这是最初被采用的溅射成膜法。长处在于构造简单,但同时存在以下缺点:
" P( k2 K  M" Z8 I: \- N
    1、发生辉光放电,设备的真空程度较差,残留气体影响较大。比如说成长的薄膜和残留气体发生化学反应,或薄膜中有气泡等。- O% p& {1 r) y$ D+ C! J
    . ?$ T1 }4 w* e( z% m" g
    2
、气体成为等离子体状态,基板也处在高温的等离子状态中。因为高温可能会损伤基板。 3 A- n! Q. I" m/ b$ u

, t# X  S* X0 h5 i, v& D' ?    3、原料(靶)是强绝缘体的时候,表面会有离子堆积,使放电中止。

! h; o( m1 p6 V" v5 J5 E
4 e! q/ w  R& `; P9 }7 o二、RF溅射

9 }5 d  c; B. I1 V( `/ T$ y5 I    原理 5 q& [' [, ?' y5 n: x
; z+ P( @! T# l) T
1:靶和成膜基板近距离配置。

" m9 e6 S; o! f+ l: j. I* X2:真空腔体和靶之间加高频率电压。
& O# }+ z! h, z& S/ G
3:因为是交流电压,所以带电粒子的加速方向随电压而变。
, }4 s/ q8 i) A5 h: B" V) e/ f! D
4:因为电子比离子轻,容易移动。

/ w# |) q) o5 o: ^5 b1 s- H- S5 s5:靶一侧的电子没有流通渠道、使电子密度升高。

( T+ j6 L) G- J6:高密度的电子使靶带有负电、会吸引更多的阳离子撞击靶。
8 p9 l7 q$ R( b2 q* y$ J* b. C/ U7 c8 N8 x

. Q: q# h, }! Y- t) a& I9 z三、磁控溅射
! Q( K8 f- q" J0 R
    原理 / d- M* q8 r# s; N
: e0 Y- i+ B/ B
1:成膜基板和靶近距离配置、靶材的后面安装有磁铁。
0 w2 I  H% `' Y
2:加高电压之后诱发溅射。
4 t: u! G# s, `( r; R3 V7 T2 s
3:因为靶周围有磁场、电子沿磁力线做螺旋运动。

4 g" W: k7 |5 R: T# ^4:在螺旋运动电子的周围产生等离子状态、可进行高密度溅射。
, n0 X: ^6 a$ w+ ]' T) A% i0 U3 q
  特征 + J3 k" v+ O* A, C( W8 ]# K

4 S7 ~9 w9 B) F* n2 N1、也可使用高频电源。
  G$ f- Z# W4 c/ q! A) u
2、在成膜基板附近没有等离子状态、基板不受损伤。

: c; h: Q4 X! c! [* Y1 ~, S+ E/ J3、溅射量大。

1 \) j% K4 r2 y8 d& M1 E' N
6 x/ q# g  j, y$ P+ n' z
   缺点
1 f; u- t: L5 K; T" @2 D  靶材的磨损不均匀(磁场较强的地方被大量溅射、在磁场南北极中间线附近溅射量较少)。

! H2 N. t1 K6 \: V6 R8 p4 e1 N5 ^- [" ~
四、离子束溅射

) v! U$ ?# Q: Z0 P: w8 R: @6 k0 _: u2 ^
这是唯一一种不用放电的溅射方法。

+ `5 p* ~5 W, m7 o      从离子枪(产生离子并加速的设备)发射出来的高速离子照射靶材使其溅射后堆积在基板上成膜其; Y' M5 }  k2 f. y1 i3 Q  m
' A, s5 [+ D8 A, m
      他的几种溅射方式都利用等离子状态、基板同时也受到电子和离子的影响。离子束溅射不采用放电现象。但是为了使离子枪持续产生离子也需要供应惰性气体。1 J+ b( M/ J( `, {5 p& I. }
  j2 [  I3 e# z- O5 W7 ?% Z
      (注:使原材料离子化而射向基板的手法被称为离子注入法、而不是溅射。)
      特征 ! J! I- A, H1 Q" V
1、不需要放电来产生等离子状态、高真空状态下也可成膜。
% v) |$ Y6 y7 Z. A( M; O2 M/ S
2、离子源独立存在、单独设定容易。
* ?6 t9 Y, T# Y' I$ Z
3、靶材不需要导电性。

4 z; [6 r7 i5 j$ [* l0 o
3 N0 F! R/ B$ n3 o9 v+ ~% \* k( W缺点
% a3 b1 D. {9 q9 Y3 j7 M. ^/ C4 X
1、设备复杂、昂贵。 3 l" N3 I7 B; I0 |" d- S3 I
2、成膜速度慢。
9 o  S# x! w( U9 T

. `& F7 n! v+ `! a$ k3 ?
4 n+ s- A0 O8 ^( E1 k0 V溅射成膜设备的构成

% I6 x/ w- U. v: ^

, W1 O  I+ s* [& |+ }- p' b& [7 z, o$ ]! D9 M$ k$ h! U  Y; ~
除了离子束溅射之外、设备基本构成如下:
1、真空腔体(气体导入口、基板和靶出入口等)。 4 g, \6 r' p4 }. |  p: ~
2、排气系统(旋转泵、分子泵、因为要放电、所以不需要高真空)。
2 D2 M. T5 Z& Z) e0 W! D' `1 d2 U
3、成膜基板台。
" Q/ L' @! M7 J
4、靶台。

3 y7 H" g' y0 X- c1 S6 Z: r5、电源(高频电源、高压电源)。

  H; t* M7 R6 G4 X6、控制系统。
" o6 s4 j* u$ r: g
- Y( j& O4 @% y5 }( v" F/ ?) K; ^
溅射利用法

8 j0 C1 P6 i  ]3 L" r" v7 e磁气记录媒体。 5 q& W$ |$ `  h
CD/DVD(信息记录的金属膜)。
5 V  y! h9 e$ L# ?/ N
半导体(电路、各种传感器)。

1 u% K) N/ ]3 {  I8 ?  F( G$ `6 ~磁头。
+ x# C" r; A% u7 r9 b2 X( V
打印机头部。

3 q! D* k% q. k( r" [7 F. B液晶(透明电极部分)。
+ d1 V' W/ e: z: ~+ t& d* g
有机EL表示装置(透明电极部分)。
" @5 D1 ^3 ~7 b6 s
高辉度光电管。
' c8 S7 P* @( d4 X3 f
电子显微镜样品制作。
9 X1 C  s) l) U8 k
光触媒薄膜。

' u3 I2 P" z) I" D表面分析(利用溅射的切削作用)。

0 z  W/ T) u. G4 j1 z/ Z形状记忆合金薄膜。

0 k4 a7 O6 t4 W塑料或玻璃的电子屏蔽膜。
' ^; _( j. ~/ O, X
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