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20090305 X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知

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发表于 2009-2-16 19:18:50 | 显示全部楼层 |阅读模式 来自: 中国北京

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X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知

7 c0 o& S/ S+ y3 x4 ^2 W, @: e
讲座时间:2009年3月5日9:30-11:30;

8 k' j7 s- F3 B* M& d/ y
讲座地点:首都师范大学国际文化交流大厦第9会议室,北京市西三环北路83号(西三环路西,紫竹桥与花园桥之间);
. J9 N( p' O0 q) i$ A
主 讲 人:Joseph N. Gray博士,美国Iowa 州立大学无损检测中心研究员,Iowa 州立大学机械学院教授;

( r6 @4 I0 D) Q3 ^
主要内容:XRSIM射线无损检测模拟软件的技术原理及应用,以及美国Iowa州立大学无损检测中心研制其他无损检测技术模拟软件介绍;

2 I+ u( H. A# d+ _
主办单位:首都师范大学、全国无损检测学会新技术委员会、北京维泰凯信新技术有限公司;
2 t) G. m) i" R- [
附件:XRSIM介绍及Joseph N. Gray简历
$ ]' o* W9 T; J(讲座不收费,食宿交通费用自理)% a6 f! z$ e4 Y" I
请于2009年3月3日下午5点前反馈回执或电话报名。

0 o8 d  D* s* Y/ y
联 系 人:李晓丽: R$ `( w$ v& G# u: N( |. j
段玉霞
7 J% n/ k+ j* I) E  O" i赵石彬

$ e7 H# s5 e6 I4 a. P
联系电话:010-68902940,010-82317426,13240794567
1 t% O: m3 c4 v# A) s+ S
. [( N% ~0 C9 E6 P
真:010-68980976
+ {1 `* [9 V1 r- g

( v7 N, |4 G+ S# S
邮箱地址:lixiaoli.127@163.com

( L) C' k; F3 z6 i

1 Z% b/ T) [+ g& ~
会 议 回 执

% E7 B- w5 V, ~
单位名称:
, s; ~$ M; t+ ~! d% y5 ^. g: C
姓名
" C2 n) v( K: h2 l8 ^
职务

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联系电话(手机)

( K3 Z8 k" y8 i  ~* M: e
* W0 M( b' k8 c  ^

6 s; B- u0 H8 R5 E' V7 s
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. k! ]* s6 p$ p/ I! B
" S6 V! R# e  k# j; y; F/ w

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8 C5 K4 Y' K; G0 H  l- \$ j

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  C, q& e# o: I
请回复至:* r, ^- J1 T8 B! |
lixiaoli.127@163.com
: {' t: O7 r4 P) S
联系人:李晓丽
" }8 C& `. {7 K0 F5 t: C电话:689029401 R; v! \. x* _4 y# K
传真:68980976

, n5 f; o, B7 D9 g' d$ D

X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知.pdf

13.27 KB, 下载次数: 4

 楼主| 发表于 2009-2-17 10:06:35 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

通知附件:X射线检测模拟软件(XRSIM)介绍

X射线检测模拟软件(XRSIM)介绍
1 C, I, c: x7 o9 E$ u# k) KXRSIM是由美国Iowa州立大学无损检测中心开发的X射线无损检测模拟软件。软件从研制到应用、再逐步改进,已前后经历时23年。其用户包括美国Los Alamos国家实验室、Sandia国家实验室、NASA、美国国家科学基金会、美国诺尔原子能实验室,美国陆军、空军及其它国防工业部门;跨国大公司有如美国铝业,达信航空航天,劳斯莱斯,普拉特惠特尼、波音、Cessna、ATK公司等,以及荷兰、韩国、印度、比利时等国家的实验室、科研院所、无损检测教学单位及相关企业。
3 z% l0 @5 G& h8 B- s* jXRSIM模拟软件是基于X射线传输和衰减的物理规律,通过读取CAD文件获取工件的三维信息,在不需要真实工件的情况下模拟出X射线检测结果,得到X射线模拟图像。XRSIM软件从射线源到探测器的每个部分的图像链都可以调整,可以设置的参数有:7 ?: J' R+ V) b7 B) _% k" M' j
1、工件相关的参数。例如,材料、形状、大小和放置位置及角度。' S' [" J' ^. H: j: {
2、缺陷相关的参数。例如,类型、形状、大小和在工件中的位置。4 @( R5 x7 e* _4 F0 k* r
3、设备相关的参数。例如,射线机的类型、探测器(或胶片)类型等。( Z# R" ]. a* i+ d( r
4、设备设置参数。例如,电压、电流,曝光时间、散射角度等。: L# D& W! h* g) o: Z9 l
5、        环境因素。例如噪声。
2 M! k+ f7 z% `8 s: B' C参数的选择和设定直接影响到X射线的成像质量和检测结果。在实际X射线检测中,从准备实验到获得结果一般需要较长的时间,当研究某一参数对成像质量的影响时,需反复调整参数,导致耗时、耗力、耗能、耗材。特别是对复杂、笨重的试制产品这些问题尤为突出。使用XRSIM模拟软件可以模拟真实检测过程,轻松调整并获取最佳的实验参数,从而得到优化的检测方案,大大缩短研发周期,降低设备、耗材、人员、时间等成本。
) B0 A- B) P5 K6 `XRSIM软件能使无损检测教学和培训更加生动、贴近工程实际,帮助学生理解原理,提高解决实际问题的能力。应用XRSIM软件进行教学实验模拟演示,能减少实验室在建设、安全防护以及设备维护等相关费用,提高教学质量、改善教学效果,降低办学成本。
% P+ J9 \+ s  K
0 P: \2 `& T  V% w) P
/ I# f8 y5 I' h6 g) T5 a9 [Joseph N. Gray
! Q9 g7 b2 v" g- k: |
) ~: h/ `) N/ D: V0 H2 L; C
, X  G6 D/ u4 d; B4 l0 j& u2 C/ oJoseph N. Gray,美国Iowa 州立大学无损检测中心研究员,机械学院兼职副教授。自1986年在无损检测中心工作。Gray先生1985年获得Michigan大学的物理学博士学位,1980年获得Pennsylvania州立大学硕士学位,1977年获得Colorado大学物理学和数学双学士学位。主要研究方向是X射线技术。主要从事计算机模拟X射线探测、XRSIM软件和CTSIM软件的能量大小的敏感性测量、实时探测方法、新X射线探测器和图像处理技术的研究。Gray博士在X射线和中子无损检测方面发表了七十多篇技术著作。另外在高分辨三维层析和三维可视化工具、材料表征的高等X射线衍射和折射技术有一定的研究。
 楼主| 发表于 2009-2-18 14:35:27 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

相关背景:美国Iowa州立大学无损检测中心

相关背景:美国Iowa州立大学无损检测中心
, g  R, S' x) w- G美国Iowa州立大学无损检测中心
0 H# I4 E2 H, F" Khttp://www.ndt-ed.org/index_flash.htm
 楼主| 发表于 2009-2-24 11:12:27 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

背景知识:软件介绍

背景知识:软件介绍
1 C) W# }/ c" e9 _* ?软件介绍:
6 C+ Z2 k( r% k# ]$ j7 l http://www.ndetechnologies.com/index.html
 楼主| 发表于 2009-2-27 20:40:11 | 显示全部楼层 来自: 中国北京
用户手册目录

页面提取自- XRSIM_Manual499用户手册.pdf

121.11 KB, 下载次数: 5

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