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[真空技术] 关于溅射成膜

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发表于 2009-3-4 12:39:18 | 显示全部楼层 |阅读模式 来自: 中国安徽合肥

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  溅射和真空镀气是利用物理现象的成膜方式。利用化学反应的代表性成膜方式为化学气相成膜法(CVD)。
. H/ B& s, d. I; a5 {4 Q  V       溅射成膜法的特征9 v1 D9 U' ~- v. Y5 z! C
; o; w- R4 n* A6 D4 \
1:成膜原材料粒子能量大、在基板上粘附力强、成膜牢固。 ) \  M7 @, X+ R* b# E0 X
2:对于合金或化合物的靶材、保持原材料组成不变也可以成膜。 1 R2 a- ^+ B8 u! i6 ?( {/ U$ m
3:高熔点材料也可以成膜。 7 d# Y5 g4 L9 ?$ u
4:成膜厚度容易控制。
) N9 ?" Y$ x# U8 ]. `+ a8 l, Y$ U5:如果在成膜过程中导入反应性气体、则能合成氧化膜或氮化膜等。
5 I% A3 l& c, D+ a  e6:可以大面积均匀成膜。
  l% ~4 ]8 T7 y7:如果把基板放到靶的位置上、则可以切削基板表面。2 ^4 A- C/ Q% A, k+ c7 s$ G
    溅射成膜方式
- w2 t: p8 [# T; N0 @+ T    一、 DC溅射成膜' X8 y- b0 n* Q0 G7 F
  原理
. v* O: k  C9 L! R% L4 O9 d. r6 p& q' W! a
1:成膜基板和膜靶材近距离配置。 " }/ G) I9 w  g  V8 B: @9 [3 j
2:到达真空状态之后,在靶和基板之间加高电压。 & x0 Q3 u/ W* z# ~
3:电子和离子在高电压下高速运动,离子撞击靶材,高速运动的电子和离子与气体分子碰撞,产生更多的离子。 3 D! L2 M) H4 Y' E+ v
4:离子撞击靶后,把靶材的粒子溅射出去。 1 j- G. ?- r! s! c$ L; R
5:被溅射出来的靶材的粒子到达成膜基板上成膜。 : h6 C& D* E1 C3 ^- B" G
      这是最初被采用的溅射成膜法。长处在于构造简单,但同时存在以下缺点:$ n/ ?9 Q; U( Y. v9 I: G
    1、发生辉光放电,设备的真空程度较差,残留气体影响较大。比如说成长的薄膜和残留气体发生 化学反应,或薄膜中有气泡等。
9 {* N5 A# e) @2 D0 C+ m, _7 z   
: ~2 {4 @2 `) M8 ]    2、气体成为等离子体状态,基板也处在高温的等离子状态中。因为高温可能会损伤基板。 5 j, k- ?9 B# N6 ?
2 x1 A: Z! Q& ^% ?! _  L
    3、原料(靶)是强绝缘体的时候,表面会有离子堆积,使放电中止。
2 |, \  ]7 G: f! M1 @1 D
) Z& L  s1 |; @      二、RF溅射
% R/ j: U' O. t8 H( ]    原理 4 l* N7 S" ^$ u; W' v. n( U& r6 f
' b/ n. |. F4 o. a2 t
1:靶和成膜基板近距离配置。 ' p0 l% ~: L. r
2:真空腔体和靶之间加高频率电压。
. O6 L( `) F" T* G* q/ j3:因为是交流电压,所以带电粒子的加速方向随电压而变。
( ?' i4 o8 K( t: ^( o& F$ W' n4:因为电子比离子轻,容易移动。
# z2 D& r+ s# T$ z6 i5:靶一侧的电子没有流通渠道、使电子密度升高。 3 t+ ^9 U6 E2 g
6:高密度的电子使靶带有负电、会吸引更多的阳离子撞击靶。6 H% t6 `/ g! s7 u- C% F
& S- G! U( ]! `  O/ V8 q
    三、磁控溅射
* @1 L* [* N, H. y    原理 5 z7 d# K' m$ C) L
" \% ?1 m/ c0 t* p& P- |# s
1:成膜基板和靶近距离配置、靶材的后面安装有磁铁。
3 L$ @1 |5 {( }, h- a2:加高电压之后诱发溅射。
! [2 J5 {- c, H5 }: [* u3:因为靶周围有磁场、电子沿磁力线做螺旋运动。 . `: r9 ^& N. h+ l# F7 `
4:在螺旋运动电子的周围产生等离子状态、可进行高密度溅射。
6 t) n. R7 D; d0 Z) r! Z1 k0 q) |. _6 a1 z0 R/ L  U# p- P
  特征
( ]& q1 {, E' e6 k6 k; ^/ @, h8 x/ T" y% O" ]* l
1、也可使用高频电源。
9 `) }0 C8 l8 h7 i7 ]( @2、在成膜基板附近没有等离子状态、基板不受损伤。 1 y- [" V3 N1 j5 P, n
3、溅射量大。
+ h& ]0 K7 T' T6 O- _: l# A* j* A8 y  p2 W
    缺点
/ l3 _/ l# Y9 h- p" I* u0 j
. L8 B8 R) Q2 I: k; p0 T  靶材的磨损不均匀(磁场较强的地方被大量溅射、在磁场南北极中间线附近溅射量较少)。 - h/ f, F$ R, v% w0 y: O
      四、离子束溅射
, A- U" F! P  b  Y      这是唯一一种不用放电的溅射方法。 9 Z. k4 T, t# f: F3 z
       从离子枪(产生离子并加速的设备)发射出来的高速离子照射靶材使其溅射后堆积在基板上成膜其
$ _$ Q! R% w8 V, a; H" {9 x$ _0 V! K* l/ C/ D
       他的几种溅射方式都利用等离子状态、基板同时也受到电子和离子的影响。离子束溅射不采用放电现象。但是为了使离子枪持续产生离子也需要供应惰性气体。  x# i8 Y8 z' m
' L) U3 a- c6 {' Q! ?, T
       (注:使原材料离子化而射向基板的手法被称为离子注入法、而不是溅射。) ' _6 f! S- b: C0 }
       特征
; W! N( }. I5 }% ~' G1、不需要放电来产生等离子状态、高真空状态下也可成膜。
6 \" x6 l) U5 j3 E( I; I" G2、离子源独立存在、单独设定容易。
% S, x( L9 `5 z9 ^% a  z3、靶材不需要导电性。
* i6 C3 L6 X1 ?       缺点
6 _: e; U- ]* b% P  R  Y' a1、设备复杂、昂贵。
" U2 t! B, _! t3 `( M0 c2、成膜速度慢。
8 Y/ v$ \* M1 p" K6 u/ o! p  v0 j0 V
       溅射成膜设备的构成
9 j0 B% k+ L8 ~- g+ V8 u% p% x2 s3 P- A% r$ c, j& q9 r$ q1 C
      除了离子束溅射之外、设备基本构成如下:
1 E7 N0 D7 e7 m: g1 O( D# W1、真空腔体(气体导入口、基板和靶出入口等)。 + q7 k+ Y3 x0 L
2、排气系统(旋转泵、分子泵、因为要放电、所以不需要高真空)。
4 e$ L- t! ]6 ]3、成膜基板台。 ( C/ x; M, M, m7 c1 P
4、靶台。
4 Q) W/ H/ ]# P1 s- g4 h5、电源(高频电源、高压电源)。 ! [2 f) ~0 R/ `, P9 p8 I
6、控制系统。" P) U  p7 e' G7 j! O  d  K
8 d' ~! p  k3 P; V1 g  l3 m
    溅射利用法; E' ?6 P) x% K# E1 G# `
% t- k- p4 m, N8 W
磁气记录媒体。
4 n2 c3 |. j/ I6 K( b+ c0 WCD/DVD(信息记录的金属膜)。 5 D6 y" }! u. X& R) I- W0 f1 k' h
半导体(电路、各种传感器)。 2 w: g& n) h, n$ h" E9 t+ C9 Y
磁头。
8 c/ y& O# A& n2 c! e打印机头部。 . k9 n" e" H( V, [  q4 t
液晶(透明电极部分)。 + h# @1 e# V; u
有机EL表示装置(透明电极部分)。 $ Z) S1 q+ V, a  e& ]# j7 T
高辉度光电管。 ; k1 H6 }. v" k# a; T
电子显微镜样品制作。
0 A) g' T' v4 z% N" u光触媒薄膜。 * C# z) k7 m, t5 D8 x
表面分析(利用溅射的切削作用)。
# m8 {% V) U& F2 n  T1 m5 b形状记忆合金薄膜。
3 \3 o! C9 {( b9 s- s3 T2 L$ Z& ~塑料或玻璃的电子屏蔽膜。
发表于 2009-3-4 14:18:02 | 显示全部楼层 来自: 中国福建龙岩

回复 1# losesky 的帖子

还有电子束沉积,快速镀膜的好方法。
8 J( h' K3 _4 `不过薄膜结晶性能不好
发表于 2009-3-12 20:42:27 | 显示全部楼层 来自: 中国天津
很详细啊
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