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20090305 X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知

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发表于 2009-2-16 19:18:50 | 显示全部楼层 |阅读模式 来自: 中国北京

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X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知
2 x, Y. o1 S* ?! N. c
讲座时间:2009年3月5日9:30-11:30;
2 M4 n- @- _- W- [: C5 k
讲座地点:首都师范大学国际文化交流大厦第9会议室,北京市西三环北路83号(西三环路西,紫竹桥与花园桥之间);
' P: H, K8 Q1 w* ^
主 讲 人:Joseph N. Gray博士,美国Iowa 州立大学无损检测中心研究员,Iowa 州立大学机械学院教授;
! j! o& @/ g( R9 @( J* e/ [+ h
主要内容:XRSIM射线无损检测模拟软件的技术原理及应用,以及美国Iowa州立大学无损检测中心研制其他无损检测技术模拟软件介绍;

5 Q, d" G$ K( p; ~5 V) v* U4 [* f9 X
主办单位:首都师范大学、全国无损检测学会新技术委员会、北京维泰凯信新技术有限公司;
0 i/ g& {8 u) b* V- p5 O$ L
附件:XRSIM介绍及Joseph N. Gray简历
  E8 ?! k- Z! v(讲座不收费,食宿交通费用自理)5 D) }7 J+ A: ~+ w; B
请于2009年3月3日下午5点前反馈回执或电话报名。

# I8 _3 \; R! m$ k$ W3 Q
联 系 人:李晓丽8 t, S3 c+ N; Y2 {" V9 `5 X1 H
段玉霞- F/ f/ h: @) e2 I3 D( ^
赵石彬

5 w1 [! B5 y9 I. M- @
联系电话:010-68902940,010-82317426,13240794567

' D* c2 M  @8 D, u& F! C

! _; z. y! ]. b0 w1 A8 l  \# f0 U真:010-68980976
0 f- A' g6 r  X

, d( h* ]2 z" \) z1 L* G) U
邮箱地址:lixiaoli.127@163.com

% W6 J% ?: p* o# F: @+ i

/ S/ ?9 t+ `' g$ C2 Z0 T- g9 C2 |
会 议 回 执

9 i0 Q4 G' K, E# E1 Z
单位名称:

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姓名
. V& d; u/ `( ~, L0 v
职务
, `* n) U# ^/ i* b5 b/ O  c
联系电话(手机)

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& Z) V! {6 K/ p# V0 {3 x

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+ e- [- @$ n$ T6 L
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请回复至:$ d" C. b2 b& T- m
lixiaoli.127@163.com
$ @1 g+ h5 i4 I/ m
联系人:李晓丽3 z$ U/ r9 J1 P* ~3 Z
电话:68902940
7 h* \( `9 F7 T' }& m* D传真:68980976

7 N. k$ _0 G; X- t; ]

X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知.pdf

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 楼主| 发表于 2009-2-17 10:06:35 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

通知附件:X射线检测模拟软件(XRSIM)介绍

X射线检测模拟软件(XRSIM)介绍
: E  D' ^1 m5 _0 v  t/ BXRSIM是由美国Iowa州立大学无损检测中心开发的X射线无损检测模拟软件。软件从研制到应用、再逐步改进,已前后经历时23年。其用户包括美国Los Alamos国家实验室、Sandia国家实验室、NASA、美国国家科学基金会、美国诺尔原子能实验室,美国陆军、空军及其它国防工业部门;跨国大公司有如美国铝业,达信航空航天,劳斯莱斯,普拉特惠特尼、波音、Cessna、ATK公司等,以及荷兰、韩国、印度、比利时等国家的实验室、科研院所、无损检测教学单位及相关企业。" f2 V9 O0 |! g( I' A; n! I1 c* C' K
XRSIM模拟软件是基于X射线传输和衰减的物理规律,通过读取CAD文件获取工件的三维信息,在不需要真实工件的情况下模拟出X射线检测结果,得到X射线模拟图像。XRSIM软件从射线源到探测器的每个部分的图像链都可以调整,可以设置的参数有:
1 w0 B. U+ v8 f1、工件相关的参数。例如,材料、形状、大小和放置位置及角度。5 P) x% G' }6 f, `. v' f
2、缺陷相关的参数。例如,类型、形状、大小和在工件中的位置。' `; m9 K8 }4 m' l1 X" }
3、设备相关的参数。例如,射线机的类型、探测器(或胶片)类型等。# I9 A) W" ^8 ^6 e; j4 m, P
4、设备设置参数。例如,电压、电流,曝光时间、散射角度等。4 o) a9 P6 ~8 q; C7 ^7 L/ p' I
5、        环境因素。例如噪声。
& z( ^! Z1 N# L9 l参数的选择和设定直接影响到X射线的成像质量和检测结果。在实际X射线检测中,从准备实验到获得结果一般需要较长的时间,当研究某一参数对成像质量的影响时,需反复调整参数,导致耗时、耗力、耗能、耗材。特别是对复杂、笨重的试制产品这些问题尤为突出。使用XRSIM模拟软件可以模拟真实检测过程,轻松调整并获取最佳的实验参数,从而得到优化的检测方案,大大缩短研发周期,降低设备、耗材、人员、时间等成本。8 ~$ a( @# F, ]1 a
XRSIM软件能使无损检测教学和培训更加生动、贴近工程实际,帮助学生理解原理,提高解决实际问题的能力。应用XRSIM软件进行教学实验模拟演示,能减少实验室在建设、安全防护以及设备维护等相关费用,提高教学质量、改善教学效果,降低办学成本。$ D2 j) a! Z( a; v- ^" B

/ H, V8 O  @' I/ j) ?, i
( E6 F9 _' |! J0 p; D+ ]& ~Joseph N. Gray
! C8 T& d6 v5 ]4 x1 l% t5 F 1 M0 _: t5 s0 U6 a% C# S' e
/ A5 U  g/ z4 G1 }: t& P
Joseph N. Gray,美国Iowa 州立大学无损检测中心研究员,机械学院兼职副教授。自1986年在无损检测中心工作。Gray先生1985年获得Michigan大学的物理学博士学位,1980年获得Pennsylvania州立大学硕士学位,1977年获得Colorado大学物理学和数学双学士学位。主要研究方向是X射线技术。主要从事计算机模拟X射线探测、XRSIM软件和CTSIM软件的能量大小的敏感性测量、实时探测方法、新X射线探测器和图像处理技术的研究。Gray博士在X射线和中子无损检测方面发表了七十多篇技术著作。另外在高分辨三维层析和三维可视化工具、材料表征的高等X射线衍射和折射技术有一定的研究。
 楼主| 发表于 2009-2-18 14:35:27 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

相关背景:美国Iowa州立大学无损检测中心

相关背景:美国Iowa州立大学无损检测中心2 b. d3 v2 [3 F2 }2 R- H$ I4 @
美国Iowa州立大学无损检测中心
1 _8 Z, v  T  v' m7 b+ u" ~$ d2 C0 Ghttp://www.ndt-ed.org/index_flash.htm
 楼主| 发表于 2009-2-24 11:12:27 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

背景知识:软件介绍

背景知识:软件介绍
+ w1 N5 F6 E9 c6 x: r& b# f4 G软件介绍:: L' [! g' t+ I+ g- w
http://www.ndetechnologies.com/index.html
 楼主| 发表于 2009-2-27 20:40:11 | 显示全部楼层 来自: 中国北京
用户手册目录

页面提取自- XRSIM_Manual499用户手册.pdf

121.11 KB, 下载次数: 5

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