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单模光纤弯曲损耗的测量与分析
/ Z$ t! b5 {7 _9 V; S- T/ q郝素君, 游善红, 李晓东, 陈志勋. T# |; o5 V( W
(上海交通大学光纤技术研究所“区域光纤通信网与新型光通信系统”国家重点实验室, 上海200030)$ `/ b A& |8 ~
[摘 要] 提供了弯曲半径从1. 7mm 到5. 8mm , 波长从1520nm 到1565nm 范围内单模光纤弯曲损耗的测试结) u( L8 k3 e5 A: i, O
果。观察到了弯曲损耗呈震荡变化, 随着弯曲半径的增加损耗减小, 振幅减小, 随着波长的增加损耗增加、振幅增大& \! Z) a4 i, |/ ? U1 {% b0 {
的现象, 并利用光纤的耦合模理论对单模光纤弯曲损耗震荡进行了解释。3 D6 s2 t* _, Y/ N8 f1 p
[关键词] 光纤损耗; 耦合模理论; 测量 |
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发表于 2011-10-27 14:42:47
