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求助《现代电子装联工艺过程控制》电子版的图书; \; q2 p8 s1 v* k, H5 p$ ]; p
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8 K( H+ K) g- Z
% ^" s" v, ], e' {6 F内容简介《现代电子装联工艺过程控制》讨论了现代电子产品生产过程中工艺过程控制的重要性,并以人、机、料、法、测、环等六大因素为对象,就工艺过程控制的基础技术理论、内容、方法和目标作了较全面的分析。旨在为从事现代电子产品制造的工艺工程师、质量工程师、生产计划管理工程师、物料管理工程师等,提供一本实践性较强的、理论和实践紧密结合的参考性读物。 ) M% b5 X$ J# h# i, d4 h
6 o- q- e [7 F# v编辑推荐《现代电子装联工艺过程控制》是现代电子装联工艺技术丛书。 5 E/ T$ }" |2 f) M: l: ?$ U
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目录第1章 现代电子装联工艺过程控制概论 (1)
" ]2 E' E- V$ n6 R6 c' g7 Y1.1 工艺技术和工艺技术进步 (1)! t8 }" }$ Z' P% P) p9 g
1.2 工艺过程和工艺过程控制 (3)
% g5 b8 c' v) X# ]1 E" N4 b" \5 [1.3 工艺过程控制的要素和内容 (4)
# X; I2 ^: H( ]. {) n% a$ ]% H- O1.3.1 工艺过程控制的要素 (4)1 h* f }5 E o$ F# E9 v' y
1.3.2 工艺过程控制的内容 (4)
+ e/ |) B# ]9 P0 V& t1 X+ k" B( R1.3.3 控制项目和方法 (7)0 G2 T8 \* X2 ?5 B, ^3 q8 ?6 X1 Y* ~
1.3.4 数据和图表 (8); g' Z6 B3 A4 g. M- D3 i
1.3.5 产品生产与运营 (9)( z% W7 }4 j( I1 K% j4 y% }. d8 N4 I
1.4 SMT全过程控制和管理 (10)7 x# ?; I7 F: u8 H/ _! l" F& V; O
1.4.1 概述 (10)! H4 j7 F" B* K k" [* v
1.4.2 SMT全过程控制和管理 (10)3 o- e+ P F% _5 [+ @& }7 Q
1.5 工艺过程控制中应注意的问题 (13)
6 L4 l/ ?8 U; ?- a8 W* A0 D1.5.1 要更多关注检测过程 (13)
" c0 O1 C$ ]5 g# D) P# W2 j1.5.2 动作和措施的执行 (14)
9 U/ [' C- B3 @4 A$ A- F" A" R1.5.3 正确地分离变异原因 (14)
0 X) x1 \5 @$ q1 e+ u7 H* }1.6 电子制造技术的发展 (16)) p f/ {5 x2 n9 I8 {( H
( ~4 P) ?5 Y9 L2 Q. s
第2章 现代电子装联工艺过程的环境控制要求 (18)
4 R* M7 B" d- i7 I2.1 现代电子装联工艺过程质量与环璄 (18)+ R; ]8 W+ u' }6 |, t& e0 }( t, R
2.1.1 现代电子产品组装质量与环境的关系 (18)
n5 H& @- m- U# @2.1.2 DPMO与大气气候变化的统计关系 (20)7 t( ~+ K7 u( X( ^/ a
2.2 现代电子装联工艺过程对物理环境条件的要求 (25)# W% O) f0 D: ?3 w
2.2.1 正常气象环境的定义 (25)
' v- F% d1 l e2.2.2 现代电子装联工艺过程对物理环境条件的要求 (25); m( a' N) j; Z" R2 B2 P( Q4 R- |7 s0 u
2.3 现代电子装联工作场地的静电防护要求 (28)
' b d/ J% R8 W5 X2.3.1 静电和静电的危害 (28)
& d% h* |' e' a6 x; J) N, ?, b3 L2.3.2 电子产品制造中的静电 (29)
& t' t. m( w; q$ p2.3.3 静电防护原理 (30)# R- q, K; N5 I/ B+ g: @) @+ ?
2.3.4 静电监测仪器 (30)
: v. o, g0 G% L; i" k; A1 c3 O7 s% v$ P2.3.5 现代电子装联工作场地的防静电技术指标要求(30)
; `- `1 l2 K4 h# }/ n' k8 _( H
) g Y2 V1 w7 M. p第3章 电子元器件、PCB及装联用辅料的互连工艺性控制要求 (32): r% c, V! { h5 u5 y" ]: U
3.1 概述 (32)5 a6 _5 o7 Z, G% z
3.2 电子元器件引脚(电极)用材料及其特性 (32)
- ^9 g2 h3 t4 C3.2.1 对电子元器件引脚材料的技术要求 (32)
1 ?9 L$ I; c9 \3.2.2 电子元器件引脚用材料 (32)- V( l4 G, [1 i% w
3.3 基体金属涂层的可焊性控制 (35)
; N0 a' \* A! B: t" f3.3.1 可焊性 (35)8 C* O3 f6 Q" c4 H
3.3.2 可焊性涂层的分类 (35)6 } D& U+ k9 \7 A: l8 j
3.3.3 可焊性镀层的可焊性评估 (36)2 D+ i- e4 A7 N) z- M0 w4 H% W! f# r
3.4 电子元器件引脚及PCB焊盘可焊性镀层的特性描述 (37)
Q8 e( ^6 J0 I& t4 y/ U6 u3.5 电子装联工艺过程对PCB焊盘涂层及基材特性的控制要求 (41)
' l" q1 X% o2 y4 ~ A* U% D3.5.1 PCB焊盘涂层材料及特性 (41)/ K# ^& q% h5 a! K% f
3.5.2 电子装联工艺过程对PCB基材特性的控制要求(45)# e6 @2 x$ d% U1 u* C' I
3.6 常用电子元器件引脚镀层的典型结构 (46)9 [5 \% e, _, j3 F
3.6.1 THT/THD类元器件引脚镀层结构 (46)
% V E6 r+ Q' w) T. J9 I1 N3.6.2 SMC/SMD类元器件引脚典型镀层结构 (47)7 H+ F. ?+ y' {. K- ^
3.7 电子元器件引脚及PCB焊盘金属镀层的腐蚀(氧化)(52)
; C# v* x0 {' O$ I- {7 u3.7.1 金属腐蚀的定义 (52)
- [ z- ^- F" a0 o: k( {3.7.2 金属腐蚀的分类 (53)
& x( _4 j/ s8 U: [; Y8 Q3.8 引脚镀层可焊性的储存期控制 (58)2 P" r, ^+ b: P4 I0 U- E! A
3.8.1 储存期对可焊性的影响 (58)
8 x7 [5 J' U2 y" Y3 E2 ?' G3.8.2 加速老化处理控制 (59)
: L" L4 D$ u! r( g$ U8 x2 h3.9 电子元器件焊端镀层的可焊性试验 (59)
4 x$ z8 P. U) r% I# d3.9.1 可焊性的定义 (59) E6 i: G) Y, b3 Z, s2 f
3.9.2 可焊性和可靠性 (59)
4 V4 r" t$ ^ D" G9 X3.9.3 焊接过程中与可焊性相关的物理参数 (60)/ ~8 h: U( `* ~' U3 J
3.9.4 可焊性测试 (60)
' Z- A. _. @. s5 [5 B3.10 助焊剂、钎料和焊膏的组装工艺性控制 (63); _6 d* O4 M/ H& K: g$ m% g1 m
3.10.1 电子装联用助焊剂的工艺性控制要求 (63)
3 L9 D5 Z$ w" [% U0 B* r3.10.2 电子装联用钎料的工艺性控制要求 (66)% l d$ x& z( N5 v, O& ^1 I& D
3.10.3 电子装联用焊膏的工艺性控制要求 (68). B) e% M( o3 _" `0 I! k1 E
3.10.4 如何选购和评估焊膏应用的工艺性 (69)
3 @& B4 t- `. \- T C) v+ g: L
" J1 b# H0 n" F$ E" ]2 a........+ p& O3 f1 I: \, q# q6 i0 e, ?
3 v1 X% R# o6 z5 B
书籍简介见
8 U% n, H$ X, U! f; j6 Ghttp://www.amazon.cn/%E7%8E%B0%E4%BB%A3%E7%94%B5%E5%AD%90%E8%A3%85%E8%81%94%E5%B7%A5%E8%89%BA%E8%BF%87%E7%A8%8B%E6%8E%A7%E5%88%B6-%E6%A8%8A%E8%9E%8D%E8%9E%8D/dp/product-description/B003XEZZS2 |
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