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求助《现代电子装联工艺过程控制》电子版的图书
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内容简介《现代电子装联工艺过程控制》讨论了现代电子产品生产过程中工艺过程控制的重要性,并以人、机、料、法、测、环等六大因素为对象,就工艺过程控制的基础技术理论、内容、方法和目标作了较全面的分析。旨在为从事现代电子产品制造的工艺工程师、质量工程师、生产计划管理工程师、物料管理工程师等,提供一本实践性较强的、理论和实践紧密结合的参考性读物。
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编辑推荐《现代电子装联工艺过程控制》是现代电子装联工艺技术丛书。
3 N+ R+ \: l1 l4 o* Y/ `& j: ^8 `
- t6 p: V1 |3 V; U. u5 O目录第1章 现代电子装联工艺过程控制概论 (1)
; z; s" \5 W0 w+ Q; G1.1 工艺技术和工艺技术进步 (1)
/ L9 E3 X# w |6 E1.2 工艺过程和工艺过程控制 (3)
% S' q' r7 {7 @# e9 l" v1.3 工艺过程控制的要素和内容 (4)# I: i) f" @& M6 r* Z; Z
1.3.1 工艺过程控制的要素 (4)
- k( w& P A/ ^; M! W; S) _1.3.2 工艺过程控制的内容 (4)* Y# U8 j1 j% w1 Z$ i) {, N
1.3.3 控制项目和方法 (7)0 l( b6 q3 z* \, `, q2 N" v2 M
1.3.4 数据和图表 (8)! K) d, J+ U3 w8 I, e6 u
1.3.5 产品生产与运营 (9)
0 t" g' w2 [' c& Z5 @5 e1.4 SMT全过程控制和管理 (10)# ^! |/ C: Y- a. F C; M+ p
1.4.1 概述 (10)) y) J; }7 A+ n) l
1.4.2 SMT全过程控制和管理 (10)
! r3 {/ ?9 L6 M3 N7 E1.5 工艺过程控制中应注意的问题 (13)
B& g6 T* D7 C& n) V' E2 w+ h8 ^1.5.1 要更多关注检测过程 (13)) @) b8 ~* b: o' P! s3 l1 r" i
1.5.2 动作和措施的执行 (14)
3 n0 H! d! J) z7 `; _1.5.3 正确地分离变异原因 (14)
6 [! [9 [7 f3 Q3 I, R2 b1.6 电子制造技术的发展 (16)
/ u( ^5 @" E* G& ?# h4 \
, M) f/ G: ?7 v; P* L第2章 现代电子装联工艺过程的环境控制要求 (18)
% G/ _; n# `" D& Y5 u0 H2.1 现代电子装联工艺过程质量与环璄 (18)
3 x; u, }& S6 w- {3 d: b8 r2.1.1 现代电子产品组装质量与环境的关系 (18)) r6 J* `, V3 p- A4 v9 k# H' ]
2.1.2 DPMO与大气气候变化的统计关系 (20)8 l( S1 e# a0 Q# D) q" V
2.2 现代电子装联工艺过程对物理环境条件的要求 (25)
: V3 H8 E- N+ }3 U% V; v5 r2.2.1 正常气象环境的定义 (25)
4 J% j% k I# g# \. J- ^2.2.2 现代电子装联工艺过程对物理环境条件的要求 (25)
! Q: |* \5 n2 W. n e5 A2.3 现代电子装联工作场地的静电防护要求 (28)9 |6 G' D5 d6 ]; I, f( g& Y" w
2.3.1 静电和静电的危害 (28); P+ L* X5 e" z/ d
2.3.2 电子产品制造中的静电 (29)
' W9 o& `( ]0 ~* G; u: O2.3.3 静电防护原理 (30)
, R! w: {8 P8 H( B2.3.4 静电监测仪器 (30)
4 }" q9 k$ P% R; m. }9 r" b2.3.5 现代电子装联工作场地的防静电技术指标要求(30)
3 C: Z6 J; r S* W# R; X% z; H, I" _
第3章 电子元器件、PCB及装联用辅料的互连工艺性控制要求 (32), m! f: S2 ` f5 U8 V" g
3.1 概述 (32)
. p- V5 k; s/ r0 }3.2 电子元器件引脚(电极)用材料及其特性 (32)9 a+ V3 d, u3 D( K
3.2.1 对电子元器件引脚材料的技术要求 (32)
1 H) B/ V% O0 M. z3 k! ^% l8 e8 N3.2.2 电子元器件引脚用材料 (32)
2 Q9 C. F/ l* q' N! N3.3 基体金属涂层的可焊性控制 (35)7 y; }5 k' [4 b
3.3.1 可焊性 (35)
9 K6 ]1 R# @% j% {, X3.3.2 可焊性涂层的分类 (35)
: n7 `8 S8 p- \) k9 D: s3.3.3 可焊性镀层的可焊性评估 (36)
- G. `) G) N) k% F% u3.4 电子元器件引脚及PCB焊盘可焊性镀层的特性描述 (37)+ _6 X; h7 W+ W# r7 L" w( G
3.5 电子装联工艺过程对PCB焊盘涂层及基材特性的控制要求 (41)
5 B+ S% j, g% g4 R3 U2 J3.5.1 PCB焊盘涂层材料及特性 (41); j/ L6 v* N; Q: {
3.5.2 电子装联工艺过程对PCB基材特性的控制要求(45)
& J8 R2 y, q2 }+ L3 V3 K, N( ~3.6 常用电子元器件引脚镀层的典型结构 (46)
" o7 U" u4 s! E: |3 j3.6.1 THT/THD类元器件引脚镀层结构 (46)$ m0 J" y3 O) G8 n8 k+ h5 S
3.6.2 SMC/SMD类元器件引脚典型镀层结构 (47)6 d! ^' i, c4 b- P& m! P2 ?
3.7 电子元器件引脚及PCB焊盘金属镀层的腐蚀(氧化)(52)& a; H+ |% a1 _4 d8 a
3.7.1 金属腐蚀的定义 (52)
6 N/ B4 f1 F/ t$ ^4 f3.7.2 金属腐蚀的分类 (53)
4 ~" ^, @- |- F$ m) b3.8 引脚镀层可焊性的储存期控制 (58)
; T/ P: Z2 y) O2 a3 D/ f3.8.1 储存期对可焊性的影响 (58)
; n. |2 j! M1 e# t5 p; y3.8.2 加速老化处理控制 (59): u1 ]; w2 d. @% R; t3 U
3.9 电子元器件焊端镀层的可焊性试验 (59)
; s: W" F0 d5 C5 Q2 v3.9.1 可焊性的定义 (59)
! I6 ]9 v" V& }5 c0 \( @3.9.2 可焊性和可靠性 (59)
4 K P, g9 c* C6 W$ x3.9.3 焊接过程中与可焊性相关的物理参数 (60)
) K4 {7 | G3 T! r3.9.4 可焊性测试 (60)1 i! K1 [8 a) ?
3.10 助焊剂、钎料和焊膏的组装工艺性控制 (63)$ ?* S3 C* w! ~7 t
3.10.1 电子装联用助焊剂的工艺性控制要求 (63)
7 [! E+ _# d) I- P; y k3.10.2 电子装联用钎料的工艺性控制要求 (66)
5 { c0 D: G9 ]1 |, X3.10.3 电子装联用焊膏的工艺性控制要求 (68)% m+ P/ O; P C: I4 f
3.10.4 如何选购和评估焊膏应用的工艺性 (69)
3 O% f+ i( f5 `4 R( o
# d; {0 g6 H/ ], t........6 b8 ]9 [; T A0 @7 i9 V6 V
+ y, { }. l1 B% {
书籍简介见
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