平晶？

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平面平晶是以光波干涉原理为基础，利用平晶的测量面与试件的被测量面之间所出现的干涉条纹来测量被测量面的平面度。
( J& f0 s& D' m, A& b平面平晶用于检定量块的研合性和平面度以仪器和量具的测量面、工作面的平面度。亦可用于检定高精度的平面零件，例如，平面光学零件、高级平台、平板、导轨、密封件等。平面平晶特别适用于计量单位、实验室作为标准平面和样板。

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一、用途：
　　平面平晶是用于以干涉法测量块规，以及检验块规、量规、零件密封面、测量仪器及测量工具量面的研合性和平面度的 常用工具。
6 K1 j( X! v) Z% z; V　　适用于光学加工厂、厂矿企业计量室、精密加工车间、阀门密封面现场检测使用，也适用于高等院校、科学研究等单位做平面度等检测。
　　二、主要技术规格：
2 ?; U3 a7 t& L% ^" a% a: b' w) Q　　1、平面平晶 YDF-1 标准外形尺寸 单位：mm
　　规格30 45 60 80 100 150 200 250
+ t0 ?2 d  l6 O' W, G　　直径30 45 60 80 100 150 200 250
* ~# R9 f1 Y& B2 ]$ d" W　　高度15 15 20 20 25 30 40 45
　　特殊规格尺寸平面平晶,环形平面平晶,方形平面平晶可定做.
5 z! O- c# d/ U6 _/ k. s' V　　2、平面平晶制成两种精度： 1级 和 2级
　　3、平面平晶工作面的平面度偏差允许值为：
* Q& X; V5 J, b5 A　　直径为 30至60mm 1级平晶 0.03μm
　　直径为 30至60mm 2级平晶 0.1 μm
" y9 R  l& o9 T　　直径为 80至150mm 1级平晶 0.05μm
　　直径为 80至150mm 2级平晶 0.1 μm
　　更大尺寸平面平晶平面度偏差允许值，根据国家标准。
　　4、平面平晶工作面的局部偏差允许值为： 0.03μm
, @" |4 q0 {/ [; l　　5、平面平晶测量工作应在室温2 0℃±3℃条件下保持数小时后进行。

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