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发表于 2008-10-12 16:23:52
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来自： 中国江苏徐州
MSA测量系统分析控制程序
MSA测量系统分析控制程序* M7 ]4 R" t2 l/ N
1.0 目的：" k1 f; n/ f* L. O
对测量系统变差进行分析评定，以确定测量系统是否满足规定要求。) ]4 i9 D' r5 j
2.0 适用范围
/ O! T: _; r2 w8 y0 q1 a适用于证实产品符合规定要求的所有测量系统。8 e3 r7 a3 K1 C1 x
3.0 职责
5 p+ D6 A# U+ ]$ T0 C+ P3.1稽管部
% I/ _( z' Y5 m0 N—负责制定测量系统分析计划并实施测量系统分析。" |# G6 J6 T4 J6 g- [) b+ F" Y: g/ _
3.2生产部5 d2 r8 l* J% s6 ~
—负责配合测量系统分析工作。
2 q/ e# k; n+ ]3.3 APQP小组; @: e3 m' U5 Q) u
—负责对检测能力不足的量具适用性重新进行评价。
1 T8 L! a8 W. ^' Q4.0定义
* Q! E5 o$ y) k: c测量系统：用来对被测特性赋值的操作、程序、量具、设备、软件以及操作人员的结合；用来获得测量结果的整个过程。, E/ s$ `7 E) u6 ]2 j# Q
重复性：同一操作员使用同一测量仪器测量相同部分的同一特性时，多次测量结果的最大变差。
( `3 V2 V7 n$ t" v' \* F; H再现性 ：不同的测量者使用相同的仪器测量某相同部分的同一特性时，其测量平均值的最大变差。 Q* R- D7 m* {) ] X
计量型量具：反映测量样本一定测量值的量具。0 H: l. Y _0 b, ~- z. R# Y2 M
计数型量具：反映样本其特性的接受与不接受的测试结果的量具。
' J) B+ B, J) z, o" z3 M* J; e容差：与标准的允许偏差，即变差在公称值附近的允许范围。允许公差是规定上、下限值之差值。规定限值不应与控制限值相混淆。 }+ T( T0 R) y
5.0程序4 k9 c8 o3 H' D i. o
5.1测量系统分析范围( V6 b Q9 y! r3 ]' [, _/ I
对控制计划中规定的测量系统进行分析，包括更新的量具。
) ~, f! T5 D" j- k0 M5.2测量系统分析的频率、计划
, P0 P/ @% f5 ]1 f5.2.1测量系统分析的频率为一年一次% y$ V5 M1 Q3 p, L& g" ?
5.2.2稽管部负责制定测量系统分析计划，经管理代表批准后，由稽管部组织生产部实施。) C& K+ S- A5 W* e# [+ A: |/ Q+ p( |
5.2.3新的PCB生产过程中根据试产控制计划由稽管部组织实施测量系统分析。
6 X9 Y( t7 w% O) t E5.3计量型量具重复性和再现性分析（R&R）) }9 V- A- f; s# D8 i# |# ^
5.3.1随机抽样10个PCB，确定某一尺寸/特性做为评价样本。5 o0 u. g0 W6 F! u& I. h
5.3.2 对PCB进行编号1~10，编号应覆盖且不被操作员知道某一产品具体编号。
$ m1 G5 p! y3 L" R2 G5.3.3指定3个操作员，每一个操作员单独地以随机的顺序选取PCB，并对PCB的尺寸/特性进行测量，负责组织此项研究的人员观察编号并在表格中对应记录数值。3个操作员测完一次后，再从头开始重复1~2次。8 D( X* M8 }0 c7 G
5.3.4将测量结果依次记录在《量具重复性和再现性数据表》上。: Y" {% y4 A; o' K
5.3.5负责组织此项研究的人员，依据数据表和质量特性规格，按标准规定的格式出具《量具重复性和再现性报告》。# V6 ~" V7 g Q. o9 O8 R. a
5.3.6结果分析
& ?% R) F3 \9 W& n5.3.6.1当重复性（EV）变异大于再现性（AV）时，可采取下列措施：) e, `3 w# [+ g; ], t
a） 增强量具的设计结构。- J! n; I8 e# {1 o5 S
b） 改进量具的使用方法。
" s2 e n$ G- y p7 Mc） 对量具进行保养。
( Q- Y& S' P6 t8 k, H F8 t5.3.6.2当再现性（AV）变异大于重复性（EV）时应考虑；
; `1 H7 }. [3 k3 r' pa） 修订作业标准，加强对操作员的操作技能培训。; t/ ?: l; q2 I0 E
b） 是否需采取夹具协助操作，以提高操作的一致性。& z5 j3 C! [2 L. @+ Y
c） 量具校准后再进行R&R分析。
- @+ U2 k, D! W1 E- G- ~ v, }5.3.7 R&R接收准则# w6 R1 m! f" l5 T0 R2 p2 S
a） R&R<10%可接受。
2 H! M+ {9 n) |6 s |: |" @b） 10%≤R&R≤30%，依量具的重要、成本及维修费用，决定是否接受。! f& _" I8 m- v. l* Y3 ^0 f- h. Z
c） R&R>30%不能接受，必须改进。! O6 |# f; ~1 w8 o6 L
5.4计数型量具小样法分析& @% K K( P v" @6 c
5.4.1取样：选取20个PCB，然后由2位评价人以一种能防止评价人偏倚的方式（一般采用盲测法）二次测量所有PCB，一些产品会稍许低于或高于规范限值，测试结果记录于《计数型量具小样分析表》。
' N7 T" H7 B4 D7 {3 [3 P; h9 n5.4.2判定：如果所有的测量结果（每个PCB进行4次测量）一致则接受该量具，否则应重新改进或重新评价该量具，如果不能改进的量具，则不能接受，并应找到接受的替代测量系统。* @6 r8 {* ~3 |0 y
6.0相关文件
- v- H; \7 U$ T" ~0 @& R8 X6.1 《测量系统分析手册MSA》/ W# @ X. F* p2 C
7.0记录
3 @8 U; ~5 X0 y$ O; Z% x: @& y7.1量具重复性和再现性数据表
) B. v+ R+ C2 U4 P1 p7.2量具重复性和再现性报告
+ K! r2 T- h5 [' {7.3计数型量具小样分析表 |
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发表于 2005-7-9 22:21:00
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