SMT錫膏檢驗方法

do0811

請問各位老師，
請問一般錫膏檢驗方法為何?
謝謝。

roger_dong

錫膏檢驗規範
6 E( Y  |. q# R8 D  `1. 本規範引用下列下列標準：
( F% M- I% V( P7 }    JIS C 6408印刷線路板所用銅片之通論
    JIS H 3100銅和銅合金、薄板及銅片
7 J) m. T% K4 b6 _% s    JIS Z 3197錫膏助焊劑合成松香的檢驗方法
    JIS Z 3282軟性錫膏
8 r  H" @4 f$ f; |- I0 V    JIS Z 8801篩選測試

; q1 c- X  Z2 b" [5 c, ^2. 與本規範有關連之國際標準
" z% I/ L3 Z9 w: K/ E    ISO 9454-1：1990軟性錫膏助焊劑的分類和資格第一部份：分類，標籤和包裝
0 O# O8 ?5 j: S3 z% y# z    ISO 9455-1：1990軟性錫膏助焊劑檢驗方法第一部份：測定揮發性、熱重損失試驗

1 j! N) B; M. O2. 定義   為使本規範易於達成目的，定義名詞如下：
' m3 s5 ]/ k% U8 H. s3 X
(1) 錫膏 　　 　：錫鉛合金粉末和膏狀助焊劑的混合物。
4 U5 W" i9 O3 u1 H/ I: A8 v(2) 助焊劑活性　：助焊劑能夠提昇液態融錫在基板表面之沾錫力程度。
' [" e! e5 t4 k(3) 助焊劑效率　：助焊劑的功效表現在焊接過程中 。
! M1 j" K# H8 s! C) f6 i+ A  W, a4 [' S7 }7 B(4) 活性劑 　　 ：用以提昇助焊劑能力。
! Z* \  L3 R4 U/ c2 {* Q9 g2 F(5) 合成松香 　：助焊劑中天然或合成松香。
(6) 松香 　　 　：自松樹所提煉之樹脂，加以蒸餾所得之自然硬性樹脂，或稱橡膠松香、木材松香，或酸性指數為130以上之長油松香。
(7)    改良式松香　：不同松香種類之混合松香，但無法歸類於松香分類之中。
+ ?2 y; W1 f& u  e  g" }; N(8) 松香助焊劑　：助焊劑的主要成份為松香，形式為溶劑之溶液或膏狀物。
(9) 助焊劑殘留物：溶錫加熱之後，殘留於基板之上的助焊劑物質。
10) 塌陷 　　　：錫膏印刷後乾燥或加熱中，其外觀上的改變。
9 M. j; w) {5 [5 \" P3 L(11) 黏滯力 　 ：錫膏黏著於基板上的力量。
! a( G+ f3 w1 ?) j$ U(12) 錫球 　　 ：在錫膏熔化之後，基板表面，出現許多小球狀顆粒。　　
# h: x- J  h4 |; U+ j7 y: Q2 }(13) 錫濺 　　 ：錫膏凝固後，散佈不一的形狀
(14) 不沾錫 　 ：溶錫無法黏著於基板表面上。

' \1 k& {) `9 S' R6 b0 u3. 種類 錫膏種類的定義是取決於不同錫鉛球粉末等級、錫球的外形、尺寸和助焊劑成份品質等分類：如下列表一
1．等級E之錫膏是用在如電子設備儀器中之高品質的焊點需求上。
. l) X( [6 Y8 v2．等級A之錫膏是用在一般普通的電路、電氣設備中。

: ~  e3 |7 l: M7 c/ c8 [4. 品質 錫鉛粉末和助焊劑的品質如下要求
' L- H  _. ?. Y! W9 x& l
4.1錫膏 錫鉛粉末須依標準JIS Z 3282製作，並混合均勻，錫粉表面須平滑有光澤，且沒有其他小粒子黏附。其它粉末表面的狀態必須經由買賣雙方協議

(1)    錫粉的外觀 錫粉將被區分為球型(S)和不規則(I)兩種，球型意指錫粉型。
  
  (2) 錫鉛粉末尺寸的分類
    (a)球型錫粉尺寸的分類：如表二
* E5 H. k, g  c/ G6 A
表二 球狀錫粉尺寸的分類
* x$ K0 Q" g( t, B* _- Z; _3 P( ?3 PUnit:m
& H6 e/ b/ i; X: z7 a4 ^
型號    錫粉尺寸
   超過下列尺寸之粉末大小的質量百分比低於1%    粉末介於下列尺寸的質量百分比佔90%以上    粉末低於下列尺寸的質量百分比在10%以下
S-1    150       150 to 22    22
/ R' E9 A& N- n& J5 b; gS-2    75    75 to 22    22
8 R# x* S  L2 z6 V6 O& aS-3    63    63 to 22    22
S-4    45    45 to 22    22
S-5    38    38 to 22    22
& H0 p! J7 z& X0 k; x; x/ q
    表二所述的尺寸以(1)中縱橫比較小的值為參考值
    表二以外的尺寸需經由買賣雙方協議
9 t2 D* ]9 i; b9 s/ W+ P(b) 不規則型錫粉尺寸的分類   如表三

1 f$ s5 j( ~" B7 v) i- H表三 不定型錫粉尺寸的分類
  v$ D$ ^% h6 |/ f# RUnit: m
型號    錫粉尺寸
  i* F6 A' R7 L, Y& u% u# {   超過下列尺寸之錫粉大小的質量百分比低於1%    錫粉不超過以下排列尺寸的質量百分比佔90%以上    錫粉低於下列尺寸的質量百分比在10%以下
I-1    150    150 to 22    22
I-2    75    75 to 22    22
I-3    63    63 to 22    22
  q* @5 h) Z& y$ NI-4    45    38 to 22    22
7 [$ h2 V' C( n8 W9 d; p
6 A4 s7 Y3 V9 {# D6 U: S, z5 [8 D  表三所述的尺寸以(1)中縱橫比較小的值為參考值
表三以外的尺寸由買賣雙方協議

roger_dong

4.    2 助焊劑和錫膏

  V) O3 l/ d" o" B1 p4 |: s: l0 @/ G(1) 助焊劑的分類 如表四
- g2 V+ z* m: w+ v3 d: n9 M
表四 助焊劑分類

助焊劑區分    成份
   主要成份    活化物質    氟化物
(1) 合成樹脂    1.    松香
) X6 I. a: I' m- [2.    改良松香
3.    合成松香    1.沒有添加
2.氯化銨
. K% J" a) F) M  F. H- @% W3.有機酸、有機銨鹽    F(包含)
C(不包含)
  d. k  P8 Y0 o+ ^# x  A" p" t(2) 有機物質    1. 水性性
& R5 Q9 D7 ^$ |/ Q- N: \5 s( S0 x2. 非水溶性        
(3) 無機物質    a. 水溶性    a.鹵化銨
b.鹵化鋅
( U/ R# k& ~) u# X- s/ d+ G+ {' x" N2 uc.鹵化錫
$ ^- ]: O! x( v: U* D, Bd.磷酸
0 i3 J% O  M+ U; R( fe.鹽酸
1 I- D8 M/ v' ?& J: M; c& A   b. 非水溶性   
0 b5 K4 s$ j+ H6 x& Z
0 w( {; H4 q4 R; H! L: Z(2)    品質分類 助焊劑品質依助焊劑活性、氯化物含量、電子絕緣電阻、腐蝕試驗及銅鏡腐蝕試驗作區分，如下列表五
+ F7 l. c; G2 ?3 J
9 H* n: y; b1 p% c表五 助焊劑品質分類

型號    活性    助焊劑成份    絕緣電阻（1）    腐蝕試驗    銅鏡腐蝕
  n/ Z, {( s! n/ ?           狀態(A)（1）    狀態(B)（2）        
I
8 \: K0 O7 ^1 E低    0.03以下    11011 min        510 min        無    無
II
中    介於0.03到0.1    11011 min        110 min        無    
: T6 Z0 @% ^2 K6 X. n0 W0 |9 F3 G8 ZIII
& _+ \/ ]: u8 k$ r* X高    介於0.1到0.5    11011 min        110 min        無    

注意事項
/ U5 N2 I/ J& \+ m(1) 分別評估在96h和168h之量測值，若96h之量測值恰達到此參考值，則
) K. T' M" l/ v% h/ _/ `+ I在24h之量測值一定低於參考值。
    (2) 條件A：溫度40ＯＣ，相對濕度90%，168h。
  (3) 條件B：溫度85ＯＣ，相對濕度85%，168h。
8 @3 ^/ N' u+ S; T
" s4 O. ~! N2 n* ?5.檢驗程序
2 O# x0 n5 d# ?# g, O; w& r; S
5.1 錫鉛粉末外觀和表面判定、粒徑分類，見附錄一。
5.2 助焊劑中氟化物含量試驗，見附錄二
5.3 氯含量試驗、銅片腐蝕試驗、助焊劑含量試驗，須依JIS Z 3197標準
3 k/ f- C! r( b. Q, G/ m5.    4 電路絕緣電阻試驗，見附錄三。
5.5    銅片腐蝕試驗，見附錄四。
   其他印刷性、流動性、塌陷性、黏滯力、潤濕與抗潤濕性、錫球試驗、錫膏殘留物清洗性、電子遷移等試驗，須經買賣雙方的協議。
5 |4 M8 V( u, w7 L0 }" x! r* ?( X   以上檢驗標準請參考附錄五到十四，表格中的資料請參考附錄十五。

6. 檢測
　錫膏以5.檢測程序檢驗，其結果必須符合4.品質的標準，而其它檢測標準需由買賣雙方互相協議。
7.    包裝
4 E: |' J- Y% ]$ C. K  為了防止錫膏在功能維持、輸送、儲存時所造成的污染或損壞，錫膏應當有適當的包裝做為防護措失。
. m/ O0 q; `7 p9 H8 ~2 ^3 b8.    成品的說明
成品須標示錫膏合金之種類及等級、錫球形狀和尺寸符號、FLUX之等級、FLUX的品質分類及FLUX分類
如Sn40Pb60A/S-3/111F/I/15

9.    標示
! ?; n# A+ d; ]" U2 p錫膏的包裝應包含下列項目：
3 m9 Z' |' V/ Y（1）    錫膏的種類及等級
（2）    粉末的形狀及大小
  b+ ?9 u" j9 m4 f（3）    FLUX的種類
（4）    FLUX的品質分類
) T* J+ k1 j* e; y! A9 x. i（5）    FLUX含量
6 @6 c0 v+ J$ x（6）    淨重
（7）    製造號碼或批號
（8）    製造日期或符號
  n  K3 B8 K" z# C& {（9）    製造廠商或符號
錫粉外觀與表面狀況判定及顆粒大小分佈
0 h3 g( k, g1 a; n- I# u( r
, a! c, Q; `3 b1.範圍
本測試係規範錫粉外觀和表面狀況判定及顆粒大小分佈測試之評估方式

2 g9 s" W% q. i$ T1 u2.測試方式
9 S$ t' v/ M) o+ Q+ j) W/ _) v5 ~3 R此測試方式使用顯微鏡來做錫粉外觀和表面狀況判定測試和表面狀況測試及顆粒大小分佈部測試。

1 P& T3 |8 A9 n2.1使用顯微鏡判定錫粉外觀和表面狀況 使用顯微鏡判定錫粉外觀與表面狀況，步驟如下
7 T$ Q2 U0 I( {/ Q, w; F: ?
(1)    設置、儀器和使用材料
& h$ Y: j; ^/ {) ~# U. w(a)６０％（Wt）的松樹油溶劑（水白松香以適當溶劑溶解）
　(b)攪棒
" `  g, @+ g% u(c)燒杯(５０毫升)
2 N; A& T5 t2 f( m1 O7 o　(d)顯微鏡（100X）和照相設備
" Y  p9 i4 U! I1 w& T5 }　(e)目鏡量測刻度:10um 　
(f)載玻片
# h: o( N4 U8 ^5 k
(2)測試程序
(a)將錫膏回溫到室溫
　(b)使用攪棒將錫膏攪拌均勻
(c)松香溶劑約４公克倒入燒杯內
　(d)加約１公克的錫膏於燒杯內
　(e)使用攪棒將燒杯中錫膏攪拌均勻
$ o6 X) E- L; s: g* o7 S4 M(f)將混合的溶液滴在載玻片上
9 \! N# A1 J7 B8 x: M5 a(g)將蓋玻片蓋上，並輕輕的施壓，使溶液延展開
(h)以顯微鏡觀察錫膏顆粒，若長寬比1.2或以下之錫膏，超過90％或以上（一百顆中有90顆或以上）時，歸類於球形‧其他則歸類於不規則形。並注意錫粉表面是否有光澤、平滑、顆粒間是否沾附其他小粒徑之錫膏
  
0 r. W6 H% s/ @  註：使用電子顯微鏡依照測試程序(2) 判定錫粉外觀亦可
% o& g+ R" r7 n: \
2.2錫粉顆粒大小分佈測試方式
/ n1 m) c5 E* B- r- j. `　錫膏顆粒大小及粒徑分佈的測試方式，判定是否符合規格
8 h; y3 x6 q, n: o6 K. P
(1)測試方式
使用篩網器或超音波，將錫膏內的錫粉分類
, n+ g1 t3 X9 u
(2)設置、儀器和使用材料
(a)篩網或超音波
　(b)標準篩
  標準篩須符合JIS Z 8801規範或相其他規格，其網目為150um、75um、63um、45um、38um和22um　
* T; {, t2 R9 g; t+ B  T(c)篩盤底和頂蓋
　(d)天平﹝精確度須到0.01公克﹞
　(e)燒杯(２００毫升)
(f)錶玻璃
9 f5 h( |' n4 @9 f: V6 s( I(g)IPA溶劑
3 _3 j+ R$ r) t8 ^6 b! g(h)丙酮
　(i)攪棒
(j)恆溫水槽
% ]2 C7 R6 i7 S% b6 T* @(k)加熱器
1 g, J9 {8 j/ \8 P. b3 ^% N
(3)測試程序如下:
(a)將錫膏回溫到室溫
9 \+ p# a- A3 I2 i* Y6 o: w　(b)使用攪棒將錫膏攪拌均勻
! v5 A4 s; H0 S( T& [2 ^4 |(c) 錫膏約１０５公克倒入乾淨的燒杯內
* e7 d' d* G  S: ^& V7 C1 j6 a　(d)加入約１５０公克IPA
　(e)加溫至攝氏５０±５OC
3 x/ o7 E' }2 t% D(f)使用攪棒攪拌，使錫膏中的助焊劑溶解於IPA中
5 K- M/ U) Z+ L0 J0 U# z& E4 T(g)將錶玻璃放在燒杯上
(h)將此燒杯降至室溫後，拿開錶玻璃直到錫粉下沉
; O0 i3 r6 T. c. ]　(i) 將溶劑盡可能流出，須預防錫粉流出
9 b" v8 P; [, q: `, i" E' Q! J& j4 ?3 j(j)加入IPA，並重覆步驟（i）五次
(k)加入約５０毫升的丙酮，並使用攪棒攪拌
(l)讓錫粉下沉於燒杯
(m)小心地將丙酮流出
　(n)將含有錫粉的燒杯移到水槽中，待錫粉完全乾後移開
(o)將燒杯從恆溫水槽移開，並降至室溫
　(p)量測兩個適當網目之上下標準篩及盤蓋與底的重量
8 _; W" R& k6 |$ h% D　(q)較大孔徑的標準篩置於上方
: m# d7 o' c: n/ t- M0 m3 n! h* d(r)秤約１００公克的錫粉，將之放上層標準篩
: E: E( s- x% [( H5 I(s)蓋上篩蓋和底，並且將它放在振動器上
8 @% ~8 N& h* d- x! F
(t)啟動振動器最少３０分鐘‧
( I3 ^0 T$ O, ]( u* l　(u)秤取篩和底盤重量
(v)減掉原來測量的篩網和底盤的重量，就得到各個超過、介於及小於篩網的粉末重量，並以百分比表示

  備註：１．在粒徑分佈量測中，細小粉末如S-5等級，有可能無法順利通過38um網目之篩網，此時，可以，單獨使用38um及22um篩網量測試驗結果。
' f) D! E& t' Y( q9 w5 ^% f. g
　　　　　 ２‧顆粒大小分佈的測試方式包含下列幾種
: D) l" B, ^2 C$ N! H
          (1)使用顯微鏡方式
          (2)雷射繞射方式
9 ?# D1 u! O0 G+ P9 V' }; u          (3)雷射掃瞄方式
& A! |% u2 ?8 n. O' N6 U# B          (4)沉澱方式
5 P% g& b, M: T$ Y/ _& |" @採用何者方式須買賣雙方協議
錫膏FLUX中氟化物含量測試

1.範圍 本測試係規範錫膏FLUX中是否含氟化物之評估方式
9 G* q5 X5 B6 C1 i, k
& f7 Z. C* z* A5 p' o2.測試方法 此測試方法係定性地評估錫膏的FLUX中是否含有氟化物，此測試原理係利用Zirconium alizarin （鋯茜草色素）會因氟化物存在而變成黃色
0 s9 c9 C+ j1 W5 ]2 s9 x
3.設置、儀器及使用材料：

（A）SPOT PLATE（圓盤）
（B）Sodium alizarin sulfuric acid（硫酸鈉茜草色素）
（C）Hydrochloric acid（鹽酸）
( ~, _! L7 z& K0 i5 F7 \（D）Zirconium nitrate（硝酸鋯）
/ F- e' E: X, ?- r7 r7 S9 g6 l（E）Refined Water（蒸餾水）

2 R3 Y7 K7 h: d4.測試步驟 於三個圓盤上各滴上一滴下列溶液，以作成新茜草色素源
3 c7 y& K% A; R4 b" V- P! X
8 {: S0 v1 \2 B! f' U; D3 F6 ^（A）0.05g Sodium alizarin sulfuric acid溶解於50ml純水中之溶液
（B）0.05g硝酸鋯溶解於已溶10ml鹽酸之50ml蒸餾水中之溶液
（C）蒸餾水

5.評估方法

8 }, E2 x$ k9 K. ^  M$ t" y滴上步驟4中之溶液而使鋯茜草色素變成黃色者，則表示FLUX中有氟化物的存在
電子絕緣電阻測試

1.範圍 本測試係規範在高溫及潮濕的測試狀態下，待測錫膏之電子絕緣電阻變化與其評估方式
* \7 W' q/ Z. D4 ~. z8 `
2.測試方法 將錫膏印刷在基材上，將之熔化後置於測試條件下，量測錫膏之電子絕緣電阻。

3.設置、儀器及使用材料
5 a8 Z- @. c% ]
3.1溫濕控制槽 溫濕控制器可設定溫度40±2 0C及85±20C ，及相對濕度85-90%及90-95%之間者
" \& j9 s/ b0 c4 c6 ~1.2    絕緣電阻計 此量測儀器須承受電壓DC100V，並能讀取1014Ω高電阻值之儀器
1.3    加熱鐵板 加熱鐵板應能加熱到260±30C
1.4    烘乾機 烘乾機應能加熱至60±30C 及150±30C
8 ?; s  L( h/ J& _. r( v0 @' f/ N1.5    測試基材 梳子形的電子基材（JIS Z 3197 TEST PIECE 6.8（1）之TYPE2）如Annex 3中圖1所示，組成為GE4玻璃纖維基材樹脂包覆銅基層之測試片（JIS C 6480）

roger_dong

4測試條件與測試片
7 F2 S; ^0 X3 l3 ?+ G2 T
2.    1測試條件如下：
（A）    溫度40±20C 、相對濕度90-95%，維持168小時
% x! M# S7 I4 X4 a& s& w（B）    溫度85±20C 、相對濕度85-90%，維持168小時
4 D- p/ f3 _9 n
+ i: m* d9 J' x8 f4.2測試基材之預處理如下：
( o% Z0 P# D" N  p  V0 W; q" }（A）    在蒸餾水中以軟毛刷將測試基材刷淨，約30秒
（B）    以蒸餾水噴淨並浸泡試片
（C）    在IPA中以軟毛刷將測試基材刷淨
（D）    將試片浸泡在IPA中
5 i! v. ~2 l! P0 g* l（E）    將基材置於烘乾機60C下乾燥3小時
# j; j" h! M& z, t# ~9 \
' s; \6 {0 ?2 t; x, z4.3檢查測試片之絕緣電阻，測試片在未調質前之絕緣電阻應在1013Ω以上

- I  q, P* |7 [4 K4.4測試片調質方法如下：
（A）錫膏塗覆 以厚度約100um之鋼版，印刷出厚度約100um之均勻錫膏，梳子狀之電極部份能順利成形（電極重疊部份可採傾斜孔壁開窗）
/ X; m7 a: ?( X$ N; A（B）錫膏熔化 錫膏在烘乾機中150C乾燥2分鐘，隨後在加熱鐵板上260C熔化約30秒，至少使錫膏熔化15秒以上，待其冷卻後，測試片便完成。
（在印刷與迴焊之後，以放大鏡檢查試片有無灰塵，若有則以鑷子移除異物）
  i( F+ l# h+ @2 y: E' U（C）須清洗試片之調質方法 清洗有需要之試片；如水溶性之FLUX，須以ANNEX13中所述方法處理之
$ Y1 [6 C6 }9 x9 }. Z
5量測方法如下：

（1）以同軸電線接在電極部份，在試片置於恆溫恆濕箱之前，先在DC100V以絕緣電阻計量測電極間絕緣電阻值
9 E7 H8 A7 j" C" ]（2）將試片置於乾淨之溫濕箱中，並設定如4.1之條件，並注意不可有雜質掉落在梳形電極之間。
（3）試片置於溫濕箱中，在24小時、96小時、168小時之後分別取出，以DC100V量測電阻值
（絕緣電阻計中之『GUARD』電極應接於同軸電纜，以免在量測之中有溢電流產生）
& R" S- j# [: o5 Q0 ]' @（在一分鐘後讀取絕緣電阻量測值）
) G) ^& M1 r; D
" ~# E% H' ?8 m2 P! {6.測試數量 每組測試三個試片，並求其絕緣電阻幾何平均值

- w9 f+ q4 k: x3 W! O7.評估方法 由（A）（B）測試條件之絕緣電阻值評估
) t& q9 `! i, I& u$ S' v( m
附註
1.因水滴、灰塵、雜物附著會明顯降低電阻值，測試完後，應立即從恆溫槽中取出，並利用放大鏡檢查有無異物，如發現異物，則取消測試，若發現電阻在測試過程中（24-96小時之間）電阻有短暫下降的情形，則此量測值不準確，因為可能有灰塵之類的異物附著在恆溫恆濕槽中。

7 b  U  V' v, r$ W2.當測試初期的電阻差異（高於1012Ω），應重新回到調質試片之步驟
) ~: E  p! [2 }$ }% d3 P$ J+ G% n* V5 }
3.因應基材的電阻值差異極大，應同時實施空白對照試片，並且記錄以供檢查之。
1 O# e: i' i* o殘留助焊劑的腐蝕性測試

8 X/ z7 \+ M1 G  \1 範圍 本測試係規範錫膏迴焊過後，在潮濕情況下其錫膏殘留助焊劑的腐蝕性的評估方式。
: E' l( Q" g+ j9 _3 \/ {
2 測試方法 錫膏在處理過後的銅片上經迴焊溫度加熱，然後置於測試的溼度下,目視助焊劑殘留物是否變色，藉此判斷銅片腐蝕與否。

; n( E* n- |5 F! c# G5 {* {3設置、儀器和使用材料   

(1)溫溼控制槽:溫度可維持在402c與相對濕度90%到95%之間者
(2)顯微鏡（倍率大於20倍以上）   
(3)鋼版 鋼版有直徑6.5㎜圓開孔四個、各孔中心相距約10㎜，厚度為0.2㎜
(4)攪棒
5 |# Y  k$ a* |' _: Y4 U7 ~' K(5)刮棒（刮除錫浴表面氧化物用）
+ D% s# h! l  L6 r! L7 O(6)手套
2 _7 o6 @+ U- ?  i) z(7)錫浴 Sn60/Pb40合金組成並可控制溫度在2352度之加熱裝置
(8)彎曲夾具   
( e7 s/ I# U% U6 Z, L(9)鉗子           
(10)去氧磷銅片: 依JIS H 3100所規範的 C1201P或C1220P 6片，尺寸大小為50x50x0.5㎜
4 v  G. p6 A8 S5 D! C(11)氨水溶液（25%g/L溶於0.5%L/L硫酸中）
    氨水溶液250克先溶於水中，再小心的將比重1.84濃硫酸倒入，攪動並冷卻加水稀釋至1公升
(12)硫酸（5% L/L） 小心的將比重1.84濃硫酸50ml加入400ml的水中，攪動並冷卻加水稀釋至1公升
(13) 丙酮
" }1 m$ b) q* ~, `% S+ Y5 S  v(14) 蒸餾水
6 M- T8 ^1 h8 _- T
4 測試步驟 使用2種銅試片進行測試
" R' o  R4 w6 u  Z. r7 b) d- E8 j(1)3組銅試片在距兩邊緣5mm處摺成U形,其於三組在距邊緣6mm處利用彎曲夾具摺成U形試片(如圖4.1所示),前者稱A試片,後者稱B試片
/ i% ?* r5 `* x(2)銅片A和B使用前必須事先清理，利用鉗子清潔後,立即進行下一步驟
(a) 在丙酮等中性溶劑中去除銅片表面油脂
& N- v2 n- ~9 z( u$ A5 R(b) 將銅試片浸入60℃到70℃之硫酸溶液1分鐘,以除去氧化膜。
, {; H- @: C8 L* c(c) 將銅試片浸入20℃到50℃的氨水溶液中，以蝕刻出勻緻的表面。

(d) 將銅試片在流動的清水中沖洗，以5秒為限。
  E1 X& S- m/ f(e) 將銅試片浸入≦25℃的硫酸維持1分鐘。
; u0 W0 y5 M/ M: h( e(f) 將銅試片在流動的水中沖洗約5秒而後浸泡在蒸餾水中
! E4 Y! R& Z' \# @' h4 L; y) t+ c(g) 將銅試片浸在丙酮中。
(h) 將銅片在空氣中乾燥。
(I) 盡快的使用處理完成的銅片，否則須放在密閉的箱子中，並在1小時內使用。
(3)如果錫膏在冷藏狀態下，必須回溫至室溫狀態才可印刷於銅試片上。
% N$ G0 U* W8 y9 U/ m3 f(4)利用攪棒使錫膏均勻
(5)將鋼版置於在銅片B上。
' M: `# h! z  c7 K(6)取適量的錫膏在金屬鋼版上，並用刮刀將開孔填滿錫膏。
(7)移去金屬鋼版。
(8)在銅片B上重覆步驟6（共須二片B銅試片）
3 `( u* m& G+ o6 Q; h3 y. }(9)銅片A當作蓋子，蓋住B銅試片(留一組當對照組用)
& c3 o4 u$ i" m1 K1 }  v6 V/ ?4 M(10)由刮棒清除錫浴表面氧化物，將溫度維持在2352C(2152C是在VPS條件下所採用)
( O# P. L# N+ E$ f. m; h% ^3 M(11)水平的將銅試片置於錫浴表面，待熱使錫膏熔化後，維持5秒後移開
(12)移開銅試片,維持水平狀態並冷卻15分鐘，然後，檢視迴焊後的變色狀況
(13)將三組試片水平地置於溫溼度控制器中，將溫度設定為402C.相對溼度90~95%之環境下72小時，除三組試片外，溫濕控制槽中勿留其他雜物。
3 o( c1 _# M' q& g0 i0 i- u(14)利用顯微鏡觀察試片的腐蝕物(包括A銅試片)
( J. N( u, X* [  C( C
- l- y" J( @$ p# g! M5 o% y5.評估方法:腐蝕是銅片、錫膏、及殘留助焊劑等物質在錫膏熔化後，在溫溼度條件配合下的化學反應物，當試片腐蝕時，可觀察到下列現象:
) B7 L" P9 W' A7 e9 n/ C1 |
(a)外來物質黏附在蓋子的邊緣上，或殘留助焊劑與銅交界處(殘留物表面或裂縫中）及外來物變成藍綠色，但錫膏最初受熱的變色情況不予考量)
& Y; U- _0 G  r% K$ O9 P
(b)殘留物中白斑和變色斑點
" E2 z: D8 A& Z2 L
( a' v$ m: N& Z% ^2 L+ c評估腐蝕與否是由(a)(b)條件的變色情況相較於對照組的顏色所決定。
3 R! N9 I$ c# s' ]0 ]錫膏印刷性測試

6 c1 p7 r8 ~" @% L% y, c! ]1.範圍 本測試係規範錫膏的顆粒形狀和大小在初始印刷與連續印刷錫膏之印刷性、穩定性的量測與評估方法

, C( P6 D1 I" |$ i2.測試方法 印刷性之評估係採用標準圖孔圖形，待測錫膏印刷於銅片上，錫膏在銅片的形狀與厚度（分佈），及連續印刷後的穩定性，均可依此規範量測，以評估印刷性之優劣。
; u+ @. C- t# `$ ?4 P6 v
7 [# \" w2 f4 \3.設置、儀器與使用材料

3.1印刷機及印刷條件 以下項目最好一致
（1）印刷機   形式及種類
) G, m; Y. i, H3 O（2）網版     金屬類
6 \' f0 p# w7 M$ Z3 y+ ]; ^: f（3）刮刀     硬度、角度等
; a$ Q5 Q' @: s2 G/ D' k（4）刮刀速度 印刷速度
（5）印刷壓力 刮刀進給量
- }! p) Z1 D4 G" l, b0 B（6）印刷角度
（7）網版與銅片之印刷間隙
（8）環境溫度
( k( W3 d* m. g# T
3.2金屬網版
' P& g5 M, @2 A0 U7 w7 P0 V, a4 ]+ v
三種不同的圖形尺寸之不鏽鋼金屬網版如Annex 5圖1所示（孔壁必須垂直）
4 k" T+ e+ R& u# E9 e8 @" G
3.3測試裝置和試片
（1）錫膏
: {# W& K5 _' P7 n# j- J（2）鍍層銅片（160x160x1.6mm）
（3）Stereo-Microscope和照相設備
（4）雷射量測設備（雷射光圓之束徑應小於50um以下）或表面粗糙度量測計（滑動式）

4.量測程序 錫膏之2D量測係藉由Stereo-Microscope照相設備（50X）完成，3D的量測則須藉由雷射量測設備或表面粗糙度量測計達成，錫膏厚度量測應排除錫膏的凸起部份
; W' e, a8 m$ k) j& B% p& q! U3 _
附註：表面粗糙度量測計量測錫膏形狀，待測錫膏應在印刷完成後置放一或二
天，以使錫膏硬化

5.評估方法 初始印刷之印刷性及連續印刷後之穩定性可藉由不同形狀與尺寸鋼版開孔來評估，且隨著錫膏形狀及厚度不同，其變異情形也不同。
4 a- R* O1 s& Z1 O& z
不管初始印刷或連續印刷均不可有污損及刮傷的情形出現。
8 z; W! t& a" R( E9 @  d- M! o5.評估方法 初始印刷之印刷性及連續印刷後之穩定性可藉由不同形狀與尺寸鋼版開孔來評估，且隨著錫膏形狀及厚度不同，其變異情形也不同。

不管初始印刷或連續印刷均不可有污損及刮傷的情形出現。
4.量測步驟如下：

4.1以SPIRAL METHOD量測黏滯性
2 V! |3 x  n7 O0 q; ]) P6 h
+ h# M) l5 z  s9 U8 B（1）將錫膏在室溫或25C回溫2-3小時
（2）打開錫膏罐 ，並攪伴錫膏使之均勻，為避免太多空氣進入，攪扮時間以1-2分鐘為宜
% h6 R/ n- e* L5 |（3）將錫膏置於恆溫箱中
; F6 w6 L' k) ]% E5 F; w/ U（4）設定旋轉速度為10RPM，溫度25C，旋轉三分鐘後，檢查錫膏是否由轉動出口流出，停止轉動或使錫膏維持均溫。
8 ^$ y0 E3 i; d, N" A7 f（5）溫度達穩定狀態後，調整旋轉速度10RPM，3分鐘後讀取其黏滯性值，
* \6 `) ]3 u0 M6 b; S（6）之後，設定旋轉速度為3RPM，並在此旋轉條件下維持6分鐘
/ _5 C! K! ]9 Y; N% S（7）6分鐘後讀取黏度值
（8）依序改變旋轉速度由3→4→5→10→20→30→10RPM依序調整，並分別在適當時間讀取黏度值
讀取黏度值的旋轉時間為6→3→3→3→1→1～3→1～3分鐘

4.2以Rotary disk method with whirl’shaped groove量測黏滯性
. g& @. p. k5 D8 s4 f
（1）將錫膏在室溫或25C回溫2-3小時
（2）打開錫膏罐 ，攪錫膏使之均勻，為避免太多空氣進入，攪扮時間以1-2分鐘為宜
9 }  i/ |$ i+ D; x. D5 |（3）以適當工具將待測錫膏塗佈在玻璃片上
& p4 p8 }4 A& ]) t: s$ \（4）在旋轉速度2.5RPM、時間144秒後讀取黏滯度（η1），並在10RPM速度36秒時讀取另一黏滯度（η2），最後，在2.5RPM速度60秒時讀取黏滯度（η3）
9 y+ l; r* U( s+ j% C（4）刮除待測樣品，重新塗佈待測錫膏重複步驟4
( w5 e+ P6 m2 u- L+ b& l: O（5）此外，在10RPM速度36秒讀取黏滯度η2
' b# O! R! z0 z2 u9 i: S. L. j, v
* J; |' D- k4 }: x& O" h. {4.量測步驟如下：

- X9 G6 K& O9 |$ N# E1 g' [4.1以SPIRAL METHOD量測黏滯性

（1）將錫膏在室溫或25C回溫2-3小時
% o) C# Q( T, E) q: s, y（2）打開錫膏罐 ，並攪伴錫膏使之均勻，為避免太多空氣進入，攪扮時間以1-2分鐘為宜
（3）將錫膏置於恆溫箱中
; [: m1 G* h& ~- {/ m3 o' e" ]（4）設定旋轉速度為10RPM，溫度25C，旋轉三分鐘後，檢查錫膏是否由轉動出口流出，停止轉動或使錫膏維持均溫。
& e8 N8 P2 ]& A' [: U' W  ]1 i（5）溫度達穩定狀態後，調整旋轉速度10RPM，3分鐘後讀取其黏滯性值，
+ o/ ]; A: F9 g7 ^& d. R/ A（6）之後，設定旋轉速度為3RPM，並在此旋轉條件下維持6分鐘
（7）6分鐘後讀取黏度值
+ C' Z3 f4 O: m( G% k（8）依序改變旋轉速度由3→4→5→10→20→30→10RPM依序調整，並分別在適當時間讀取黏度值
讀取黏度值的旋轉時間為6→3→3→3→1→1～3→1～3分鐘

4.2以Rotary disk method with whirl’shaped groove量測黏滯性

（1）將錫膏在室溫或25C回溫2-3小時
（2）打開錫膏罐 ，攪錫膏使之均勻，為避免太多空氣進入，攪扮時間以1-2分鐘為宜
（3）以適當工具將待測錫膏塗佈在玻璃片上
& `- u# B6 y# P0 g& B7 T2 s  \（4）在旋轉速度2.5RPM、時間144秒後讀取黏滯度（η1），並在10RPM速度36秒時讀取另一黏滯度（η2），最後，在2.5RPM速度60秒時讀取黏滯度（η3）
6 H, Q2 T4 ~/ p+ R1 M6 }. u（4）刮除待測樣品，重新塗佈待測錫膏重複步驟4
) P4 J0 n! Y9 }& a+ p' O$ x（5）此外，在10RPM速度36秒讀取黏滯度η2

roger_dong

4.3以Nozzle flow method量測流動性：

（1）將錫膏在室溫或25C回溫2-3小時
（2）打開錫膏罐 ，攪扮錫膏使之均勻，為避免太多空氣進入，攪扮時間以1-2分鐘為宜
: b$ s3 @7 d8 r( r! u（3）將待測錫膏注入內徑23mm之注射器中，並避免空氣進入
2 |0 w4 l9 d- V* d+ b1 `$ P* H" {1 j（4）將此注射器翻轉，使注射器在設定的10ml位置，並由加壓使注射器在10 ml位置將錫膏擠出，填滿錫膏約2/3深度使其達到10ml位置，並以石蠟活塞頂住錫膏
% r" I" E3 j* n（5）將錫膏卡匣置於密閉容器中
（6）錫膏卡匣直立狀態下，在恆溫箱中25±0.25C維持4小時
6 m: c! H$ w6 W0 G/ n（7）以IPA溶劑清潔玻璃片
3 B2 h8 c8 c3 q" `: {（8）準確量測玻璃片重量至0.001g精度
（9）由恆溫箱中取出卡匣，並以支撐物支撐
（10）以0.2MPa壓力作用於卡匣錫膏上20S
（11）水平置放玻璃片，針嘴離玻璃片2mm，如圖所示
（12）分別在壓力0.2、0.3、0.4、0.5MPa作用10秒，並移動錫膏位置，每個測試條件下移動三次
+ }3 V* f8 z" Y' N  M% V; Q; ^（13）量測玻璃片上錫膏的重量
' K+ h4 L$ o  x2 w（14）求取以上測試條件之錫膏重量平均值
4.    評估方法
) |; Q: w, q. z% |  e# p# a
黏滯度剪應變速率曲線和觸變性（觸變指數及錫膏非回復率）是由黏滯性量測而得，而錫膏之流動性則是由此特性而估算出，此外，亦可由Nozzle flow 法中玻璃片上的錫膏量測得錫膏流動性

5.1黏滯性-剪應變速率關係：
# V/ m3 I. W, \
  黏滯性-剪應變速度曲線（logη-logD），可由前述黏滯度量測結果得到
4 i: }  _; a* g& p& v其中，η代表黏滯度 D：剪應變速率
2 j  n( ]- e6 K7 t/ ^6 TD1=1.8S-1（3RPM）：螺旋法
& i3 ^+ l, K  U8 W3 k! A, \( _6 u; WD2=18S-1（30RPM）：螺旋法
  D- @# x8 T# }$ w: nD1=5S-1（2.5RPM）：SPP
- X  {. H( k0 G8 @/ r# i# p- R) ND2=20S-1（10RPM）
5.2觸變指數（Trixtropy Index,TI）
! [& [; T8 I1 N1 f, g7 H  觸變指數由自然對數之黏滯度-剪應變速率曲線（圖2）中之梯度獲得，
TI=log（η1/η2）/ log（D1/D2）
* M. _- S  \* {3 {4 Q2 ]其中
η1=剪應變速率D1時之黏滯度
4 D0 r2 v! n: S  ?- {0 W( z- Wη2=剪應變速率D2時之黏滯度
& s. o+ S  i4 b0 r( _8 ?, _D1=剪應變速率
D2=剪應變速率
( r4 [: I5 L; @, P6 q5 ~) A" @5.3黏度非回復率（R,Rs）
4 y, X* F& u9 G黏度非回復率R、Rs由黏滯特性ηb或η3代入下列公式獲得，在設定的速度的速度下量測黏滯度ηa及η1，並由改變速度量測黏滯度，並回復至初始設定速度以量測ηb及η3（如Annex中之圖3圖4）

9 ~5 A& f! y/ a8 K' B; J9 }1 R" ~（1）    以SPIRAL METHOD 之黏度非回復率
9 S4 m- h: E/ T% iR=「（ηb-ηa）/ηb」x100%
$ A) p% j! S$ m: i以SPP法之黏度非回復率
2 @7 Y) T; T$ B" F0 x% D8 ^# F# XRs=「（η1-η3）/η1」x100%

其中ηa=剪應變速度為6S-1之初始黏滯度
" _7 @3 {' X- w2 ^  V: Y5 rηb=剪應變速度為6S-1之回復黏滯度
η1=剪應變速度為5S-1之初始黏滯度
' t* f) k( T: Y( ]* Bηa=剪應變速度為20S-1之回復黏滯度
註：
剪應變速率由以下關係獲得
SPIRAL METHOD：RPMX0.6 S-1
SPP METHOD ：RPM X 2.0 S-1

5.4以Nozzle Flow 量測錫膏之流動性

  流動性由停留在玻璃上的錫膏重量（M）和重量差異（ΔM）代入公式求得：
ΔM=MMAX   -   MMIN
其中，MAX代表最大錫膏量，MIN代表最小錫膏量
錫膏坍塌試驗（印刷過程）

1.範圍 本測試係規範錫膏印刷後，進入迴焊過程前之坍塌性質評估方式

% C0 A: |8 T0 C6 U! s2.測試方式 在測試條件下評估錫膏在銅片上散佈的程度
1 D4 Z$ |5 U8 X: t
" ]5 N5 r  D* l3 [3 O9 L5 y: \8 M6 X3.設置、儀器及使用材料
' e! L2 L# f' I- ^/ u% U
（1）銅或不鏽鋼材質之鋼版，厚度為0.2+0.001m，並依圖（I）3.0X0.7 mm (II)3.0X1.5mm兩種開窗，二者 開窗間距從0.2mm開始以0.1mm為單位增量至1.2mm
2 v! C1 L: m1 g1 a/ ^1 Y6 Y（2）鍍層銅片（80x60x1.6 mm）
（3）空氣循環式加熱爐（加熱溫度200OC或以上）
! h& ~- r; T2 T/ {  g（4）研磨砂紙（600#）
- k2 A! X" _: i# @* j2 [（5）IPA清洗溶劑

3 u0 T9 _6 l5 |4.量測步驟
- @) V4 v! }& y（1）以砂紙磨除銅片表面之氧化物，並以IPA溶劑洗淨
（2）將鋼版置於銅片之上，以刮刀將錫膏印刷於銅片上，之後，移開鋼版
（3）將待測試片置於室溫下一小時
( ?3 j' F( t# v( _) y2 W（4）量測與記錄二種鋼版開窗中五列錫膏並未產生錫橋的最小間距

5.評估方法
* a0 J3 f- C; H0 C, L
      評估標準取決於二種鋼版開窗錫膏並未產生錫橋的最小間距
0 f7 f+ E0 V: s8 F5 o4 _7 R; {錫膏坍塌試驗（加熱過程）
/ w6 N/ j) a, R/ j! G/ i
1.範圍 本測試係規範錫膏在迴焊過程的加熱階段之坍塌性質評估方式
- ^5 V' z) O* \0 j  z4 R
$ W8 Z: h5 M) B( o( z/ j2.測試方式 在特定加熱條件下評估錫膏在銅片上散佈的程度
) G% B) u& Q. \6 n. r8 O& b
3 I) Q/ X  r% [3.設置、儀器及使用材料

（1）銅或不鏽鋼材質鋼版，厚度0.2+0.001m，並依圖（I）3.0X0.7 mm (II)3.0X1.5mm兩種開窗，二者開窗間距從0.2mm開始以0.1mm為單位增量至1.2mm
3 k4 u; g$ C* F% r- |7 c$ z( q（2）鍍層銅片（80x60x1.6 mm）
" I2 p! F8 A; [% a; }: t! N: J( H$ v（3）空氣循環式加熱爐（加熱溫度200C或以上）
（4）研磨砂紙（600#）
（5）IPA清洗溶劑

. s' d, G( S  |# ~4.量測步驟
# S) [  k3 `/ P# @（1）以砂紙磨除銅片表面之氧化物，並以IPA溶劑洗淨
（2）將鋼版置於銅片之上，以刮刀將錫膏印刷於銅片上，之後，移開鋼版
（3）以空氣循環式加熱爐150OC加熱待測共晶錫膏試片一分鐘，或是以低熔點錫膏的固相溫度下10C作為加熱溫度
（4）量測與記錄二種鋼版開窗中五列錫膏並未產生錫橋的最小間距

) N% l+ s+ d9 a' L9 A4 r5.評估方法
- ~7 C3 i, L0 S7 o% }; ^; G
      評估標準取決於二種鋼版開窗錫膏並未產生錫橋的最小間距
黏滯力測試
$ z# X- ^6 |5 U% u  K
1.範圍 本測試係規範錫膏黏滯程度之量測與評估方式
/ D5 N% w6 Z" h1 `6 l6 n0 R
2 n. d' z. z: b2 {- I2.測試方法 此黏滯力測試係在特定量測條件下針對乾燥中的錫膏，探針接觸錫膏後拉離錫膏表面的最大拉伸應力

6 y. v: e  S4 k' J0 d# y! e3.設置、儀器及使用材料
1 w2 t6 Z' m+ \* l
! k* S  m% I! H  q5 l（1）黏滯力量測儀器
" H+ u' |; B4 X! a（2）鋼版 鋼版厚度為0.2mm，其中有四個6.5mm直徑圓開孔
* m) o% U. W. x- H2 N0 y（3）不鏽鋼製的圓柱探針 探針直徑為5.10+0.13mm，連接在黏滯力量測儀器上，探針的底部為平面，能平行試片上之錫膏表面。
（4）載玻片（76X25X1mm）
（5）固定裝置 固定載玻片裝置
（6）溶劑 溶劑用來清潔探針表面油脂，及溶解錫膏FLUX，如IPA之類溶劑。

1 ?; N4 ~; t% @4.量測步驟：量測步驟如下：
1 ?1 R5 t, ]* @+ }5 M% ?
（1）利用鋼版將錫膏印刷在玻璃片上，開窗形狀為4個厚度0.2mm、直徑6.5mm圓形開孔（四個錫膏印刷形狀厚度應均勻一致，可避免錫膏顆粒散開）
4 R* D8 {( M+ D0 w" M3 \
（2）上述步驟應在室溫25±2C，相對濕度50±10%條件下進行
% S4 V9 X# x1 \$ W6 [# I
# r0 Y! P% C- K- S  {5 p（3）試片移置探針下方，探針對準錫膏的中心位置，以2.0mm/s將探針降至錫膏表面，並且施壓50±5g，在施壓後，探針在0.2秒以內以10mm/S速度向上拉離錫膏表面，記錄拉離的最大負荷，同一條件下作五次量測，並求取平均值，而黏滯力強度KN/m2，則可由此最大負荷計算出。
# |$ j8 h# ?$ C7 m9 g. _
（4）印刷後置放時間與黏滯力強度的關係，可由上述步驟得到。

5.評估方式

  ]7 v5 Q3 _$ f6 g" a由錫膏印刷後置放時間與黏滯力強度的關係，得錫膏黏滯力的強度之優劣關係
潤濕與抗潤濕效果測試

1.    範圍 本測試係規範錫膏潤濕效果量測與評估方式

. Z4 O& G; G/ a2 o2.    測試方式 在測試條件下量測錫膏熔化後在平面基材上的散佈情形

: z0 p, C7 K6 W$ B! S3.    設置、儀器及使用材料
（1）銅片 （二種規格）
+ a/ V8 k' L2 Q; e- t! I& X無氧磷化銅片 符合JIS H3100 C1201P或C1220P規格要求之銅片，尺寸大小為50X50X0.5mm
; x8 n* F2 U: E6 @黃銅片     符合JIS H3100 C2680P規格要求之黃銅片，尺寸大小為50X50X0.5mm
（2）砂紙（600#）
（3）IPA
（4）鋼版 厚度0.2mm且含直徑6.5mm圓開孔四個，且每個開孔中心彼此相距10mm
（5）攪拌刀
（6）手套
（7）空氣循環爐
（8）錫浴 錫浴尺寸至少須（100x100x75mm以上），若使用60Sn/Pb錫膏合金，則錫浴溫度應維持在235±2OC或215±2OC，用來沾錫的工具應使用較不吸熱者為佳。

7 r  @* A/ h' ]/ Y4.    測試步驟：以下步驟應個別測試銅片及黃銅片，操作時應戴手套以免污染試片
（1）設定錫浴溫度為225+-2C，使用VPS則設定為215+-2C
（2）將錫膏回溫至室溫
（3）以IPA清洗銅片及黃銅片
7 e1 J; s3 ^* C# f( R) ]2 E（4）以濕砂紙將試片拋光，先拋光一方向，接著再以垂直方向進行下一次拋光
（5）以IPA溶劑清洗銅試片表面
7 p5 m) s* ]0 @（6）以攪拌刀攪拌錫膏均勻
（7）將鋼版置於銅片上，銅片須於拋光一小時內進行
（8）使用刮刀均勻的將錫膏填滿鋼版開孔
（9）從基材上移去鋼版
（10）在空氣循環爐中設定溫度150C，將錫膏烘乾一分鐘
; w" P/ G( p$ L% M: K（11）以刮棒清除錫浴表面氧化物

$ O$ |6 M5 N3 j2 d4 M9 v（12）垂直的將試片接觸錫浴表面，並使錫膏熔化
（13）錫膏熔化五秒後，垂直移開試片使之冷卻
) ^  b; g6 I6 M（14）讓基材在垂直狀態下冷卻，使液狀錫膏在基材上穩定下來。
（15）檢查錫膏在銅片上散佈的程度
* o5 a* t, S, q6 K& ?, O
& n/ X6 G) P* e- F9 h8 p5.    評估方式：如 Annex10中表一所列程度分級

8 l# W: a8 [# \: Z6 K& P等級    散佈情形
/ w; b; x' _6 I8 u8 R1    錫膏熔化後潤濕基材，潤濕區域比錫膏印刷面積大
* p, X7 M7 G; z: s% G! {* ?" P2    所有印刷區域均被熔化後錫膏潤濕
4 m% M# h* ?' U5 P6 |# y" G3    幾乎所有印刷區域均被熔化後錫膏潤濕
4    似乎無潤濕現象，錫膏熔化後形成單顆或數顆圓球（包含不潤濕現象）
/ I2 M# S8 k) K! G" U
  K3 I+ K" e- s. g6 h6 M8 q/ \5 ^附註
' U; i; W. n" Q% E2 V1錫膏有時會因毛細現象作用而沿著基材裂縫延伸，此散佈區域，不須列入考量

2.一些小錫球產生是因為迴焊效果不佳，不須列入考量

3. 錫浴溫度設定為235+-2C，是基於共晶錫膏的考量，若非使用共晶錫膏，錫浴的溫度可選用錫膏合金液相溫度加50±2C，若使用VPS，則溫度可設定215±2C。
（12）垂直的將試片接觸錫浴表面，並使錫膏熔化
! y" e: _: X3 P- \（13）錫膏熔化五秒後，垂直移開試片使之冷卻
（14）讓基材在垂直狀態下冷卻，使液狀錫膏在基材上穩定下來。
. q  {/ m1 B' H$ m* H+ a（15）檢查錫膏在銅片上散佈的程度
  I! h0 y- g  Y
5.    評估方式：如 Annex10中表一所列程度分級
6 f8 ^& ~; q7 G  f( h; z6 {! L
: R) q- X. w! r" w7 N1 k等級    散佈情形
1    錫膏熔化後潤濕基材，潤濕區域比錫膏印刷面積大
* Y* w7 C. ?4 ^' |$ D% C2    所有印刷區域均被熔化後錫膏潤濕
3    幾乎所有印刷區域均被熔化後錫膏潤濕
4    似乎無潤濕現象，錫膏熔化後形成單顆或數顆圓球（包含不潤濕現象）

附註
1錫膏有時會因毛細現象作用而沿著基材裂縫延伸，此散佈區域，不須列入考量

2.一些小錫球產生是因為迴焊效果不佳，不須列入考量
. p  d% Q3 ~, q* r. ^- W3 j8 X$ a
* T# X- p1 o2 p$ A6 |/ e3. 錫浴溫度設定為235+-2C，是基於共晶錫膏的考量，若非使用共晶錫膏，錫浴的溫度可選用錫膏合金液相溫度加50±2C，若使用VPS，則溫度可設定215±2C。
所有凝固的錫膏（錫球的分布）須利用放大鏡（10~20倍）觀察，顆粒大小和數目利用50倍放大鏡計算，評估方法依附件11中表一和圖一為標準

- L: X1 ?9 G$ y! p1 v表一 錫膏顆粒凝聚現象
. `" L! G- H2 ?, F9 c# L5 ?

凝聚程度    說明   
1    錫膏熔化形成大圓球，周圍無錫球   
- n' ~1 C, @. l1 m3 r- Q( b' j
1 m+ @/ x( u! U4 W4 z" m2    錫膏熔化形成大圓球，周圍僅有三個以下直徑小於75um的錫球     


, N6 j$ ]# [$ q+ R1 `, h, \3    錫膏熔化形成大圓球，周圍有四個以上直徑小於75um的錫球，但他們並未形成半連續環狀結構     
1 k5 j7 W# q" T1 S  A( L( x

4    錫膏熔化後形成大圓球，周圍有許多直徑小於75um的錫球，並形成斷續環狀結構   
2 N* r4 `5 ?. G: g: _

, G- u& O( [% D2 k) t
所有凝固的錫膏（錫球的分布）須利用放大鏡（10~20倍）觀察，顆粒大小和數目利用50倍放大鏡計算，評估方法依附件11中表一和圖一為標準
7 V: I% Y$ E) w! k5 Q0 Z
- @1 ?" @! f6 i8 z; Z1 B表一 錫膏顆粒凝聚現象
& @' m+ \! V  m: T0 L
# o5 }+ m! d  b" p
; [! I* `. ?! C2 |- W6 c8 P; ]凝聚程度    說明   
1    錫膏熔化形成大圓球，周圍無錫球   

2    錫膏熔化形成大圓球，周圍僅有三個以下直徑小於75um的錫球     
' ~1 C" m. f( s0 o
1 V; B! P% M0 o$ S2 m5 Y# X
3    錫膏熔化形成大圓球，周圍有四個以上直徑小於75um的錫球，但他們並未形成半連續環狀結構     
  [1 c. Q1 P# b, p- M' \* J
$ \# r4 g7 ~3 h7 p8 f
4    錫膏熔化後形成大圓球，周圍有許多直徑小於75um的錫球，並形成斷續環狀結構   
8 d- ~! P5 @! }
9 c5 |7 X! o8 d5 B; ?$ l3 J
9 e3 [# S6 |4 z* u9 W2 X; z
, u/ j! o( ^  y, T9 k0 F6）充分將滑石粉末灑在試片錫膏殘留物上，並用軟刷輕輕的刷過試片

( x2 f; w' i- ?9 t3 f" g1 ~（7）以潤濕測試方式來評估優劣關係

roger_dong

5.評估方式

( B& ~6 C9 [; E; d4 E3 o定義：若軟刷能容易的將滑石粉末刷除，則FLUX並無黏滯力，若無法或難以清除滑石粉末，則錫膏殘留物有黏滯力。
( I  R) k# L: f7 T5 N錫膏清洗性測試
8 a6 V4 k) [/ a9 C" Z7 f4 E$ @
  E# W. a% @; P+ a7 |1.    範圍 本測試係規範錫膏在迴焊後藉由解離物質停留在印刷電路板上多寡來評估清洗性的優劣。

2.    測試方法 清洗性測試是由量測清洗溶液在清洗PCB上的解離物質前後之相對電阻變化，並推測單位面積上的NACL含量。
! S, K/ x+ h5 g/ T
: f: M6 s% _# Y# [- N3 `3.    設置、儀器與使用材料
8 }+ E7 F4 Q  h9 s1 S5 \
. s+ l7 b' F6 F9 U（1）    電橋
（2）    聚乙烯燒杯與漏斗
（3）    聚乙烯清洗罐
0 X, m0 |  z! g7 E" |（4）    燒杯（2L）3個
（5）    加熱鐵板（能控制昇溫速率與溫度）3個
（6）    螺旋桿（鐵氟龍製，45mm之長方棒狀），以非燃性之清洗溶液進行下列試驗：並由以下裝置交換設置（5）（6）
/ I  r( Z6 \4 z1 X# H7 _. J- ?（A）    水杯
: C2 K: }# V8 Y( z. m（B）    防濺型加熱鐵板3組
5 |6 V9 J; G6 ~6 m1 U（C）    防濺型攪拌機
（7）    絕緣材固定籠2組（避免基材重疊或是螺旋葉片碰撞基材）
（8）    絕緣電阻基材，絕緣電阻基材如ANNEX3中所使用
（9）    測試溶液：由IPA（反應劑）與蒸餾水或去離子水以75：25（體積分率）混合而得，電阻值至少為6X104Ωm以上）
5 |, j' y2 z4 p（10）    清洗溶液
% b' ]# x& }1 |) p) t+ m! uA：ETHYL ALCOHAL 、ISOPROPYL ALCOHOL（乙醇、IPA）
B：HIGH BOILING POINT SOLVENT SUCH AS TERPENE（高沸點C20H16基溶劑）
C：ALKALI SAPORIFICATED WASHING LIQUID（皂化鹼）
D：WATER（水）
  l* J0 M: \8 i0 T5 r* V2 P
4.    清洗程序 如下
（1）    清洗試片準備：清洗9片ANNEX3所用之絕緣電阻測試試片，並在合成松香迴焊後一小時，其餘松香三分鐘以內量測其絕緣電阻
（2）    清洗溶液準備
! T; I9 z& b; H" {（A）A清洗溶液，在水槽之中置入三個2L的燒杯（abc），並將清洗溶液加至1.5+-0.1L，之後將燒杯放在防濺型加熱鐵板，並設定溫度在40+-3C，並且以620+-50RPM速度攪拌溶液，此外，每個燒杯應有良好之欄架固定，隨時將溶液的量維持在1.5+-0.1L
& W- }$ T/ D+ a; [; w（A）    B和C清洗溶液，將三個2L（abc）的燒杯置於水槽之中，並於A燒杯中清洗溶液加入至1.5+-0.1，蒸餾水或去離子水則分別加入B或C燒杯中，之後將燒杯放在防爆型加熱鐵板，並設定溫度在50+-3C，並且以620+-50RPM速度攪拌溶液，此外，每個燒杯應有良好之欄架固定。清洗溶液閃火點低於60C以下時，只有A燒杯須在水容器中加熱，並設定加熱溫度在閃火點下10C。
（B）    D清洗溶液，將三個2L的燒杯置於水槽之中，並於（abc）燒杯中加入1.5+-0.1之蒸餾水或去離子水，之後將燒杯放在防濺型加熱鐵板，並設定溫度在50+-3C，並且以620+-50RPM速度攪拌溶液。
0 s' H  g, I1 A0 C
（3）    清洗方法如下：
8 M: }' ?/ P. t3.1    A清洗溶液

（A）在A燒杯置入待測試片，並完全浸於溶液中，攪拌溶液一分鐘後取出
9 z. f) g! V( g5 k. x（B    ）將拿出的試片浸泡於100ml清洗溶液中
（C）將浸在A燒杯之試片置於B燒杯中，攪拌溶液一分鐘，之後取出
& G5 _$ i, [) K/ \- ~4 b( Z. C% \: z（D）將b燒杯拿出的試片浸泡於100ml清洗溶液中
（E）將浸在B燒杯之試片置於C燒杯，攪拌溶液一分鐘，之後取出
（F）將拿出的試片浸泡於100ml清洗溶液中
（G）在80C熱風下，使試片乾燥一分鐘

3.2    B與C溶液
0 }' U7 m& H1 M& G, Y+ o. e* z7 \（A）在A燒杯置入待測試片，並完全浸於溶液中，攪拌溶液一分鐘後取出
3 q& w! B  V* n( N( g（B）將拿出的試片浸泡於100ml蒸餾水或去離子水中
（C）將浸在於A燒杯之試片置入B燒杯中，並攪拌溶液一分鐘，之後取出
/ i5 u3 P+ }! Y( `9 f8 i2 D9 r（D）將拿出的試片浸泡於100ml蒸餾水或去離子水中
（E）將浸泡於B燒杯之試片置於C燒杯中，並攪拌溶液一分鐘，之後取出
" [& R4 I# i* S4 M3 ]8 E（F）將拿出的試片浸泡於100ml蒸餾水或去離子水中
（h）在80C熱風下，使試片乾燥三分鐘

3.3    D清洗溶液
& x  Z8 h4 n( \1 `( U6 V' g. n
; o: N. ]$ k% G% m) t" U（A）在A燒杯置入待測試片，並完全浸於溶液中，攪拌溶液一分鐘後取出
（B）將拿出的試片浸泡於100ml蒸餾水或去離子水中
) q0 g' L! S' u- ?0 `! W& U3 ^（C）將浸在於A燒杯之試片置入B燒杯中，並攪拌溶液一分鐘，之後取出
1 S4 P# c* O' q% m（D）將拿出的試片浸泡於100ml蒸餾水或去離子水中
（E）將浸泡於B燒杯之試片置於C燒杯中，並攪拌溶液一分鐘，之後取出
* H/ p) h8 |2 L6 d$ h, P
* @+ n/ Q8 w% @& v% m3 e8 o8 FF）將拿出的試片浸泡於100ml蒸餾水或去離子水中
7 U) ^  n8 h. q（h）在80C熱風下，使試片乾燥三分鐘
; y0 E8 i$ O. B& J
  Z( i/ m( z% W% M' i5.    量測清洗性之方法如下
, j! Z. g* e. m, `2 N6 Q（1）以下步驟是使用電傳導量測電橋所需遵守的
; x1 ~2 e- P( v* G3 ?（A）將試片懸吊在燒杯中
% O$ ]+ u9 j1 B! E（B）選擇適當大小之漏斗於燒杯中
$ t7 E* A8 l+ }; W（C）均勻的倒入清洗測試溶液，直至試片上至1.55ml/cm2分佈
（D）定義試片的正反面
  r; X9 s7 `+ B% O  g' i; [（E）清洗9片試片，利用電傳導量測電橋量測待測溶液中的相對電阻
1 L" H! r# I7 c5 S6 e1 p* d" b（F）將量測之電阻值依ANNEX13中圖1轉換成單位面積NaCl含量

9 P0 m* @* {" {5 y+ Y, K% S（2）以靜態法所量測的清洗性需依照靜態量測步驟
（3）以動態法所量測的清洗性需依照動態量測步驟

) _0 B. |8 v% k. O, S/ U( _6.    清洗性評估：清洗性由轉換後之ug NaCl/ cm2的含量多寡來評估。

( N4 w0 x$ B( A9 k! F, w電子遷移測試
# E9 x8 B& q0 q$ E, A% @2 ?
1. 範圍 本測試係規範高溫及潮濕狀態下，錫膏產生電子遷移的評估方式
3 t# G: n2 O2 E9 T+ p/ e
2. 測試方法 待測錫膏在基材上熔化後，外加電壓於電極間，查驗電子產生遷移與否

* P; `) X8 M4 k7 l- q" N0 ?3. 設置、儀器及使用材料
% J! G1 A. u* {- q* `
/ P4 `0 J+ W8 w7 [3.1溫濕控制槽 溫濕控制器須可滿足溫度40±2OC、85±2OC，及相對濕度85-90%及90-95%之間的要求。
. @  _4 `/ A/ d/ i. D& w! N3.2絕緣電阻計 此量測儀器須承受電壓DC100V，並能讀取1014Ω之高電阻值
4 t+ Z! B4 ^% [1 l+ c3.3加熱鐵板 加熱鐵板應能加熱至260±3 OC
* g' l% P/ i& x! C9 U( l3.4烘乾機 烘乾機應能設定並維持在60±3 OC 及150±3 OC
7 a6 }, y( E& e' B, K3.5測試基材 梳子形的電子基材（JIS Z 3197）如Annex3中圖1所示

4 測試條件與測試片
4.1測試條件如下：
（C）    溫度：40+-2C，相對濕度90-95%，維持168小時
（D）    溫度：85+-2C，相對濕度85-90%，維持168小時

4.2測試基材之預處理如下：
5 z: K/ W  X3 Q& y) M（F）    在蒸餾水中以軟毛刷將測試基材刷淨
% ?( ^: u5 k( }+ ]（G）    以蒸餾水噴淨試片
（H）    在IPA中以軟毛刷將測試基材刷淨
' ?$ @6 H* Q" q3 [! R+ ~: ?3 k: r（I）     將試片浸泡在IPA中
+ y1 T; Y! X5 \$ @7 z（J）    將基材置於烘乾機60 OC 下乾燥3小時

2 [- z) k1 E0 [% F8 T/ K4.3 試片之預處理

" I( T0 T4 U# v# X（A）錫膏塗覆方法 以厚度約100um之鋼版，印刷厚度約100um之均勻錫膏，使梳子狀之電極部份能順利成形
4 U2 ]: D) n# V: w$ b4 \6 f（B）錫膏熔化 錫膏在烘乾機中150C乾燥2分鐘，隨後在加熱鐵板上260C熔化約30秒，至少使錫膏熔化15秒以上，待其冷卻後，測試片便完成。
3 m: a0 A7 T  x$ o  K（在印刷與迴焊之後，以放大鏡檢查試片有無灰塵，若有則以鑷子移除異物）
( l: V4 `' |* i（C）須清洗試片之準備方法 清潔含水溶性之松香之試片，以ANNEX13中所述方法處理之
+ o/ Z5 B  J* K8 r" m9 `" T2 W: f! p2 C/ W5.     測試步驟
) X; F7 a$ K2 K1 A; U% S
（1）    電極外接線路，依4.1裝設條件，勿使雜質掉落在梳形電極線路上，並將試片置於乾淨之恆溫恆濕箱中，於電極間施以DC45-50V電壓
/ E/ v( u4 G, |: y5 J2 r（2）    試片於1000小時取出恆溫恆濕箱，並利用放大鏡觀察（以20倍或以上檢查遷移情形）
( s" d# k% F2 E6 z& [4 t9 y( l; y" W
6.     每組作三個試片
: j- D9 z/ ?4 E2 u# A' h" r5 n. Q
+ w+ d+ P. r# C! i7.    評估方式 ：以放大鏡觀察是否產生樹枝狀的金屬，是則表示電極間有電子遷移的情形。
& V/ S+ M! y- V7 z錫膏測試規範表格

+ M& Z: l1 }& K1.    範圍 本測試係規範錫膏測試規範表格之相關事項

2.    錫膏測試評估表格 包含下列數項：
' n9 o; V; x3 g+ _9 W
# }% V0 E/ D* f% y（1）    合金組成   
（2）    FLUX含量 ：%
  _$ f  o* ~2 @7 ?' O' ^( |/ Z（3）    氯化物含量 ：%
（4）    剪切速率D1時的黏滯度：以螺旋法D1量測黏滯度時，剪應變速率為6S-1（旋轉速度相當於10RPM），或是以圓盤法之旋轉狹縫量測黏滯度時剪應變速率為5S-1（旋轉速度相當於2.5RPM）
: V3 [* `0 P5 j（5）    錫球試驗
8 {4 A" p3 X; M( I) x3 r7 ]（6）    印刷性
7 r1 r" p% u7 L6 u: ^' p  L' L（7）    流動性
8 i8 Y8 f8 L. G/ K. e4 F( o（A）黏滯度-剪速度特徵
( D9 e. a- [/ Q4 a; [" i3 W（B）觸變性指數
* V0 Y3 Q& I" y" l, p& q（C）黏滯性-非回復率
8 F, \" g6 T# t! q5 {" `  n（ D）Nozzle流動性之流動特徵
7 s$ b7 Y' [3 s0 j: Z; q
（8）    錫膏坍塌試驗
* O6 x" A6 T( |0 T  \( u& v, X（A）    印刷後的坍塌試驗
（B）    加熱過程的坍塌試驗
* u4 h9 D; k$ G6 m# Y) M
# m8 ~# F  k# E3 D  a9 y（9）    黏滯力
（10）    潤濕與抗潤濕性
（11）    迴焊後錫膏殘留物之黏滯力
（12）    清洗性
（13）    錫膏殘留物之腐蝕性
. M" h% u" S- S8 m+ L. {) ?" z（14）    絕緣電阻測試
) B* O4 J2 D9 b* A8 u; M（15）    電子遷移測試

do0811

感謝老師提供如此詳細的資料，謝謝。