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波长色散X射线荧光分析的新发展 : Y: @! P, {* K+ P
岛津(香港)有限公司北京代表处 电话：010-85252365 邮编：100020 N! V' S2 a6 a
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摘要：论述了波长色散X射线荧光分析装置的发展状况。除了继续发展其在高含量、常量和微量元素分析上高精度、高稳定性的固有特点之外，在进一步提高灵敏度，使分析范围扩展到痕量分析范围；开拓微区面分布的元素成像分析；进一步对传统分析困难的轻元素和中重金属元素的探讨，开发新的高级次谱线分析方法；适应新材料特别是纳米材料的分析要求，对薄膜分析的开拓等方面，已经有了长足的发展。本文介绍在商品化的分析装置方面的发展状况。同时本文引入对无标样分析的基本参数法（FP法）目前发展状况的介绍。/ Y) l) }2 L, r* C3 ^
3 c4 Z* a3 ]% ?8 ]* l. H+ W. m 关键词：波长色散X射线荧光分析，微区面分布的元素成像分析，高级次谱线分析方法，薄膜分析，无标样分析的基本参数法。
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7 [. d+ Y7 n9 w) _1 ], X/ v4 D9 {[ 本帖最后由 清风明月008 于 2007-10-14 11:25 编辑 ] |
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发表于 2007-10-14 10:03:07
