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发表于 2008-3-30 16:47:32
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来自: 中国山西太原
没有定量的公式因为晶粒度是很难测量的,只能是说晶粒度越大(晶粒直径越小)衰减越小.
5 A' N0 D; S/ J: N介质中的声强衰减与超声波的频率及介质的密度,晶粒粗细等因素有关.晶粒越粗或密度越小,衰减越快;频率越高;衰减也越快
8 ~! P& X- ?3 k3 R0 m即0~1级(平均晶粒直径为0.35mm $ M' u# |( O) m( B
~0.25mm),2级(平均晶粒度直径为0.177mm),3~5级(平均晶粒直径为: J- v" F0 l6 @' s6 f
0.125mm~0.062mm),6~7级(平均晶粒度直径为0.044mm~0.031mm),8
9 l# A. X4 j" f6 i/ a3 ` L4 B级(平均晶粒度直径为0.022mm).分别对0.5MHZ,1MHZ,2MHZ,4MHZ,+ @5 ^. x" S0 J0 {( t
1.25MHZ,2.5MHZ,5MHZ等7种频率进行了不检波超声底面反射波一次反射+ j7 p7 g5 ^5 S7 D( P1 w: Q8 ]: Y/ I
B1,二次反射B2(相当于常规灵敏度下的测试结果记录),如图所示.
+ Z1 }% F% o7 v7 _# q0 K+ r通过长期生产检验验证,我们可以观察到晶粒度与选用频率有直接关系.0~
( @9 V! |. l9 n4 k, l3 E# ~+ X: M1级晶粒度只宜选用0.5MHZ频率,如使用1MHZ频率时,会产生一些探测清晰
% b+ Z0 }2 f/ F/ O: V度的影响.2级晶粒度时宜选用1MHZ~1.25MHZ探测,使用2~2.5MHZ频率* [3 y% |0 B5 h( u/ i
时就会有明显影响.3~5级晶粒度时宜选用2~2.5MHZ频率探测,用4~5MHZ
. S1 e! d: {1 v# R- ^时就有明显影响.6~8级晶粒度时方可选用4~5MHZ高频率进行探测.这就是
[. G# @2 o" w: ?4 T说,当产品探测灵敏度要求高时,就必须使用高频率探头,而使用高频探头,又
2 S' G5 s2 F& }. G, e必须要求被检件晶粒度很细,才能达到检测目的., R9 _. B. ~* T: h! t& ?9 w0 k
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[ 本帖最后由 tabu 于 2008-3-30 16:49 编辑 ] |
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