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单模光纤弯曲损耗的测量与分析* m1 r$ ?5 A! ]# `
郝素君, 游善红, 李晓东, 陈志勋8 h' F5 N, D" _8 L" n Y" q% l
(上海交通大学光纤技术研究所“区域光纤通信网与新型光通信系统”国家重点实验室, 上海200030)
/ e% w/ f/ |0 Q$ Y( b( \% S [摘 要] 提供了弯曲半径从1. 7mm 到5. 8mm , 波长从1520nm 到1565nm 范围内单模光纤弯曲损耗的测试结
( J' x W5 h0 U0 C果。观察到了弯曲损耗呈震荡变化, 随着弯曲半径的增加损耗减小, 振幅减小, 随着波长的增加损耗增加、振幅增大' Q8 @: C) D) G" l9 [ d
的现象, 并利用光纤的耦合模理论对单模光纤弯曲损耗震荡进行了解释。, ^. [1 z4 T( d9 t3 `2 z
[关键词] 光纤损耗; 耦合模理论; 测量 |
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