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20090305 X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知

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发表于 2009-2-16 19:18:50 | 显示全部楼层 |阅读模式 来自: 中国北京

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X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知
3 N" K6 o; k' {0 T3 R: L/ _
讲座时间:2009年3月5日9:30-11:30;

+ |; T; }8 Z$ N
讲座地点:首都师范大学国际文化交流大厦第9会议室,北京市西三环北路83号(西三环路西,紫竹桥与花园桥之间);
& c5 W7 y& l: P4 v
主 讲 人:Joseph N. Gray博士,美国Iowa 州立大学无损检测中心研究员,Iowa 州立大学机械学院教授;

% h3 K. `: R! V# P7 T% Y
主要内容:XRSIM射线无损检测模拟软件的技术原理及应用,以及美国Iowa州立大学无损检测中心研制其他无损检测技术模拟软件介绍;

: D* g" m+ H. P( |
主办单位:首都师范大学、全国无损检测学会新技术委员会、北京维泰凯信新技术有限公司;
5 y! ?4 ^% D, W- ^( i$ \2 Q
附件:XRSIM介绍及Joseph N. Gray简历
+ m8 q( I* I# S: @- [# }  J(讲座不收费,食宿交通费用自理)8 a+ J, ]( N6 e3 J9 V- C! ~
请于2009年3月3日下午5点前反馈回执或电话报名。

4 Z+ h, g. g8 J' y$ J
联 系 人:李晓丽* j7 R7 H0 j# y' D
段玉霞
* ]% V. t# D1 a, ^: X; R% F赵石彬
* n+ }( f* Y3 B6 E) H2 m0 \
联系电话:010-68902940,010-82317426,13240794567
& r9 a& z0 X& {/ \( d2 [: x

- W" w# O' t3 e, F2 E. B% H  E) [# {真:010-68980976
  H) P! Q- P4 y( H+ H  ]% ]2 Y

6 a4 e1 X' H* U" h! o
邮箱地址:lixiaoli.127@163.com
* f9 h: _* Q) f
2 K* M* j' F2 A
会 议 回 执
0 e4 E7 x5 r& ~+ [0 ~0 ~$ w# G
单位名称:

9 Z+ s; K7 P4 @
姓名

/ i( ^" v$ C5 v. r% s2 L9 N: d
职务

4 k; K1 j# m. s2 k7 S. d, Q3 A
联系电话(手机)
8 k0 Z6 j7 c3 \9 ]4 x, S

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* n1 d0 d( a% L) X- E& u8 }

# K  i) o! h( _: C5 ~4 p" w

+ ^4 r. S& q; V9 X2 ^
请回复至:6 K* N) V$ V' s' e9 C8 g( ?7 v
lixiaoli.127@163.com
) ?7 g9 T  E' ^% l, `. N. g* J
联系人:李晓丽. t5 V7 ?5 H* C3 J  T# R
电话:68902940
. I: }6 z( N' z& r- m: }$ x传真:68980976

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X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知.pdf

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 楼主| 发表于 2009-2-17 10:06:35 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

通知附件:X射线检测模拟软件(XRSIM)介绍

X射线检测模拟软件(XRSIM)介绍
- `- {0 d! i& P3 _1 h+ j3 ZXRSIM是由美国Iowa州立大学无损检测中心开发的X射线无损检测模拟软件。软件从研制到应用、再逐步改进,已前后经历时23年。其用户包括美国Los Alamos国家实验室、Sandia国家实验室、NASA、美国国家科学基金会、美国诺尔原子能实验室,美国陆军、空军及其它国防工业部门;跨国大公司有如美国铝业,达信航空航天,劳斯莱斯,普拉特惠特尼、波音、Cessna、ATK公司等,以及荷兰、韩国、印度、比利时等国家的实验室、科研院所、无损检测教学单位及相关企业。% u: j/ |! E' }% [% G5 q% {
XRSIM模拟软件是基于X射线传输和衰减的物理规律,通过读取CAD文件获取工件的三维信息,在不需要真实工件的情况下模拟出X射线检测结果,得到X射线模拟图像。XRSIM软件从射线源到探测器的每个部分的图像链都可以调整,可以设置的参数有:
0 x1 o  |. r% C1 S" k1、工件相关的参数。例如,材料、形状、大小和放置位置及角度。
, k8 {8 j" @9 q+ y2、缺陷相关的参数。例如,类型、形状、大小和在工件中的位置。' }6 T. T5 U: \
3、设备相关的参数。例如,射线机的类型、探测器(或胶片)类型等。  ]/ P" w# n5 i
4、设备设置参数。例如,电压、电流,曝光时间、散射角度等。
" T! U( A9 g9 S/ G& N% j' N( L5、        环境因素。例如噪声。
3 F, j3 m# X* V5 W7 |* E参数的选择和设定直接影响到X射线的成像质量和检测结果。在实际X射线检测中,从准备实验到获得结果一般需要较长的时间,当研究某一参数对成像质量的影响时,需反复调整参数,导致耗时、耗力、耗能、耗材。特别是对复杂、笨重的试制产品这些问题尤为突出。使用XRSIM模拟软件可以模拟真实检测过程,轻松调整并获取最佳的实验参数,从而得到优化的检测方案,大大缩短研发周期,降低设备、耗材、人员、时间等成本。
& [+ I; i) `2 tXRSIM软件能使无损检测教学和培训更加生动、贴近工程实际,帮助学生理解原理,提高解决实际问题的能力。应用XRSIM软件进行教学实验模拟演示,能减少实验室在建设、安全防护以及设备维护等相关费用,提高教学质量、改善教学效果,降低办学成本。
$ k8 E6 S: n) Z7 ~3 E! t, g+ ?
: p" Y7 g7 q1 c* V2 Y/ M6 y" {: ?$ w2 p/ {6 F8 Z4 y6 X  U! D
Joseph N. Gray
  i6 w9 Y* V% y6 {+ @
( {8 F# }, u9 g0 v4 X; H; F1 u: M- ]1 w6 \5 ]; V
Joseph N. Gray,美国Iowa 州立大学无损检测中心研究员,机械学院兼职副教授。自1986年在无损检测中心工作。Gray先生1985年获得Michigan大学的物理学博士学位,1980年获得Pennsylvania州立大学硕士学位,1977年获得Colorado大学物理学和数学双学士学位。主要研究方向是X射线技术。主要从事计算机模拟X射线探测、XRSIM软件和CTSIM软件的能量大小的敏感性测量、实时探测方法、新X射线探测器和图像处理技术的研究。Gray博士在X射线和中子无损检测方面发表了七十多篇技术著作。另外在高分辨三维层析和三维可视化工具、材料表征的高等X射线衍射和折射技术有一定的研究。
 楼主| 发表于 2009-2-18 14:35:27 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

相关背景:美国Iowa州立大学无损检测中心

相关背景:美国Iowa州立大学无损检测中心2 I- R4 @+ e' n4 m# S3 }
美国Iowa州立大学无损检测中心
0 y. @! V9 L- W9 `5 vhttp://www.ndt-ed.org/index_flash.htm
 楼主| 发表于 2009-2-24 11:12:27 | 显示全部楼层 来自: 中国北京

背景知识:软件介绍

背景知识:软件介绍
  G( a9 w& r) M/ ~1 ?软件介绍:
5 ?2 d1 w& U3 Q. {% G$ h# f! q http://www.ndetechnologies.com/index.html
 楼主| 发表于 2009-2-27 20:40:11 | 显示全部楼层 来自: 中国北京
用户手册目录

页面提取自- XRSIM_Manual499用户手册.pdf

121.11 KB, 下载次数: 5

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