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吴冰1,2李晋炜2，巩水利2，张建勋1
* x% H, o7 I- q- ?# P; N9 H(1．西安交通大学，陕西西安710049)) g$ |8 C' Z, F* I2 o. l
(2．北京航空制造工程研究所高能束流加工技术重点实验室，北京100024)
# \9 G+ A7 ~3 O5 I6 x摘要：首先通过试验取得母材及焊接接头的疲劳裂纹扩展速率，然后结合TCl7钛合金电子束焊接接头CTOD试验
: a$ ?& t* N) S结果及裂纹容限计算值，以估算其疲劳剩余寿命。结果表明：在低应力水平或低△K下，TCl7电子柬焊缝的daMN数
, ^, h" ^ L) S2 T7 |8 Q5 A据与母材的基本相当；然而随着应力水平的增加，焊缝的da／dN值越来越大。在初始裂纹尺寸相同的情况下，TCl7合
& }6 I6 a5 r$ r3 |% B金电子束焊缝与母材疲劳裂纹扩展寿命曲线存在交叉点。当应力幅大于交叉点应力幅时，TCl7母材疲劳裂纹扩展到临
5 ?2 r5 M1 P" u, d# P2 F: g界裂纹尺寸的剩余寿命要高于相应焊缝的剩余寿命；当应力幅小于交叉点应力幅时，TCl7母材扩展到临界裂纹尺寸的
% B/ w6 \. W% e7 F7 s, w; H% M8 p剩余寿命要低于相应焊缝的剩余寿命。
& @8 n2 G% U& p) ^关键词：电子柬焊接；钛合金；疲劳裂纹扩展；疲劳剩余寿命 |
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发表于 2011-11-15 21:15:36
