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X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知
7 c0 o& S/ S+ y3 x4 ^2 W, @: e讲座时间:2009年3月5日9:30-11:30;
8 k' j7 s- F3 B* M& d/ y讲座地点:首都师范大学国际文化交流大厦第9会议室,北京市西三环北路83号(西三环路西,紫竹桥与花园桥之间); . J9 N( p' O0 q) i$ A
主 讲 人:Joseph N. Gray博士,美国Iowa 州立大学无损检测中心研究员,Iowa 州立大学机械学院教授;
( r6 @4 I0 D) Q3 ^主要内容:XRSIM射线无损检测模拟软件的技术原理及应用,以及美国Iowa州立大学无损检测中心研制其他无损检测技术模拟软件介绍;
2 I+ u( H. A# d+ _主办单位:首都师范大学、全国无损检测学会新技术委员会、北京维泰凯信新技术有限公司; 2 t) G. m) i" R- [
附件:XRSIM介绍及Joseph N. Gray简历
$ ]' o* W9 T; J(讲座不收费,食宿交通费用自理)% a6 f! z$ e4 Y" I
请于2009年3月3日下午5点前反馈回执或电话报名。
0 o8 d D* s* Y/ y联 系 人:李晓丽: R$ `( w$ v& G# u: N( |. j
段玉霞
7 J% n/ k+ j* I) E O" i赵石彬
$ e7 H# s5 e6 I4 a. P联系电话:010-68902940,010-82317426,13240794567 1 t% O: m3 c4 v# A) s+ S
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真:010-68980976
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联系人:李晓丽
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传真:68980976
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