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[讨论] 各种溅射镀膜方法

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发表于 2010-4-22 09:47:08 | 显示全部楼层 |阅读模式 来自: 中国广东深圳

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各种溅射成膜方法
溅射和真空镀气是利用物理现象的成膜方式。利用化学反应的代表性成膜方式为化学气相成膜法(CVD)。
7 r2 O9 m$ e) W* r/ l: Q3 e. s4 ^  y溅射成膜法的特征

& l: a/ t+ }" e/ R& z9 E1:成膜原材料粒子能量大、在基板上粘附力强、成膜牢固。
: @* C! N9 b: y  U2 h, _) i5 a2:对于合金或化合物的靶材、保持原材料组成不变也可以成膜。
; P% v8 j9 |; ]. ^; Z' g; c% c" z
3:高熔点材料也可以成膜。
; ?3 F7 U6 ]4 B  Y
4:成膜厚度容易控制。

0 Z( P7 n3 I7 I5:如果在成膜过程中导入反应性气体、则能合成氧化膜或氮化膜等。

4 }- `; y" r2 O% _. E9 `7 p# Z" m: T" D6:可以大面积均匀成膜。

4 ~1 Q$ y- F) @# K$ H# h7:如果把基板放到靶的位置上、则可以切削基板表面。

3 ?0 W' f! r  W8 W2 p; t0 @# i+ R1 E0 w+ _
溅射成膜方式' l3 S* t3 ?0 [0 V+ s0 i5 u
* y0 b: ]* |- E" l

) ~; |5 T' Q5 J. A一、 DC溅射成膜

: ~/ z/ [; N% E' @9 ^- M2 j' F$ Q  原理 : o  I, U: h: d4 W0 ?+ b$ l
2 \. ?9 h9 F% f( i4 H7 Y
1:成膜基板和膜靶材近距离配置。

: _9 E% u. c6 e" ]8 k! C2:到达真空状态之后,在靶和基板之间加高电压。
& D! ^5 |5 O7 y0 Q5 V4 I0 ?7 ~
3:电子和离子在高电压下高速运动,离子撞击靶材,高速运动的电子和离子与气体分子碰撞,产生更多的离子。

1 K, ~  a( }: w# A% A% J; A4:离子撞击靶后,把靶材的粒子溅射出去。
, I! X' G9 I7 n' d5 T+ X7 B
5:被溅射出来的靶材的粒子到达成膜基板上成膜。

1 B& O2 r! z6 n: E, d这是最初被采用的溅射成膜法。长处在于构造简单,但同时存在以下缺点:

: }$ i4 v2 |+ U5 j0 K% i) U    1、发生辉光放电,设备的真空程度较差,残留气体影响较大。比如说成长的薄膜和残留气体发生化学反应,或薄膜中有气泡等。
; d! ~4 O: ]! q: X$ `' b% v0 l   
7 J* {4 e+ Z7 x# t) F% j    2
、气体成为等离子体状态,基板也处在高温的等离子状态中。因为高温可能会损伤基板。
/ E/ l  o" J7 Z6 j2 Y/ w! g# f4 W  ~0 L
    3、原料(靶)是强绝缘体的时候,表面会有离子堆积,使放电中止。

9 m8 L  o6 u8 M- [% S3 w6 m1 a( V: m8 q; @9 }
二、RF溅射
2 {$ T9 I) O7 [5 Z+ r- [
    原理
! s) `& v9 e9 [2 K( i& Y/ s% |8 E$ f
& l  [" n  x/ C/ Q3 ~- k# N1:靶和成膜基板近距离配置。

  z8 Q! q1 C+ k7 N0 z2:真空腔体和靶之间加高频率电压。
2 O9 ~4 }3 ?/ B, b6 P5 f( k
3:因为是交流电压,所以带电粒子的加速方向随电压而变。
! e! f; l* j: r
4:因为电子比离子轻,容易移动。

1 k* T+ z, E1 R5 C' j# K* z4 J5:靶一侧的电子没有流通渠道、使电子密度升高。
1 q  q0 v2 W( A% I1 q( ~* _
6:高密度的电子使靶带有负电、会吸引更多的阳离子撞击靶。

9 \2 |0 q. j" n0 E+ V1 z$ Q
* H5 ^! A' u/ L/ w三、磁控溅射

0 |+ X  R: I+ ?    原理
% z  M0 b& d! L! Z4 A9 W6 w- W& L4 q3 s" K% J6 ]) c* [: e- K
1:成膜基板和靶近距离配置、靶材的后面安装有磁铁。
2 V4 Z  j/ S  r1 S; Q/ q# q- w1 T
2:加高电压之后诱发溅射。
/ L8 P$ O; x% o6 t( W6 y% s: f; B
3:因为靶周围有磁场、电子沿磁力线做螺旋运动。
, r' {8 f( c, t0 r! A' G5 P
4:在螺旋运动电子的周围产生等离子状态、可进行高密度溅射。

5 Y7 f: ^% W+ M  特征
& e- r( q! P1 Y% C# k+ g& D- \5 d# R' ~" u
1、也可使用高频电源。

! h% v/ t: _( L2、在成膜基板附近没有等离子状态、基板不受损伤。

; e: l3 N% ?7 m6 a7 i. W& X  u3 z3、溅射量大。

" Y  u7 \6 C6 Z7 |- @
/ C% }: z, r) e3 R
   缺点1 m3 i* m: I& T9 G8 r) q
  靶材的磨损不均匀(磁场较强的地方被大量溅射、在磁场南北极中间线附近溅射量较少)。

1 S3 U$ m' x  |0 S' \
- K) ^- z- n$ k% U) S0 U; R四、离子束溅射

% g4 U1 a2 f; j* J$ m5 @
" l9 g( q- h3 E+ J+ B* A+ g这是唯一一种不用放电的溅射方法。

" w% N' X6 U4 A7 e. C      从离子枪(产生离子并加速的设备)发射出来的高速离子照射靶材使其溅射后堆积在基板上成膜其
2 n; T8 X& U4 ], O# l/ x& s' d* Z' G- m1 t
      他的几种溅射方式都利用等离子状态、基板同时也受到电子和离子的影响。离子束溅射不采用放电现象。但是为了使离子枪持续产生离子也需要供应惰性气体。
" V: ~/ N4 G8 Z0 q" ?- ^7 a7 l+ b( p% y* V: w* X4 W
      (注:使原材料离子化而射向基板的手法被称为离子注入法、而不是溅射。)
      特征
" C2 E! ?$ z8 e1、不需要放电来产生等离子状态、高真空状态下也可成膜。

% O, |9 K1 H* U! @1 W2、离子源独立存在、单独设定容易。

: f# ~$ u! A8 D! _3、靶材不需要导电性。

4 M$ z6 I# b6 X$ {- j4 W4 c- l* {
) W( @- f8 P. S  d& V缺点
- `4 p2 ~/ G3 o  a# F4 `! i1 Y
1、设备复杂、昂贵。
3 `5 D. A* Y  y4 _9 Z- w2、成膜速度慢。
; a& O4 _# f& v+ M( d
" @# Q! O- A" J
0 m# g* F) X- @7 P  m: P9 V* a
溅射成膜设备的构成
) }4 a2 ]/ r% ^3 A9 C3 B
% J# }; Q% P3 J" E8 Q. k& [
; C, o! ], k% Q  B0 u
除了离子束溅射之外、设备基本构成如下:
1、真空腔体(气体导入口、基板和靶出入口等)。 # Q5 m; Z  }  b- ^. f
2、排气系统(旋转泵、分子泵、因为要放电、所以不需要高真空)。
8 L2 j- f1 T7 w' ?& i. b5 s
3、成膜基板台。
+ D4 @$ e- y$ n$ I) H% B
4、靶台。
" X; D% |! q8 Z3 }' T2 T
5、电源(高频电源、高压电源)。

2 ?) O9 x2 r& a1 R7 ?9 L6、控制系统。
6 T* E$ c0 h' C4 \; A" Q' |5 J

7 s/ g- F0 D  Q6 f5 M$ y溅射利用法
2 N+ {- w% i9 i* d0 e
磁气记录媒体。
9 J- L+ i  {0 yCD/DVD(信息记录的金属膜)。

/ m) W( ~% ]1 t  [; x6 R半导体(电路、各种传感器)。
. P; t) z. \) B
磁头。

% ?0 u8 ?1 |- I; _* T打印机头部。
, ]! K7 t0 k+ k: B& _
液晶(透明电极部分)。

9 Q7 {* A3 W8 u6 M5 V5 v$ ~5 R有机EL表示装置(透明电极部分)。

. p4 x; p! a5 o( l- n" S' _高辉度光电管。

  a3 T/ R+ Y5 E$ M+ y: L电子显微镜样品制作。
, D8 a$ ]% ?& `# E2 N: a
光触媒薄膜。

$ E3 e8 w& U  x2 _! v* O表面分析(利用溅射的切削作用)。
) ?( b( X: C6 l- P  {
形状记忆合金薄膜。

  _  S4 R2 U' [7 r塑料或玻璃的电子屏蔽膜。
7 A, I7 q% |0 b+ m# A
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