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发表于 2008-3-30 16:47:32
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来自: 中国山西太原
没有定量的公式因为晶粒度是很难测量的,只能是说晶粒度越大(晶粒直径越小)衰减越小.: j& Q! s- ~3 L& D8 x' G* A
介质中的声强衰减与超声波的频率及介质的密度,晶粒粗细等因素有关.晶粒越粗或密度越小,衰减越快;频率越高;衰减也越快
1 Q `' I3 E& a" S4 P( l8 k0 T$ v5 P即0~1级(平均晶粒直径为0.35mm 8 f- f) }: C5 m9 `% ?$ o8 m; n
~0.25mm),2级(平均晶粒度直径为0.177mm),3~5级(平均晶粒直径为
- }+ I: L9 k3 N6 N, R7 q0.125mm~0.062mm),6~7级(平均晶粒度直径为0.044mm~0.031mm),8: w0 d2 X( ?' N# h' Q0 [
级(平均晶粒度直径为0.022mm).分别对0.5MHZ,1MHZ,2MHZ,4MHZ,
3 \5 z; @" {* u* ~( |1.25MHZ,2.5MHZ,5MHZ等7种频率进行了不检波超声底面反射波一次反射* g. P. c2 @! D. J
B1,二次反射B2(相当于常规灵敏度下的测试结果记录),如图所示. 8 \0 U$ O1 p+ H
通过长期生产检验验证,我们可以观察到晶粒度与选用频率有直接关系.0~
* U" ?; H. N6 b1级晶粒度只宜选用0.5MHZ频率,如使用1MHZ频率时,会产生一些探测清晰( e! P- w# s7 i9 s/ m9 ]& |5 E
度的影响.2级晶粒度时宜选用1MHZ~1.25MHZ探测,使用2~2.5MHZ频率
4 M- g( h% u4 G* D# T) x: {8 x时就会有明显影响.3~5级晶粒度时宜选用2~2.5MHZ频率探测,用4~5MHZ
; d0 v8 x4 z3 _& Q时就有明显影响.6~8级晶粒度时方可选用4~5MHZ高频率进行探测.这就是
e1 u$ [ t- J6 o& d说,当产品探测灵敏度要求高时,就必须使用高频率探头,而使用高频探头,又
8 t3 P% s3 [+ b8 d& l$ X7 J; p必须要求被检件晶粒度很细,才能达到检测目的.& n. n/ E- m( J! L" d
6 F! T1 l! K: p# C% _[ 本帖最后由 tabu 于 2008-3-30 16:49 编辑 ] |
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