20090305 X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知

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X射线无损检测计算机模拟技术学术讲座通知

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讲座时间：2009年3月5日9:30－11：30；

讲座地点：首都师范大学国际文化交流大厦第9会议室，北京市西三环北路83号(西三环路西，紫竹桥与花园桥之间)；

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主 讲 人：Joseph N. Gray博士，美国Iowa 州立大学无损检测中心研究员，Iowa 州立大学机械学院教授；

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主要内容：XRSIM射线无损检测模拟软件的技术原理及应用，以及美国Iowa州立大学无损检测中心研制其他无损检测技术模拟软件介绍；

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主办单位：首都师范大学、全国无损检测学会新技术委员会、北京维泰凯信新技术有限公司；

附件：XRSIM介绍及Joseph N. Gray简历
（讲座不收费，食宿交通费用自理）
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请于2009年3月3日下午5点前反馈回执或电话报名。

联 系 人：李晓丽
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赵石彬

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联系电话：010-68902940，010-82317426，13240794567

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传
真：010-68980976

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邮箱地址：lixiaoli.127@163.com

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会 议 回 执

单位名称：

姓名	职务	联系电话（手机） ( o9 D$ h  ?% }" l
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请回复至：
6 r0 L/ y3 N: F8 f. |7 Zlixiaoli.127@163.com

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联系人：李晓丽
1 W0 Y' G0 v3 N0 f电话：68902940
/ Q9 b" B# N6 b. q3 Y传真：68980976

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X射线检测模拟软件（XRSIM）介绍
$ Y0 T/ a: a- O  y& I' Y# H8 PXRSIM是由美国Iowa州立大学无损检测中心开发的X射线无损检测模拟软件。软件从研制到应用、再逐步改进，已前后经历时23年。其用户包括美国Los Alamos国家实验室、Sandia国家实验室、NASA、美国国家科学基金会、美国诺尔原子能实验室，美国陆军、空军及其它国防工业部门；跨国大公司有如美国铝业，达信航空航天，劳斯莱斯，普拉特惠特尼、波音、Cessna、ATK公司等，以及荷兰、韩国、印度、比利时等国家的实验室、科研院所、无损检测教学单位及相关企业。
XRSIM模拟软件是基于X射线传输和衰减的物理规律，通过读取CAD文件获取工件的三维信息，在不需要真实工件的情况下模拟出X射线检测结果，得到X射线模拟图像。XRSIM软件从射线源到探测器的每个部分的图像链都可以调整，可以设置的参数有：
1、工件相关的参数。例如，材料、形状、大小和放置位置及角度。
2、缺陷相关的参数。例如，类型、形状、大小和在工件中的位置。
3、设备相关的参数。例如，射线机的类型、探测器（或胶片）类型等。
" y, T" f' |" {0 W, k6 B4、设备设置参数。例如，电压、电流，曝光时间、散射角度等。
5、        环境因素。例如噪声。
! v8 p2 }6 s" y) C  S参数的选择和设定直接影响到X射线的成像质量和检测结果。在实际X射线检测中，从准备实验到获得结果一般需要较长的时间，当研究某一参数对成像质量的影响时，需反复调整参数，导致耗时、耗力、耗能、耗材。特别是对复杂、笨重的试制产品这些问题尤为突出。使用XRSIM模拟软件可以模拟真实检测过程，轻松调整并获取最佳的实验参数，从而得到优化的检测方案，大大缩短研发周期，降低设备、耗材、人员、时间等成本。
XRSIM软件能使无损检测教学和培训更加生动、贴近工程实际，帮助学生理解原理，提高解决实际问题的能力。应用XRSIM软件进行教学实验模拟演示，能减少实验室在建设、安全防护以及设备维护等相关费用，提高教学质量、改善教学效果，降低办学成本。
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" B) f5 H3 v9 q& j: ?Joseph N. Gray

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& d* S' d0 ^7 qJoseph N. Gray，美国Iowa 州立大学无损检测中心研究员，机械学院兼职副教授。自1986年在无损检测中心工作。Gray先生1985年获得Michigan大学的物理学博士学位，1980年获得Pennsylvania州立大学硕士学位，1977年获得Colorado大学物理学和数学双学士学位。主要研究方向是X射线技术。主要从事计算机模拟X射线探测、XRSIM软件和CTSIM软件的能量大小的敏感性测量、实时探测方法、新X射线探测器和图像处理技术的研究。Gray博士在X射线和中子无损检测方面发表了七十多篇技术著作。另外在高分辨三维层析和三维可视化工具、材料表征的高等X射线衍射和折射技术有一定的研究。

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相关背景：美国Iowa州立大学无损检测中心
美国Iowa州立大学无损检测中心
; {  O* Y2 }; F" R" |& Chttp://www.ndt-ed.org/index_flash.htm

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背景知识：软件介绍
, a4 U8 D5 A' D软件介绍：
  @6 R; N4 v' T: F3 {, J http://www.ndetechnologies.com/index.html

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