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发表于 2009-8-20 09:35:05
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来自： 中国台湾
何时应用Cmk指数) I" {8 c" ]0 E% _
新机器验收时" b* a8 l4 I$ r: |: B. z( {( \
机器大修后0 K! g" y! b0 D$ ]
新产品试制时4 a) A; o& q4 `8 Z2 [
产品不合格追查原因时
( H( _6 f5 p6 ~7 ^4 B+ r- [( B* w 在机械厂应和模具结合在一起考虑8 P- s8 S: ~) q. k/ D# R
Case study
5 X0 P7 f# P7 r- Q, T& a WHAT IS MOTOROLA’S 6σ
: Y s5 F3 i' r) W1 u9 D% ~ ` Normal Distribution-Gaussian Curve
# ~; Q U% j% d5 X% k3 ^- w3 t. D A收集数据：在计算各个子组的平均数和标准差其公式分别如下：
, B' q( w2 h" y! }- ~ Case study
; j# p! o% f3 K' G$ C Case study9 ~4 v9 D* |2 E* P; \. [
请计算出上表的X-s控制图的控制限？
1 R( X/ N( W. @ 请判定过程是否稳定？
6 M/ O1 N/ T/ X. e& Y 如果是不稳定该如何处理？
% l' ]# E+ Y% m3 s6 t8 t$ m 如果制程假设已稳定，但想将抽样数自n=4调为n=5时，那么其新控制限为何？' W+ d/ u. ^/ n2 v5 x# B
B计算控制限
1 k+ P( J$ O) { Case study" c5 G. e' z, e- w5 A
Case study+ `2 H% ^7 `0 }2 e
不良和缺陷的说明' j) q1 ?! j" R+ [/ l
P控制图的制做流程( W/ l; w) ?/ m, x }; `( D
A1子组容量、频率、数量0 K. N$ Q9 ^, _; x% a
子组容量：用于计数型数据的控制图一般要求较大的子组容量（例如50~200）以便检验出性能的变化，一般希望每组内能包括几个不合格品，但样本数如果太利也会有不利之处。) T+ K6 j& q; ^4 w
分组频率：应根据产品的周期确定分组的频率以便帮助分析和纠正发现的问题。时间隔短则反馈快，但也许与大的子组容量的要求矛盾 & _+ g: ~* ^6 l2 z. V# U! Q* W
aliqq
! S: v4 ?: V/ y1 s0 U
: ?/ Q( p7 `& `' [' \ 子组数量：要大于等于25组以上，才能判定其稳定性。
' I/ ~; l# c& G$ u5 J* o A2计算每个子组内的不合格品率2 D0 @* n* Y+ _' B( H3 K
记录每个子组内的下列值$ |% s# V% A* f0 g
被检项目的数量─n
0 r" g7 D V% _ 发现的不合格项目的数量─np: K6 u1 }2 V, c
通过这些数据计算不合格品率5 w2 L5 y( P1 ]5 q6 t
A3选择控制图的坐标刻度
2 ]9 z* X* e8 z8 X8 J7 i 描绘数据点用的图应将不合格品率作为纵坐标，子组识别作为横坐标。纵坐标刻度应从0到初步研究数据读数中最大的不合格率值的1。5到2倍。. L4 E X/ M) f" |& `
A4将不合格品率描绘在控制图上
1 }8 O) c# t( u { 描绘每个子组的p值，将这些点联成线通常有助于发现异常图形和趋势。
+ F% ^- L* M$ i2 { 当点描完后，粗览一遍看看它们是否合理，如果任意一点比别的高出或低出许多，检查计算是否正确。, O; ]$ V$ G$ {" _6 L8 H; r
记录过程的变化或者可能影响过程的异常状况，当这些情况被发现时，将它们记录在控制图的“备注”部份。 r9 ~$ G9 J4 U, d @! G/ b, z
计算平均不合格率及控制限 f4 `" Y- v1 {3 V& B C9 D2 l
画线并标注' N+ B$ U# J" L- e8 q, K# {
均值用水平实线线：一般为黑色或蓝色实线。5 i; \* ~; S/ {% @" h5 t
控制限用水平虚线：一般为红色虚线。
5 f7 m0 @# p1 {6 Z- w" ^; m 尽量让样本数一致，如果样本数一直在变化则会如下图：* T( @: k6 o: D
分析数据点，找出不稳定的证据! O3 H1 u B- ~1 ~& \2 W( b4 [+ X
点. d$ f- J- h* k# j0 ]2 q
线1 w1 z+ l$ f! F% g
面
$ ~* b8 z( S3 {6 \ 以上三种方式做判定。 aliqq
( P1 Q, p& m! p) ?6 N 寻找并纠正特殊原因
! r0 |: T) g- ^ 当从数据中已发现了失控的情况时，则必须研究操作过程以便确定其原因。然纠正该原因并尽可能防止其再发生。由于特殊原因是通过控制图发现的，要求对操作进行分析，并且希望操作者或现场检验员有能力发现变差原因并纠正。可利用诸如排列图和因果分析图等解决定问题数据。: h- z i: P7 O1 \; H- o( t
控制图的实时性* k( t/ T5 W4 i2 z1 H
重新计算控制限, }# W+ v4 k% K9 I2 Q& d' w2 X
当进行初始过程研究或对过程能力重新评价时，应重新计算试验控制限，以更排除某些控制时期的影响，这些时期中控制状态受到特殊原因的影响，但已被纠正。
0 B' {% ~. g3 k+ \* S' C V8 R 一旦历史数据表明一致性均在试验的控制限内，则可将控制限延伸到将来的时期。它们便变成了操作控制限，当将来的数据收集记录了后，就对照它来评价。
* B1 z m {1 K) C 控制限运用说明
8 B* Y- J2 O4 r3 [5 Q: [1 G: x 过程能力解释! u. O) ]# w A$ z# O! ^
计算过程能力
1 J) |! z5 E% z% f 对于p图，过程能是通过过程平均不合率来表，当所有点都受控后才计算该值。如需要，还可以用符合规范的比例（1-p）来表示。
! V- w) s& ?$ F5 R 对于过程能力的初步估计值，应使用历史数据，但应剔除与特殊原因有关的数据点。0 V0 {1 p8 k3 N' ^& ]* ]9 @
当正式研究过程能力时，应使用新的数据，最好是25个或更多时期子组，且所有的点都受统计控制。这些连续的受控的时期子组的p值是该过程当前能的更好的估计值。 aliqq.cn $ T$ f O; n% b5 F2 @
评价过程能力+ l9 l; t3 r, D+ v
改善过程能力# A* k- }4 b+ U
过程一旦表现出处于统计控制状态，该过程所保持的不合格平均水平即反应了该系统的变差原因─过程能力。在操作上诊断特殊原因（控制）变差问题的分析方法 不适于诊断影响系统的普通原因变差。必须对系统本身直接采取管理措施，否则过程能力不可能得到改进。 |
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